Microchip Technology Inc.(美国微芯科技公司)发布新一代相位噪声分析仪,产品型号为53100A。这款相位噪声测试仪可帮助科研人员和制造工程师更精确地测量频率信号,包括由原子钟产生的信号,以及由其他高频参考模块和子系统产生的信号。
新推出的53100A型相位噪声分析仪专为工程师和科研人员研制。他们的工作依赖于对来自5G网络、数据中心、商用及军用飞机、空间飞行器、通讯卫星和计量测试应用的频率信号进行精确测量。这款全新的测试仪器能够检测高达200 MHz的射频信号,可快速捕获频率信号,并对相位噪声、频率抖动、艾伦偏差(ADEV)和时间偏差等进行快速而精确的表征。只需一台分析仪和几分钟时间,便可对所关心频率的所有特征进行表征。
53100A型相位噪声分析仪支持多种配置,可用一种参考信号同时检测三种不同的待测信号,测试能力和稳定性均有提升。该设备体积小巧,尺寸仅为344 x 215 x 91毫米(13.5 x 8.5 x 3.6英寸),很容易集成在各种自动测试设备(ATE)系统中,同时具备足够强大的测量能力,可胜任实验室级别的计量测试工作。53100A型分析仪的接口向下兼容,与Microchip的51xxA系列测试套件共享相同的命令和数据流,从而大大降低了对现有ATE基础架构进行重新设计的需求。 53100A型相位噪声分析仪使用非常灵活,参考设备可通过前面板接入,频标可以与待测设备不同,这样就可以用同一个参考来表征不同的振荡器。可用做参考的设备包括铷原子频标(比如Microchip的8040C-LN)或者石英振荡器(如Microchip的1000C型恒温晶体振荡器(OCXO)),同时也支持其他厂商的精确振荡器产品。 53100A型相位噪声分析仪现已上市。
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原文标题:【世说芯品】Microchip推出53100A型相位噪声分析仪,助力更精确表征各种振荡器
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