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电子发烧友网>制造/封装>制造新闻>Multitest的UltraFlat工艺达到高测试要求

Multitest的UltraFlat工艺达到高测试要求

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热阻测试和可靠性测试。结果表明,该半烧结型银浆的工艺操作性好,烧结后胶层空洞率低;当胶层厚度控制在30 µm左右时,剪切强度达到25.73 MPa;采用半烧结型银浆+TSV转接板的方式烧结功放芯片,其导热性能满足芯片的散热要求;经过可靠性测
2024-01-17 18:09:11186

虹科方案丨湿热灭菌工艺验证解决方案,确保所有产品和容器达到无菌要求

湿热灭菌工艺验证解决方案,确保所有产品和容器达到无菌要求
2024-01-24 16:09:26137

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