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电子发烧友网>制造/封装>史密斯英特康推出适用于200µm间距的晶圆级封装测试头Volta 200 系列

史密斯英特康推出适用于200µm间距的晶圆级封装测试头Volta 200 系列

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功率器件测试封装成品测试介绍

AP-200,中间为晶体管检测仪IWATSU CS-10105C,右边为控制用计算机。三部分组成了一个测试系统。 下图所示为探针台,主要对进行电学检测,分为载物台、探卡、绝缘气体供应设备这几部分,载物台用于的放置,可以兼容4~8寸的,上面有
2025-01-14 09:29:132360

英飞凌首批采用200毫米工艺制造的SiC器件成功交付

众所周知,几乎所有 SiC 器件都是在 150 毫米上制造的,使用更大的存在重大挑战。从 200 毫米出货器件是降低 SiC 器件成本的关键一步,其他公司也在开发 200 毫米技术
2025-02-19 11:16:55813

深入探索:封装Bump工艺的关键点

随着半导体技术的飞速发展,封装(WLP)作为先进封装技术的重要组成部分,正逐渐成为集成电路封装的主流趋势。在封装过程中,Bump工艺扮演着至关重要的角色。Bump,即凸块,是封装
2025-03-04 10:52:574980

红外探测器、陶瓷和金属三种封装形式有什么区别?

红外探测器作为红外热像仪的核心部件,广泛应用于工业、安防、医疗等多个领域。随着技术的不断进步,红外探测器的封装形式也在不断发展和完善。其中,、陶瓷和金属封装是三种最常见的封装形式,它们各自具有独特的特点和优势,适用于不同的场景。
2025-03-05 16:43:221116

封装技术的概念和优劣势

封装(WLP),也称为封装,是一种直接在上完成大部分或全部封装测试程序,再进行切割制成单颗组件的先进封装技术 。WLP自2000年左右问世以来,已逐渐成为半导体封装领域的主流技术,深刻改变了传统封装的流程与模式。
2025-05-08 15:09:362068

广立微首台老化测试机正式出厂

近日,广立微自主研发的首台专为碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)功率器件设计的老化测试系统——WLBI B5260M正式出厂。该设备的成功推出,将为产业链提供了高效、精准的可靠性筛选解决方案,助推化合物半导体产业的成熟与发展。
2025-09-17 11:51:44747

Molex莫仕宣布达成收购史密斯英特协议,增强其在航空航天和国防领域的地位

史密斯英特(Smiths Interconnect)为市值50亿美元的航空航天与国防领域,以及半导体测试、工业和医疗市场提供关键任务组件 史密斯英特在创新医疗互连解决方案领域的领导地位,将与
2025-10-23 10:58:005634

适用于DLP5500 DMD的DLPC200 DLP数字控制器:特性、应用与设计要点

适用于DLP5500 DMD的DLPC200 DLP数字控制器:特性、应用与设计要点 在电子工程领域,数字控制器在确保设备可靠运行和实现特定功能方面起着至关重要的作用。今天,我们要深入探讨的是适用于
2025-12-15 14:05:02840

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