本文分析了 JFET SJEP120R100A 的操作和性能。这种 SiC JFET 适用于任何需要高功率和快速开关速度的应用。然而,它特别适合用于音频行业,在高端放大器中可以找到它。
简要总结
SJEP120R100A 是一种碳化硅 (SiC) 功率JFET,可正常关闭工作(参见图 1)。它具有极快的开关速度(即使在高达 150°C 的温度下,也没有尾电流),并且与标准集成电路完全兼容。使用简单的技术,它可以并行连接到其他设备。让我们探索它的主要功能:
Rds(on):0.08 欧姆(最大 0.1 欧姆);
漏源阻断电压 (BVds):1200 V;
连续漏极电流 (Tj=100° C):17 A;
连续漏极电流 (Tj=150° C):11 A;
脉冲漏极电流 (TC=25° C):30 A;
短路耐受时间:50 uS;
功耗(TC=25°C):114 W;
栅源电压 (Vgs):-10 V 至 +15 V;
工作和储存温度:-55° C 至 +150° C。
图 1:JFET SJEP120R100A 及其引脚排列
在继续进行仿真之前,用户必须首先在 Internet 上搜索组件的 SPICE 模型,然后可以直接在所选仿真器中使用该模型。或者,可以使用万用表和示波器直接在设备上进行测量。
.subckt SJEP120R100 DGS
.param R=530m ; R_gate
Rg G Gi {R} tc=-3m
Rd D Di 70m tc=8m 10u
Csd S Di 3p
Cgd G Di 43p
吉帝吉S SJEP120R100
.model SJEP120R100 njf
+ Vto=1 贝塔=10.5 B=1
+ Lambda=2m Vk=2k 阿尔法=20u
+ 是=1f N=3.4
+ Isr=1n Nr=6.8
+ Cgd=1n Cgs=755p Pb=2.6 M=0.8
+ Kf=100f Af=1
+ VtoTC=-2m BetaTCe=-0.6 Xti=86
. 结束 SJEP120R100
Rds (开)
这很可能是设计系统时要考虑的最重要因素之一。它是元件在饱和状态下为漏极和源极之间的电流流动提供的电阻。因此,在开关电源应用中,Rds (on)电阻是计算传导损耗的重要指标。开关器件的漏源电压在关断时非常高,但在导通时下降到几百毫伏。因此,随着相对散热量的减少,当这个数字尽可能低时,可以实现最佳效率。然而,即使新技术大大降低了这个值,仍然需要最低水平的阻力。即使是最好的铜线或银线也不具有零电阻。在计算电阻 Rds (on)之前,漏极电流并且必须在静态状态下测量漏源电压以获得广义结果(on)。为了进行一些测量,图 2 显示了设备饱和的通用接线图。它由以下元素组成:
V1:主电源电压200V;
V2:“栅极”驱动电压 15 V;
J1:JFET SJEP120R100A;
R1:25 欧姆电阻负载。
所有这些数据均来自组件的官方数据表中的“绝对最大额定值”值。当电路被激活时,巨大的电流从漏极流向源极,导致以下结果:
7.97 A 的漏极电流;
漏源电压为 807.7 mV;
设备耗散仅为 6.47 W;
1587 W 负载耗散(这是完全正常的);
在这种情况下,静态效率为 99.6%,这意味着所有电池电量都被负载有利地使用,而没有大量损失。
图 2:静态状态下的接线图
这个结果完全符合官方数据表中的规格。
此值可能会因其他因素而显着变化。第一个依赖项指出,Rds (on) 随着栅极电压的增加而降低,但明显在制造商的规格范围内。当栅极电压升得太高时,组件的可靠性会受到影响(参见图 3中的图表)。
图 3:Rds(on) 电阻与栅极电压的关系图
图 4:Rds(on) 电阻与结温的函数关系图
在第二个相关性中,Rds (on)随着结温的增加而增加。高温是电子设计师的大敌,尤其是在大功率领域。出于这个原因,在组件过热的情况下,始终建议应用被动和主动散热器。如图4所示, Rds (on)值通常包括在相同的工作环境和输出端施加的负载下的以下值:
-50°C:0.0510536 欧姆;
-40°C:0.056689 欧姆;
-30°C:0.0625714 欧姆;
-20°C:0.0687101 欧姆;
-10°C:0.0751157 欧姆;
0°C:0.0818013欧姆;
10°C:0.0887818欧姆;
20°C:0.0960751欧姆;
30°C:0.103702 欧姆;
40°C:0.111686 欧姆;
50°C:0.120058欧姆;
60°C:0.128852欧姆;
70°C:0.13811 欧姆;
80°C:0.147887欧姆;
90°C:0.15825欧姆;
100°C:0.169286 欧姆;
110°C:0.181111欧姆;
120°C:0.193885欧姆;
130°C:0.207841欧姆;
140°C:0.223336欧姆;
150°C:0.240983 欧姆。
该图形完全符合制造商数据表的规格。第三个相关性,如图 5 所示,表明 Rds (on)对漏极上的电流不敏感,除非在极低的负载水平下,器件在关键区域工作。
图 5:电阻 Rds(on) 与施加到漏极的负载的关系图
SiC器件速度
SiC 器件的真正性能是由它提供的,尤其是在开关应用中,它必须执行艰苦的工作才能以快速开关速率传输大量能量。SiC 器件与其直接前身有很大不同,特别是在高开关速度方面。因此,它们之前必须有高质量的驱动器条款,为它们提供必要的激活电压和电流,以及完全平滑的方形和矩形信号。在低开关速率下(参见图 6 中的图表),这些组件显然不会引起任何问题,并且负载上的电流准确地跟随栅极上的驱动信号同相。
当运行速度继续增长时,负载上的电流不再能够完全跟随栅极上的信号,原因有多种,包括:
栅极电阻增加;
门的容抗上升到不可接受的水平;
开启延迟、上升时间、关闭延迟和下降时间参数越来越高。
因此,在高运行速度下,负载上存在的电流“拐点”在上升沿,最重要的是在下降沿变得明显。在这些情况下,当大量电压和电流值重叠时,开关损耗变得无法忍受,从而增加了作为无用热量浪费的功率。
图 6:SiC 器件的开关速度对组件性能有重大影响。
结论
所有上述测量表明,在使用 SiC 器件进行开关之前,设计人员应检查电力电子系统的操作要求,并直接考虑制造商数据表上的组件规格。这是设计人员确保他们选择最佳设备的唯一方法。
审核编辑:汤梓红
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