0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

在Vivado下如何判断芯片是多die芯片

电子工程师 来源:公众号Lauren的FPGA 作者:LaurenGao 2019-02-19 10:16 次阅读

1. 什么是SSI芯片

SSI是Stacked Silicon Interconnect的缩写。SSI芯片其实就是我们通常所说的多die芯片。其基本结构如下图所示。可以看到SSI芯片的基本单元是SLR(Super Logic Region),也就是我们所说的die。SLR之间通过Interposer“粘合”在一起。每个SLR可看做一片小规模FPGA

2. 如何从芯片型号上判断FPGA是否是多die芯片?

在芯片选型手册上,有如下图所示说明,根据图中红色方框标记可判断该芯片是否是SSI芯片。

3. UltraScale和UltraScale+系列有哪些芯片是SSI芯片?

总的来说,UltraScale+大部分都是多die芯片,如下图所示。图中还可以看到每个芯片所包含的SLR的个数以及每个SLR的大小。SLR的大小以时钟区域(Clock Region)衡量,例如,VU5P有两个SLR,每个SLR的宽度为6,高度为5,所以共有6x5也就是30个Clock Region。同时,还可以看到每个SLR的大小是一致的。

图片来源:Table 19,ds890

4. 在Vivado下如何判断芯片是多die芯片?

只要获知芯片的具体型号,在Vivado Tcl Console中执行如下图所示命令即可获得该芯片所包含的SLR的个数。例如,对于XCVU5P,属性SLRS的返回值为2,说明该芯片有两个SLR,故其是多die芯片;而对于XCVU3P,返回值为1,说明该芯片只有一个SLR,故其是单die芯片。

5. 多die芯片的每个SLR地位一样吗?

多die芯片的每个SLR其结构基本是一致的,都包含CLB、Block RAMDSP和GT等。但这些SLR的地位是不一样的。这其中只有一个SLR是Master SLR。通过如下图所示的命令可获取Master SLR(需要在打开的工程中或DCP中执行该命令)。通常SLR0为Master SLR。用于配置FPGA的电路、DNA_PORT和EFUSE_USER只存在于Master SLR中。

6. SLR之间是如何互连的?

这是多die芯片设计中的一个重要问题。SLR之间通过专用布线资源SLL(Super Long Line)互连。SLL的个数是有限的。以XCVU5P为例,可通过如下命令获取SLL的个数。这在设计初期是非常重要的。需要根据此数值评估跨die网线个数是否合理。跨die网线过多很可能造成布线拥塞,进而影响时序收敛。

7. 跨die时钟需要特殊处理吗?

对于SSI器件,Interposer上分布了专用的全局时钟走线,因此,对于跨die时钟并不需要特殊处理,同时该时钟也不会占用SLL。

8. Block RAM和DSP48能否跨die级联?

以DSP48为例,其有专门的级联端口,例如PCOUT/PCIN。因此,相邻的两个DSP48级联时,会使用专用的级联布线资源。但是,这种布线资源仅限于die内。类似地,Block RAM、Carry Chain等在die内可使用固有的级联布线资源。

9. 对于多die芯片,如何评估资源利用率?

器件选型阶段需要根据设计规模选择合适的芯片。这个阶段,需要根据整个设计的资源利用率确定芯片规模。一旦选定SSI器件,就要及早考虑模块划分,也就是如何将设计分配到每个die内,使每个die的资源利用率尽可能平衡,此时就要考虑每个die的资源利用率,避免出现某个die某一资源利用率过高以至于出现拥塞,而另一个die该资源利用率偏低的情形。这一工作要在设计初期完成,本质上就是要设计好合理的数据流,从而达到两个目的:每个die的资源利用率比较均衡;跨die网线个数合理。


声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • FPGA
    +关注

    关注

    1624

    文章

    21603

    浏览量

    601067
  • 芯片
    +关注

    关注

    452

    文章

    50142

    浏览量

    420455
  • SSI
    SSI
    +关注

    关注

    0

    文章

    38

    浏览量

    19193

原文标题:9个关于SSI芯片的必知问题

文章出处:【微信号:Lauren_FPGA,微信公众号:FPGA技术驿站】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    Die Bonding 芯片键合的主要方法和工艺

    共读好书Die Bound芯片键合,是封装基板上安装芯片的工艺方法。本文详细介绍一几种主要的芯片
    的头像 发表于 11-01 11:08 58次阅读

    国产芯片为什么质量问题

    芯片
    芯广场
    发布于 :2024年10月31日 18:01:29

    电子封装 | Die Bonding 芯片键合的主要方法和工艺

    DieBound芯片键合,是封装基板上安装芯片的工艺方法。本文详细介绍一几种主要的芯片键合的方法和工艺。什么是
    的头像 发表于 09-20 08:04 437次阅读
    电子封装 | <b class='flag-5'>Die</b> Bonding <b class='flag-5'>芯片</b>键合的主要方法和工艺

    如何判断LMH6703MF芯片引脚?

    我买了两个LMH6703MF芯片,SOT-23-6封装,芯片非常小而且芯片上没有明显的标记告诉我那个是1号引脚?该怎么判断
    发表于 09-14 09:26

    快速串行接口(FSI)芯片互连中的应用

    电子发烧友网站提供《快速串行接口(FSI)芯片互连中的应用.pdf》资料免费下载
    发表于 08-27 10:18 0次下载
    快速串行接口(FSI)<b class='flag-5'>在</b><b class='flag-5'>多</b><b class='flag-5'>芯片</b>互连中的应用

    DDR4的单、双DIE兼容,不做仿真行不行?

    丝毫没有放松,首先对一驱五拓扑的单DIE颗粒方案进行优化。熟悉高速先生文章的同学一定还记得,对于一驱Clamshell拓扑而言,反射会在靠近主控芯片处的近端颗粒处积累,因此,我们会重点关注信号质量较差的近
    发表于 08-05 17:05

    新思科技面向英特尔代工推出可量产的裸晶芯片设计参考流程,加速芯片创新

    3DIC Compiler协同设计与分析解决方案结合新思科技IP,加速英特尔代工EMIB技术的异构集成 摘要: 新思科技人工智能(AI)驱动型裸晶芯片(Multi-die)设计参考流程已扩展至
    发表于 07-09 13:42 751次阅读

    用玻璃,造芯片

    来源:国芯网,谢谢 编辑:感知芯视界 Link 6月3日消息,据外媒报道,半导体技术竞争日益激烈的背景,英特尔和三星正寻求通过采用玻璃芯片技术来挑战台积电地位! 了解芯片制造的读者
    的头像 发表于 06-05 09:06 238次阅读

    为什么要进行芯片测试?芯片测试什么环节进行?

    WAT需要标注出测试未通过的裸片(die),只需要封装测试通过的die。 FT是测试已经封装好的芯片(chip),不合格品检出。WAT和FT很多项目是重复的,FT一些功能性测试
    发表于 04-17 11:37 691次阅读
    为什么要进行<b class='flag-5'>芯片</b>测试?<b class='flag-5'>芯片</b>测试<b class='flag-5'>在</b>什么环节进行?

    集成芯片引脚的判断方法

    请注意,不同的芯片类型和封装方式可能会有不同的引脚排列和标识方法。因此,判断引脚时,应首先了解芯片的具体型号和封装方式,然后结合上述方法进行判断
    的头像 发表于 03-19 16:13 2175次阅读

    die,device和chip的定义和区别

    半导体行业中,“die”,“device”,和“chip”这三个术语都可以用来指代芯片
    的头像 发表于 02-23 18:26 6720次阅读

    如何判断LM358芯片是否损坏?

    如何判断LM358芯片是否损坏? LM358运放的内部简化电路图 LM358是一款双运放芯片,常用于放大和滤波器电路。当芯片损坏时,可能会导致输出不正常,电流泄漏,甚至完全失效。下面将
    的头像 发表于 02-02 13:57 7862次阅读
    如何<b class='flag-5'>判断</b>LM358<b class='flag-5'>芯片</b>是否损坏?

    芯砺智能Chiplet Die-to-Die互连IP芯片成功回片

    芯砺智能近日宣布,其全自研的Chiplet Die-to-Die互连IP(CL-Link)芯片一次性流片成功并顺利点亮。这一重大突破标志着芯砺智能在异构集成芯片领域取得了领先地位,为人工智能时代的算力基础设施建设提供了更加多元灵
    的头像 发表于 01-18 16:03 1014次阅读

    使用UCIe IP确保Die系统可靠性

    Die(晶粒)系统由多个专用功能晶粒(或小芯片)组成,这些晶粒组装在同一封装中,以创建完整的系统。多晶粒系统最近已经成为克服摩尔定律放缓的解决方案,生产保证较高良率,提供一种扩展封装后芯片
    的头像 发表于 11-16 17:29 558次阅读
    使用UCIe IP确保<b class='flag-5'>多</b><b class='flag-5'>Die</b>系统可靠性

    使用JTAG仿真器vivado环境抓信号时报错咋办?

    使用JTAG仿真器vivado环境抓信号时,报如下错误:
    的头像 发表于 11-14 10:37 3697次阅读