在导通数据中,原本2,742µJ的开关损耗变为1,690µJ,损耗减少了约38%。在关断数据中也从2,039µJ降至1,462µJ,损耗减少了约30%。
2020-07-17 17:47:44949 MOSFET/IGBT的开关损耗测试是电源调试中非常关键的环节,但很多工程师对开关损耗的测量还停留在人工计算的感性认知上,PFC MOSFET的开关损耗更是只能依据口口相传的经验反复摸索,那么该如何量化评估呢?
2022-10-19 10:39:231504 MOS 管的开关损耗对MOS 管的选型和热评估有着重要的作用,尤其是在高频电路中,比如开关电源,逆变电路等。
2023-07-23 14:17:001217 的开关损耗测试是电源调试中非常关键的环节,开关损耗测试对于器件评估非常关键,但很多工程师对开关损耗的测量还停留在人工计算的感性认知上。电源工程师们都知道开关MOS在整个电源系统里面的损耗占比是不小的,开关
2024-01-20 17:08:06916 如图片所示,为什么MOS管的开关损耗(开通和关断过程中)的损耗是这样算的,那个72pF应该是MOS的输入电容,2.5A是开关电源限制的平均电流
2018-10-11 10:21:49
MOSFET进入电阻区,此时Vds彻底降下来,开通结束。由于米勒电容阻止了Vgs的上升,从而也就阻止了Vds的下降,这样就会使损耗的时间加长。(Vgs上升,则导通电阻下降,从而Vds下降)。
2021-01-27 15:15:03
开关电源 MOS管损耗MOS管开关电源损耗开关模式电源(Switch Mode Power Supply,简称SMPS),又称交换式电源、开关变换器,是一种高频化电能转换装置,是电源供应器的一种。其
2021-10-29 09:16:45
-请问各位专家,我是个电源新手,刚开始接触MOS管。现在又些问题,开关损耗主要是导通和关断这两个过程,其它损耗可忽略吗?
2019-06-27 09:10:01
规格书查找得到。 6、Coss电容的泄放损耗Pds Coss电容的泄放损耗,指MOS输出电容Coss截止期间储蓄的电场能于导同期间在漏源极上的泄放损耗。 Coss电容的泄放损耗计算:首先须计算或
2020-06-28 17:48:13
MOS管的开关损耗测试是电源调试中非常关键的环节,但很多工程师对开关损耗的测量还停留在人工计算的感性认知上,PFCMOS管的开关损耗更是只能依据口口相传的经验反复摸索,那么该如何量化评估呢
2018-11-09 11:43:12
,不需要稳压二极管钳制。米勒振荡若只是引起GS绝缘层击穿,那么加稳压二极管很容易解决,问题的关键在于,米勒振荡往往引起二次开关,也就是说,导通了又关闭又导通,多次开关,多次开关带来的直接效应,就是开关损耗
2018-11-20 16:00:00
本帖最后由 小小的大太阳 于 2017-5-31 10:06 编辑
MOS管的导通损耗影响最大的就是Rds,而开关损耗好像不仅仅和开关的频率有关,与MOS管的结电容,输入电容,输出电容都有关系吧?具体的关系是什么?有没有具体计算开关损耗的公式?
2017-05-31 10:04:51
电源工程师知道,整个电源系统中开关MOS的损耗比不小. 讨论最多的是导通损耗和关断损耗,因为这两种损耗与传导损耗或驱动损耗不同,因为它很直观,所以有些人对其计算仍然有些困惑.今天,我们将详细分析
2021-10-29 08:43:49
MOS管开通损耗只要不是软开关,一般都是比较大的。假如开关频率80KHZ开关电源中,由于有弥勒电容,如果关断速度够快是不是MOS管的关断损耗都算软关闭,损耗接近0?另外开通和关闭损耗的比例是多少。请大神赐教,越详细越好。
2021-09-11 23:56:46
要提高开关电源的效率,就必须分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。这些损耗通常会在有损元器件中同时出现,下面将分别讨论。 01与功率
2020-08-27 08:07:20
要提高开关电源的效率,就必须分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。这些损耗通常会在有损元器件中同时出现,下面将分别讨论。 与功率
2023-03-16 16:37:04
要提高开关电源的效率,就必须分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。这些损耗通常会在有损元器件中同时出现。
2021-03-11 06:04:00
分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。这些损耗通常会在有损元器件中同时出现,下面将分别讨论。与功率开关有关的损耗功率开关是典型的开关
2019-07-01 10:20:34
3、开关动态损耗 由于开关损耗是由开关的非理想状态引起的,很难估算MOSFET 和二极管的开关损耗,器件从完全导通到完全关闭或从完全关闭到完全导通需要一定时间,也称作死区时间,在这个过程中会产生
2021-12-29 07:52:21
一、开关损耗包括开通损耗和关断损耗两种。开通损耗是指功率管从截止到导通时所产生的功率损耗;关断损耗是指功率管从导通到截止时所产生的功率损耗。二、开关损耗原理分析:(1)、非理想的开关管在开通时,开关
2021-10-29 07:10:32
SiC-MOSFET和SiC-SBD(肖特基势垒二极管)组成的类型,也有仅以SiC-MOSFET组成的类型。与Si-IGBT功率模块相比,开关损耗大大降低处理大电流的功率模块中,Si的IGBT与FRD
2018-12-04 10:14:32
在BUCK型开关电源中,如果没有损耗,那效率就是100%,但这是不可能的,BUCK型开关电源中主要的损耗是导通损耗和交流开关损耗,导通损耗主要是指MOS管导通后的损耗和肖特基二极管导通的损耗(是指完
2021-10-29 08:08:29
形。 3、逆变桥动态过程分析 1)开通时刻电流由上管IGBT→电感或者负载→N线→上母线电容; 2)关断时刻电感进行续流→负载→N线→下母线电容→下二极管。 4、IGBT模块损耗组成部分 IGBT
2023-02-24 16:47:34
直流传导损耗采用理想组件(导通状态下零压降和零开关损耗)时,理想降压转换器的效率为100%。而实际上,功耗始终与每个功率元件相关联。SMPS中有两种类型的损耗:直流传导损耗和交流开关损耗。降压转换器的传导损耗主要来自于晶体管Q1、二极管D1和电感L在传导电流时产生的压降。为...
2021-10-29 06:18:15
时间trr快(可高速开关)・trr特性没有温度依赖性・低VF(第二代SBD)下面介绍这些特征在使用方面发挥的优势。大幅降低开关损耗SiC-SBD与Si二极管相比,大幅改善了反向恢复时间trr。右侧的图表为
2019-03-27 06:20:11
我用IGBT设计了D类功放,用的管子是FGH60N60SFD,开关频率为300kHz,上网查资料发现IGBT的开关损耗为图中公式,查找FGH60N60SFD文档后计算开关损耗为300000*2.46/1000/3.14=235W,我想问一下,开关损耗真有这么大吗,是设计的不合理还是我计算错了?
2019-07-25 10:16:28
损耗与减小米勒平台区间的损耗方法讨论9-降低开关损耗带来的其它问题分析及高压 MOSFET 栅极电阻取值10-MOSFET 栅极电阻与米勒平台时间取值及桥式电路分析11-桥式电路管子误触发因素讨论
2021-09-08 09:52:54
本帖最后由 张飞电子学院鲁肃 于 2021-1-30 13:21 编辑
本文详细分析计算功率MOSFET开关损耗,并论述实际状态下功率MOSFET的开通过程和自然零电压关断的过程,从而使电子
2021-01-30 13:20:31
振荡。防止mos管烧毁。过快的充电会导致激烈的米勒震荡,但过慢的充电虽减小了震荡,但会延长开关从而增加开关损耗。Mos开通过程源级和漏级间等效电阻相当于从无穷大电阻到阻值很小的导通内阻(导通内阻一般
2019-07-26 07:00:00
讨论交流,真正学到知识,现在增加提问,参与回答者赠送张飞实战电子1部精品课程以下是今日问题:1、开关损耗和续流损耗和哪些因素有关系?2、MOS管在H桥电路中体二极管什么时候会续流?`
2021-06-09 09:08:41
讨论交流,真正学到知识,现在增加提问,参与回答者赠送张飞实战电子1部精品课程以下是今日问题:1、MOS管在H桥电路中怎么解决续流损耗:A、热源进行分配,大家一起承担,B、分时载波,一会上管载波,一会
2021-06-15 09:25:50
分布电容引起。改善方法:在绕组层与层之间加绝缘胶带,来减少层间分布电容。08、开关管MOSFET上的损耗mos损耗包括:导通损耗,开关损耗,驱动损耗。其中在待机状态下最大的损耗就是开关损耗。改善办法
2021-04-09 14:18:40
阻小的MOS管40N120会降低导通损耗。 MOS在开启和关闭时,一定不是瞬间完成。MOS两端的电压有一个下降的过程,流过的电流有一个上升的过程。在此期间,MOS管的损失是电压和电流的乘积,称为开关损失
2021-12-29 16:53:46
像2301那种mos导通后,VDS电压是0吗?也就是没有损耗?仿真是没有损耗的
2020-04-16 15:44:28
是基于技术规格书中的规格值的比较,Eon为开关导通损耗,Eoff为开关关断损耗、Err为恢复损耗。全SiC功率模块的Eon和Eoff都显著低于IGBT,至于Err,由于几乎没有Irr而极其微小。结论是开关损耗
2018-11-27 16:37:30
:RGWxx65C系列的亮点>使用SiC SBD作为续流二极管的Hybrid IGBT650V耐压,IC(100℃) 30A/40A/50A有3种可选通过使用SiC SBD,显著降低了导通时的开关损耗用于xEV车载
2022-07-27 10:27:04
阻,在开关管会给出该指标,如图3所示Ts表示开关周期t1、t2表示导通状态的开始时间与结束时间 图3导通电阻与电流的关系四、开关损耗开关损耗指的是总体的能量损耗,由导通过程损耗、关闭过程损耗、导通损耗组成
2021-11-18 07:00:00
,软关断的开关称之为零电流开关。 功率开关管的软开关理想波形和硬开关波形如图1所示,由图可以看出,在硬开关状态下,功率开关管两端的电压、电流有明显的交叠区,在此交叠区内产生开关损耗;而在软开关状态下,功率开关管两端的电压、电流几乎没有交叠区,所以也就不会产生开关损耗。
2019-08-27 07:00:00
,截止损耗(漏电流引起的,这个忽略不计),还有雪崩能量损耗。只要把这些损耗控制在mos承受规格之内,mos即会正常工作,超出承受范围,即发生损坏。而开关损耗往往大于导通状态损耗(不同mos这个差距可能很大。Mos损坏主要原因:过流----------持续大电流或瞬间超大电流引起的结温过高而烧毁;过压
2021-07-05 07:19:31
导致激烈的米勒震荡,但过慢的充电虽减小了震荡,但会延长开关从而增加开关损耗。Mos开通过程源级和漏级间等效电阻相当于从无穷大电阻到阻值很小的导通内阻(导通内阻一般低压mos只有几毫欧姆)的一个转变
2020-06-26 13:11:45
公式计算:同样,关断损耗的米勒平台时间在关断损耗中占主导地位。对于两个不同的MOSFET,如A管和B管,即使A管的Qg和Ciss小于B管的,但如果A管的Crss比B管的大得多时,A管的开关损耗就有可能
2017-03-06 15:19:01
完全开通,只有导通电阻产生的导通损耗,没有开关损耗。t1-t2、t2-t3二个阶段,电流和电压产生重叠交越区,因此产生开关损耗。同时,t1-t2和t2-t3二个阶段工作于线性区,因此功率MOSFET
2017-02-24 15:05:54
如何更加深入理解MOSFET开关损耗?Coss产生开关损耗与对开关过程有什么影响?
2021-04-07 06:01:07
如何计算MOS管的损耗?
2021-11-01 08:02:22
开关MOS的损耗如何计算?
2021-03-02 08:36:47
极电压大于G极电压,MOS管寄生电容Cgd储存的电量需要在其导通时注入G极与其中的电荷中和,因MOS管完全导通后G极电压大于D极电压。米勒效应会严重增加MOS管的开通损耗。(MOS管不能很快得进入开关
2018-12-19 13:55:15
就要降低。芯片选型的时候,选择芯片工作在轻载和空载情况下会跳频(即降低空载和轻载的工作频率),MOS管要选用低栅荷的,从而降低损耗。 整流管D1损耗包括开关损耗,反向恢复损耗,导通损耗。整流管选型
2023-03-20 16:59:01
,LLC的谐振电感损耗,同步整流的MOS管损耗。等等。。。针对这些损耗,适当的减小可以提升效率。1.针对MOS管可选用开关速度快的,导通电阻低的,电路上课采用软开关。2.针对变压器:选择合适大小的磁芯
2018-09-18 09:13:29
导通损耗是指功率管还是二极管的,还是两者都有?谢谢大神的解答!
2016-01-10 16:24:49
导通(为寄生电容充电)时出现一次,而当它关闭(为寄生电容放电)时出现一次。因此,在这两种情况下估算时间t3作为MOSFET的上升和下降时间,您可使用等式4估算开关损耗:开关损耗取决于频率和输入电压
2018-08-30 15:47:38
的阻值启动损耗普通的启动方法,开关电源启动后启动电阻回路未切断,此损耗持续存在改善方法:恒流启动方式启动,启动完成后关闭启动电路降低损耗。与开关电源工作相关的损耗钳位电路损耗有放电电阻存在,mos开关管
2021-05-18 06:00:00
时,MOS管的损耗是不容忽视的一部分。下面将详细计算MOS管的损耗。2. MOS管的损耗来源2.1 MOS开关损耗MOS在开关电源中用作开关器件,顾名思义,MOS会经常的开通和关断。由于电压和电流都是
2021-07-29 06:01:56
是为密勒电容(CGD)充电。在米勒时刻期间,漏极电流在IOUT端是恒定的,而VDS从VIN开始下降。在这段时间内的功率损耗通过等式2表示:在等式3中加上总开关损耗的结果:注意,在图1中,t2比第三个时段
2018-06-05 09:39:43
功率器件损耗主要分为哪几类?什么叫栅极电荷?开关损耗和栅极电荷有什么关系?
2021-06-18 08:54:19
今天开始看电源界神作《开关电源设计》(第3版),发现第9页有个名词,叫“交流开关损耗”,不明白是什么意思,有没有哪位大虾知道它的意思啊?谢谢了!!
2013-05-28 16:29:18
详细查考的事项,但如果从栅极驱动电路中消除了LSOURCE的影响,则根据Figure 4中说明的原理,开关速度将变快。关于关断,虽然不像导通那样区别显著,但速度同样也会变快。-这就意味着开关损耗得到
2020-07-01 13:52:06
使用绝缘栅双极晶体管(IGBT)。但随着半导体技术的进步,碳化硅 (SiC) 金属氧化物半导体场效应晶体管 (MOSFET) 能够以比 IGBT 更高的频率进行开关,通过降低电阻和开关损耗来提高效率
2022-11-02 12:02:05
图1:开关损耗让我们先来看看在集成高侧MOSFET中的开关损耗。在每个开关周期开始时,驱动器开始向集成MOSFET的栅极供应电流。从第1部分,您了解到MOSFET在其终端具有寄生电容。在首个时段(图
2022-11-16 08:00:15
MOS门极功率开关元件的开关损耗受工作电压、电流、温度以及门极驱动电阻等因素影响,在测量时主要以这些物理量为参变量。但测量的非理想因素对测量结果影响是值得注意的,
2009-04-08 15:21:3232 理解功率MOSFET的开关损耗
本文详细分析计算开关损耗,并论述实际状态下功率MOSFET的开通过程和自然零电压关断的过程,从而使电子工程师知道哪个参数起主导作用并
2009-10-25 15:30:593320 为了有效解决金属-氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)在通信设备直流-48 V缓启动应用电路中出现的开关损耗失效问题,通过对MOSFET 栅极电荷、极间电容的阐述和导通过程的解剖,定位了MOSFET 开关损耗的来源,进而为缓启动电路设计优化,减少MOSFET的开关损耗提供了技术依据。
2016-01-04 14:59:0538 FPGA平台实现最小开关损耗的SVPWM算法
2016-04-13 16:12:1110 基于DSP的最小开关损耗SVPWM算法实现。
2016-04-18 09:47:497 使用示波器测量电源开关损耗。
2016-05-05 09:49:380 MOS门极功率开关元件的开关损耗受工作电压、电流、温度以及门极驱动电阻等因素影响,在测量时主要以这些物理量为参变量。但测量的非理想因素对测量结果影响是值得注意的,比如常见的管脚引线电感。本文在理论分析和实验数据基础上阐述了各寄生电感对IGBT开关损耗测量结果的影响。
2017-09-08 16:06:5221 MOSFET/IGBT的开关损耗测试是电源调试中非常关键的环节,但很多工程师对开关损耗的测量还停留在人工计算的感性认知上,PFC MOSFET的开关损耗更是只能依据口口相传的经验反复摸索,那么该如何量化评估呢?
2017-11-10 08:56:426345 1、CCM 模式开关损耗
CCM 模式与 DCM 模式的开关损耗有所不同。先讲解复杂 CCM 模式,DCM 模式很简单了。
2018-01-13 09:28:578163 要提高开关电源的效率,就必须分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。
2019-06-20 10:01:294747 一个高质量的开关电源效率高达95%,而开关电源的损耗大部分来自开关器件(MOSFET和二极管),所以正确的测量开关器件的损耗,对于效率分析是非常关键的。那我们该如何准确测量开关损耗呢?
2019-06-26 15:49:45721 一个高质量的开关电源效率高达95%,而开关电源的损耗大部分来自开关器件(MOSFET和二极管),所以正确的测量开关器件的损耗,对于效率分析是非常关键的。那我们该如何准确测量开关损耗呢?
2019-06-27 10:22:081926 一个高质量的开关电源效率高达95%,而开关电源的损耗大部分来自开关器件(MOSFET和二极管),所以正确的测量开关器件的损耗,对于效率分析是非常关键的。
2019-07-31 16:54:535929 Mosfet的损耗主要有导通损耗,关断损耗,开关损耗,容性损耗,驱动损耗
2020-01-08 08:00:0011 电源工程师们都知道开关MOS在整个电源系统里面的损耗占比是不小的,开关mos的的损耗我们谈及最多的就是开通损耗和关断损耗,由于这两个损耗不像导通损耗或驱动损耗一样那么直观,所有有部分人对于它计算还有
2021-03-24 09:45:407010 功率MOSFET的开关损耗分析。
2021-04-16 14:17:0248 一、开关损耗包括开通损耗和关断损耗两种。开通损耗是指功率管从截止到导通时所产生的功率损耗;关断损耗是指功率管从导通到截止时所产生的功率损耗。二、开关损耗原理分析:(1)、非理想的开关管在开通时,开关
2021-10-22 10:51:0611 在BUCK型开关电源中,如果没有损耗,那效率就是100%,但这是不可能的,BUCK型开关电源中主要的损耗是导通损耗和交流开关损耗,导通损耗主要是指MOS管导通后的损耗和肖特基二极管导通的损耗(是指完
2021-10-22 15:05:5925 电源工程师知道,整个电源系统中开关MOS的损耗比不小. 讨论最多的是导通损耗和关断损耗,因为这两种损耗与传导损耗或驱动损耗不同,因为它很直观,所以有些人对其计算仍然有些困惑.今天,我们将详细分析
2021-10-22 17:35:5953 ,热损耗极低。 开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点,课件开关损耗测试是至关重要的。接下来普科科技PRBTEK就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍。 上图使用MSO5配合THDP0200及TCP003
2021-11-23 15:07:571095 电源工程师们都知道开关MOS在整个电源系统里面的损耗占比是不小的,我们谈及最多的就是开通损耗和关断损耗,由于这两个损耗不像导通损耗或驱动损耗一样那么直观,所以有部分人对于它计算还有些迷茫。
2022-02-10 10:35:2314 MOS管即场效应管(MOSFET),属于压控型,是一种应用非常广泛的功率型开关元件,在开关电源、逆变器、直流电机驱动器等设备中很常见,是电力电子的核心元件。
2022-02-16 16:38:464395 开关电源内部主要损耗要提高开关电源的效率,就必须分辨和粗略估算各种损耗。开关电源内部的损耗大致可分为四个方面:开关损耗、导通损耗、附加损耗和电阻损耗。这些损耗通常会在有损元器件中同时出现,下面将分别讨论。
2022-03-21 17:31:393727 开关过程中,穿越线性区(放大区)时,电流和电压产生交叠,形成开关损耗。其中,米勒电容导致的米勒平台时间,在开关损耗中占主导作用。
2023-01-17 10:21:00978 全SiC功率模块与现有的IGBT模块相比,具有1)可大大降低开关损耗、2)开关频率越高总体损耗降低程度越显著 这两大优势。
2023-02-08 13:43:22673 从某个外企的功率放大器的测试数据上获得一个具体的感受:导通损耗60W开关损耗251。大概是1:4.5 下面是英飞凌的一个例子:可知,六个管子的总功耗是714W这跟我在项目用用的那个150A的模块试验测试得到的总功耗差不多。 导通损耗和开关损耗大概1:2
2023-02-23 09:26:4915 上一篇文章中探讨了同步整流降压转换器的功率开关--输出端MOSFET的传导损耗。本文将探讨开关节点产生的开关损耗。开关损耗:见文识意,开关损耗就是开关工作相关的损耗。在这里使用PSWH这个符号来表示。
2023-02-23 10:40:49623 全SiC功率模块与现有的功率模块相比具有SiC与生俱来的优异性能。本文将对开关损耗进行介绍,开关损耗也可以说是传统功率模块所要解决的重大课题。
2023-02-24 11:51:28496 MOSFET的栅极电荷(米勒电容)以及控制IC的驱动能力。本应用笔记将详细分析导通开关损耗以及选择开关P沟道MOSFET的标准。
2023-03-10 09:26:35557 MOS管在电源应用中作为开关用时将会导致一些不可避免的损耗,这些损耗可以分为两类。
2023-03-26 16:18:555704 CCM 模式与 DCM 模式的开关损耗有所不同。先讲解复杂 CCM 模式,DCM 模式很简单了。
2023-07-17 16:51:224680 同步buck电路的mos自举驱动可以降低mos的开关损耗吗? 同步buck电路的MOS自举驱动可以降低MOS的开关损耗 同步Buck电路是一种常见的DC/DC降压转换器,它具有高效、稳定、可靠的特点
2023-10-25 11:45:14523 使用SiC MOSFET时如何尽量降低电磁干扰和开关损耗
2023-11-23 09:08:34333 IGBT元件的损耗总和分为:通态损耗与开关损耗。开关损耗分别为开通损耗(EON)和关断损耗(EOFF)之和。
2024-01-12 09:07:171028
评论
查看更多