测试方案 - T/R组件波束控制测试方案设计

　　3 测试方案

　　图3所示为本文提出的测试解决方案。要解决波控电路输入信号多且输入信号之间有着严格的时序关系这一问题，可选用可编程器件（如FPGA，CPLD）来产生需要的信号。由于在测试波控电路时需要严格控制输入高、低电平电压，因此，在测试筛选时，去掉那些因工艺制造过程造成的输入翻转电平有缺陷的电路，可编程器件输出不能直接传输给被测器件，需要加一级电平转换驱动电路，才能满足波控电路输入测试要求。

　　图3 波束控制电路测试方案

　　波束控制电路中最重要的参数就是功能测试的结果。由于输出通道较多，逻辑关系比较复杂，测试向量较多，测试时无法穷举所有逻辑关系，在实际测试时，常常选用部分真值表作为功能判断依据。表1为一个常见的波控电路真值表，这种表格形式便于测试判断。

　　表1 波束控制电路真值表

　　显然，对于这种逻辑关系的判断，最好的方式是采用现场可编程器件。可编程器件具有较多的IO资源，而且内部有一定的储存空间，还可以进行逻辑运算，提高测试效率。

　　一般来说，波束控制电路输出与可编程器件之间不兼容，不能直接连接，因此需要选择一种方式解决电平不兼容的问题。有两种比较简单的方式：一种是采用电阻网络，另一种是采用电平转换接口芯片。这两种方式各有优缺点：电阻网络结构简单，成本低，但是灵活性差；电平转换接口芯片相对复杂一些，成本也相应较高，但是设计灵活。

　　本文推荐采用第二种方法，因为波束控制芯片输出模式很可能会有很多种，比如0~-5V输出，或0~5V输出，或两者皆有。利用比较器实现电平转换是比较好的选择。

　　至于时间参数及一些静态参数的判断，可以通过GPIB程控示波器和数字万用表直接进行测试，从而保证参数的测试精度。