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电子发烧友网>制造/封装>半导体晶圆测试的探针卡与LTCC/HTCC的联系

半导体晶圆测试的探针卡与LTCC/HTCC的联系

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半导体物理与器件:四探针法测半导体电阻率#半导体

半导体探针
学习电子发布于 2022-11-10 15:01:27

#2022慕尼黑华南电子展 #测试 #制造过程 #SSD开

制造
艾迪科电子发布于 2022-11-18 13:31:37

半导体的朋友-探针

、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。系统的探针测试电缆、样品架都有多种类型可供选择,从而满足不同应用的需要。系统适用于实验室级别的精准电学特性测量和分析。半导体特性分析
2018-11-15 13:51:01379

半导体的朋友-探针

中芯电子天津有限公司     联系电话:13001395236系统特性:ZFT-78-50A是一个经济型的高真空探针台,它除了有探针台的基本功能外,还能为测试提供高真空与特殊气体环境;它可以提供足够
2018-11-15 13:53:25831

LTCC/HTCC基板在晶圆测试探针卡中的应用

半导体产业的制造流程上,主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶圆封装四大步骤。 其中所谓的晶圆测试,就是对晶圆上的每颗晶粒进行电性特性检测,以检测和淘汰晶圆上的不合格晶粒。 下面我们一起来了解一下半导体晶圆测试的核心耗材——探针卡,以及探针卡与LTCC/HTCC技术有着怎样的联系
2023-05-26 10:56:55732

连接微观与宏观:半导体探针台的科技与创新

半导体产业是全球技术进步的核心引擎,其成果无处不在,从我们的智能手机到现代交通工具,再到各种先进的医疗设备。而在这一巨大产业中,每一个微小但至关重要的部分都需经过严格的测试,以确保其性能和可靠性。这就是半导体检测设备探针台(通常称为“探针卡”或“探针台”)发挥作用的地方。
2023-07-25 09:59:13748

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