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电子发烧友网>模拟技术>Si/SiC和GaN HEMT器件的结构比较!

Si/SiC和GaN HEMT器件的结构比较!

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关于SiC-SBD,前面介绍了其特性、与Si二极管的比较、及当前可供应的产品。本篇将汇总之前的内容,并探讨SiC-SBD的优势。
2023-02-08 13:43:18705

用热反射测温技术测量GaN HEMT的瞬态温度

第三代半导体器件CaN高电子迁移率晶体管(HEMT)具备较高的功率密度,同时具有较强的自热效应,在大功率工作条件下会产生较高的结温。根据半导体器件可靠性理论,器件的工作温度、性能及可靠性有着极为密切的联系,因此准确检测GaN HEMT的温度就显得极为重要。
2023-02-13 09:27:521084

AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件直流特性

关态漏电是制约HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用绝缘栅HEMT器件结构可以有效减小器件关态漏电。图1给出了S-HEMT、MIS-HEMT、MOS-HEMT三种器件结构的关态栅漏电曲线,漏极电压Vd设定在0V,反向栅极电压从0V扫描至-10V,正向栅电压扫描至5V。
2023-02-14 09:18:541887

AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

绝缘栅和肖特基栅HEMT器件结构如图1所示, AlGaN/GaN异质结采用MOCVD技术在2英寸c面蓝宝石衬底上外延得到,由下往上依次为180nm高温AlN成核层、13μm非掺杂GaN缓冲层、1nm AlN界面插入层、22nm AlGaN势垒层、及2nm GaN帽层,势垒层铝组分设定为30%。
2023-02-14 09:31:161496

GaN HEMT外延材料表征技术研究进展

晶体管 ( HEMT) 的性能,不同材料特征的表征需要不同的测量工具和 技术,进而呈现器件性能的优劣。综述了 GaN HEMT 外延材料的表征技术,详细介绍了几种表 征技术的应用场景和近年来国内外的相关
2023-02-20 11:47:22876

SiC-SBD与Si-PND的正向电压比较

二极管的正向电压VF无限接近零、对温度稳定是比较理想的,但事实是不是零、并会受温度影响而变动。为了使大家了解SiC-SBD的VF特性,下面与Si-PND的FRD(快速恢复二极管)进行比较
2023-02-22 09:18:59140

SiCSi的应用 各种SiC功率器件的特性

碳化硅(SiC器件是一种新兴的技术,具有传统硅所缺乏的多种特性。SiC具有比Si更宽的带隙,允许更高的电压阻断,并使其适用于高功率和高电压应用。此外,SiC还具有比Si更低的热阻,这意味着它可以更有效地散热,具有更高的可靠性。
2023-04-13 11:01:161469

什么是GaN氮化镓?SiGaNSiC应用对比

由于 GaN 具有更小的晶体管、更短的电流路径、超低的电阻和电容等优势,GaN 充电器的运行速度,比传统硅器件要快 100 倍。GaN 在电力电子领域主要优势在于高效率、低损耗与高频率,GaN 材料的这一特性令其在充电器行业大放异彩。
2023-04-25 15:08:212338

绝缘栅SiGaN平面器件关键工艺

传统GaN-on-Si功率器件欧姆接触主要采用Ti/Al/X/Au多层金属体系,其中X金属可为Ni,Mo,PT,Ti等。这种传统有Au欧姆接触通常采用高温退火工艺(>800℃),第1层Ti在常温下
2023-04-29 16:46:00735

绝缘栅GaN基平面功率开关器件技术

GaN基功率开关器件能实现优异的电能转换效率和工作频率,得益于平面型AlGaN/GaN异质结构中高浓度、高迁移率的二维电子气(2DEG)。图1示出绝缘栅GaN基平面功率开关的核心器件增强型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本结构
2023-04-29 16:50:00793

GaN HEMT大信号模型

GaN HEMT 为功率放大器设计者提供了对 LDMOS、GaAs 和 SiC 技术的许多改进。更有利的特性包括高电压操作、高击穿电压、功率密度高达 8W/mm、fT 高达 25 GHz 和低静态
2023-05-24 09:40:011375

GaN HEMT工艺全流程

GaN HEMT(高电子迁移率晶体管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半导体,具有低工作电阻和高抗损性,有望应用于大功率和高频电子设备。
2023-05-25 15:14:061222

GaN单晶衬底显著改善HEMT器件电流崩塌效应

最重要的器件之一,在功率器件和射频器件领域拥有广泛的应用前景。HEMT器件通常是在硅(Si)、蓝宝石(Al2O3)、碳化硅(SiC)等异质衬底上通过金属有机气象外延(MOCVD)进行外延制备。由于异质
2023-06-14 14:00:551654

SiC产品和Si产品的两点比较 SiC肖特基势垒二极管的特征

我们从SiC肖特基势垒二极管(以下简称“SBD”)的结构开始介绍。如下图所示,为了形成肖特基势垒,将半导体SiC与金属相接合(肖特基结)。结构Si肖特基势垒二极管基本相同,其重要特征也是具备高速特性。
2023-07-18 09:47:30236

GaNSiC功率器件的特点 GaNSiC的技术挑战

 SiCGaN被称为“宽带隙半导体”(WBG),因为将这些材料的电子从价带炸毁到导带所需的能量:而在硅的情况下,该能量为1.1eV,SiC(碳化硅)为3.3eV,GaN(氮化镓)为3.4eV。这导致了更高的适用击穿电压,在某些应用中可以达到1200-1700V。
2023-08-09 10:23:39431

一文看懂SiC功率器件

一、什么是SiC半导体?1.SiC材料的物性和特征SiC(碳化硅)是一种由Si(硅)和C(碳)构成的化合物半导体材料。不仅绝缘击穿场强是Si的10倍,带隙是Si的3倍,而且在器件制作时可以在较宽
2023-08-21 17:14:581145

AlGaN/GaN结构的氧基数字蚀刻

宽带隙GaN基高电子迁移率晶体管(HEMTs)和场效应晶体管(fet)能够提供比传统Si基高功率器件更高的击穿电压和电子迁移率。常关GaN非常需要HEMT来降低功率并简化电路和系统架构,这是GaN HEMT技术的主要挑战之一。凹进的AlGaN/GaN结构是实现常关操作的有用选择之一。
2023-10-10 16:21:11293

GaN HEMT器件结构解析

了很多关注,由宽禁带半导体所制备的功率器件可作为具有低导通电阻的高压开关,可以取代硅功率器件。此外,宽禁带异质结场效应晶体管具有较高的载流子密度和二维电子气通道,以及较大的临界电场强度等物理特性,其中的氮化镓 (Gallium Nitride, GaN)已被认为可制备极佳的功率开关。
2023-11-09 11:26:43439

GaN HEMT为什么不能做成低压器件

GaN HEMT为什么不能做成低压器件  GaN HEMT(氮化镓高电子迁移率晶体管)是一种迅速崭露头角的高频功率器件,具有很高的电子迁移率、大的电子饱和漂移速度、高的饱和电子流动速度以及较低的电阻
2023-12-07 17:27:20337

微波GaN HEMT 技术面临的挑战

报告内容包含: 微带WBG MMIC工艺 GaN HEMT 结构的生长 GaN HEMT 技术面临的挑战
2023-12-14 11:06:58178

功率电子器件从硅(Si)到碳化硅(SiC)的过渡

功率等级的功率转换、更快的开关速度、传热效率上也优于硅材料。 本篇博客探讨了SiC材料如何提升产品性能以超越基于硅材料的领域,从而为我们全新的数字世界创造下一代解决方案。 硅基MOSFET、碳化硅(SiC)MOSFET、氮化镓(GaNHEMT
2023-12-21 10:55:02182

氮化镓功率器件结构和原理

晶体管)结构GaN HEMT由以下主要部分组成: 衬底:氮化镓功率器件的衬底采用高热导率的材料,如氮化硅(Si3N4),以提高器件的热扩散率和散热能力。 二维电子气层:氮化镓衬底上生长一层氮化镓,形成二维电子气层。GaN材料的禁带宽度大,由于
2024-01-09 18:06:41667

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