电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效
2023-08-29 10:47:313742 失效分析是指研究产品潜在的或显在的失效机理,失效概率及失效的影响等,为确定产品的改进措施进行系统的调查研究工作,是可靠性设计的重要组成部分。失效
2009-07-03 14:33:233510 失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。1、电阻器的主要
2017-10-11 06:11:0012633 失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。 失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。 1、电阻器的主要失效模式与失效机理为 1) 开路:主要失效机理为电阻膜烧毁或大面积脱落,基体断裂,引线
2018-01-16 08:47:1129569 失效分析(FA)是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。
2023-09-06 10:28:051332 你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设计?也许许多硬件工程师都有过类似的心理对话。有数据显示,78%的硬件失效原因是由于不良的焊接
2012-12-17 12:31:00
请问造成硬件失效的主要原因是什么?
2021-04-25 06:09:26
你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设计?
2021-04-21 06:01:05
失效的分类 2.1 按功能分类 由失效的定义可知,失效的判据是看规定的功能是否丧失。因此,失效的分类可以按功能进行分类。例如,按不同材料的规定功能可以用各种材料缺陷(包括成分、性能、组织、表面
2011-11-29 16:46:42
的研究,即对酿成失效的必然性和规律性的研究。例如在功率器件的EAS失效中,就可能存在着过电压导致寄生三极管开启,导致器件失效。也可能存在着电路板系统温度过高,致使器件寄生三极管开启电压下降,随即导致寄生
2020-08-07 15:34:07
③步是针对失效模式展开分析,根据失效根因故障树来逐一排查根因,倘若在已有的故障树中还无法确认原因,则需要通过专题立项等方式研究这类失效问题,并将研究结论加入到原有故障树中,使故障树不断丰富完善,穷尽根因
2020-03-10 10:42:44
内容包含失效分析方法,失效分析步骤,失效分析案例,失效分析实验室
2020-04-02 15:08:20
`一般来说,集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数
2016-05-04 15:39:25
`硬件失效原因之:PCB焊接 有数据显示,78%的硬件失效原因是由于不良的PCB焊接加工造成的。 遇到硬件失效的情况,工程师愿意花费大量时间和精力在样板调试和分析中,耽误了项目进度。如果找不出不良
2012-11-21 15:41:50
丢失、数据写入出错、乱码、全“0”全“F”等诸多失效问题,严重影响了IC卡的广泛应用。因此,有必要结合IC卡的制作工艺及使用环境对失效的IC卡进行分析,深入研究其失效模式及失效机理,探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
IGBT传统防失效机理是什么IGBT失效防护电路
2021-03-29 07:17:06
分析对象的背景,确认失效现象,接着制定LED失效分析方案,研究LED失效原因与机理,最后提出后续预防与改进措施。 金鉴实验室综合数千个失效分析案例,将LED芯片失效原因归纳为以下几类: 1.封装
2020-10-22 09:40:09
分析对象的背景,确认失效现象,接着制定LED失效分析方案,研究LED失效原因与机理,最后提出后续预防与改进措施。 金鉴实验室综合数千个失效分析案例,将LED芯片失效原因归纳为以下几类: 1.封装
2020-10-22 15:06:06
MOSFET的失效机理至此,我们已经介绍了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET,首先不能超过MOSFET规格书中的绝对最大
2022-07-26 18:06:41
)的变化关系,可研究分析材料的物理化学及热力学性能。在PCB的分析方面,主要用于测量PCB材料的热稳定性或热分解温度,如果基材的热分解温度太低,PCB在经过焊接过程的高温时将会发生爆板或分层失效现象。
2018-09-20 10:55:57
、湿度和电压。 目前,研究的最为深入和广泛的是温度对LED封装可靠性的影响。温度使LED模块及系统失效的原因在于以下几个方面:(1)高温会使封装材料降解加快、性能下降;(2)结温对LED的性能会产生很大
2018-02-05 11:51:41
热击失效模式扭曲破裂失效
2021-03-03 06:23:05
电子元器件的可靠性是电子装备可靠性的基础,通过电子元器件的失效分析确定其失效机理,找出失效原因,反馈给客户,研究纠正措施,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件和整机的可靠性
2017-06-01 10:42:29
关于78%的硬件失效是由于焊接问题导致看完你就懂了
2021-04-23 06:38:07
科技名词定义中文名称:失效分析 英文名称:failure analysis 其他名称:损坏分析 定义:对运行中丧失原有功能的金属构件或设备进行损坏原因分析研究的技术。 所属学科:简介 失效分析
2011-11-29 16:39:42
本帖最后由 24不可说 于 2016-10-26 17:31 编辑
社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程,出现问题不可怕,但频繁出现同一类问题是非常可怕的。失效分析基本概念定义:对失效电子
2016-10-26 16:26:27
有没有大神做过单片机或ARM的加速寿命试验研究的?请教一下它们的失效激活能E大概是多少eV?
2015-01-06 12:59:59
和电子辅料等可靠性应用场景方面具有专业的检测、分析和试验能力,可为各研究院所、高校、企业提供产品的可靠性检测、失效分析、老化测试等一体化服务。本中心目前拥有各类可靠性检测分析仪器,其中包括
2018-06-04 16:13:50
为了进行大功率白光LED可靠性研究,对大功率白光LED进行电流庇力加速寿命试验,分析研究光通量、发光效率、峰值波长、主波长和电压等参数随老化时问的变化情况,通过对试验出现的结果和失效现象进行分析比较,表明衰变退化的主要原因是荧光粉的退化、封装材料的热退化,以及散热问题导致的退化等。
2012-12-12 16:05:02
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:04 编辑
指纹识别算法的研究及基于FPGA的硬件实现
2012-05-23 20:14:46
有没有智能电表方面的高手啊?我想请教下,智能电表中的电子元器件一般会出现一些什么样的失效现象?失效原因一般是什么?非常感谢。
2013-03-08 10:11:21
有哪些因素可造成焊接连接失效呢?焊接失效分为哪几种类型?焊接球失效的电信号表现有哪些?
2021-04-28 07:28:05
焊接知识 78%的硬件失效是由于焊接问题导致你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设计?也许许多硬件工程师都有过类似的心理对话。有数
2012-09-08 10:03:26
﹐通过分析确定失效机理﹐找出失效原因﹐反馈给元器件的设计﹑制造和使用者﹐共同研究实施纠正措施﹐提高电子元器件的可靠性。[size=17.1429px]电子元器件失效的目的是借助各种测试分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
电子元器件由静电放电引发的失效可分为突发性失效和潜在性失效两种模式。 突发性失效是指元器件受到静电放电损伤后,突然完全丧失其规定的功能,主要表现为开路、短路或参数严重漂移,具体模式如:双极型器件
2013-03-25 12:55:30
`电容器的常见失效模式和失效机理【上】电容器的常见失效模式有――击穿短路;致命失效――开路;致命失效――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等;部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:10 编辑
电容器的常见失效模式有:――击穿短路;致命失效――开路;致命失效――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降
2011-12-03 21:29:22
关系,可研究分析材料的物理化学及热力学性能。在PCB的分析方面,主要用于测量PCB材料的热稳定性或热分解温度,如果基材的热分解温度太低,PCB在经过焊接过程的高温时将会发生爆板或分层失效现象。
2018-09-20 10:59:15
简单介绍了目前汽车氧传感器的研究现状和发展方向,重点阐述了浓差型氧传感器电极的失效原因及预防方法。关键词: 氧传感器; 氧化锆; 电极失效Abstract : The present automobile oxyg
2009-07-06 10:07:5229 在工业控制领域,程序的失效恢复问题是一重要而棘手的问题,一般采用方法是在程序正常运行必然要经过的地方安插WatchDog 复位指令,当遇到程序死锁、跑飞等程序失效问题时,
2009-09-01 09:26:3829 基于流量的攻击可能对复杂网络造成严重破坏,现有研究主要针对节点攻击。该文分析了部分边失效时,复杂网络的脆弱特性。此外,分析了时机策略和网络规模对边失效的影响。
2010-02-10 12:12:358
针对节点失效引起无线传感器网络监测性能下降的问题,该文以节点随机均匀部署的网络为研究对象,从节点失效的角度提出了评价网络覆盖与连通两个基本监测性能的量化指
2010-02-10 14:59:1933 基于SIS系统的硬件评估方案
首先介绍了安全仪表系统在实际应用中的需求以及安全仪表系统的硬件失效概率评估的必要性。然后,在研究了硬件失效概率的评估
2010-04-01 10:59:0717 摘要:IC智能卡使用过程中出现的密码校验失效、数据丢失、应用区不能读写等一系列失效和可靠性问题,严重影响了其在社会生活各领域的广泛应用.分析研究了IC智能卡芯片碎裂、引
2010-11-12 21:10:3834 钛液泵轴封的失效原因及改进设计
论文摘要:在对钛液泵原有轴封的失效原因进行分析和实验研究的基础上,筛选出适合的摩擦副材料,并提出了
2009-05-16 00:09:43574 钛液泵轴封的失效原因及改进设计
论文摘要:在对钛液泵原有轴封的失效原因进行分析和实验研究的基础上,筛选出适合的摩擦副材料,并提出了
2009-05-16 00:11:111121 MH-Ni电池失效研究
通过解剖早期失效及寿命终止的电池,研究了镍电极膨胀对它的作用与影响。通过SEM、XRD等分析手段研究表明,镍电极本身也因膨胀造
2009-11-05 16:18:37562 节能灯功率管失效原理研究
1引言
节能灯作为一种环保型的电源,在全世界得到了广泛的应用,国内节能灯的生产更是一枝独秀。作为节能灯
2010-03-08 10:06:05632 介绍产生实效分析程序的专题研究过程,以求建立具有针对性的失效分析工作程序。
2011-02-21 16:02:00292 首先介绍了 安全仪表 系统在实际应用汇总的需求以及安全仪表系统的硬件失效概率评估的必要性,然后研究了硬件失效概率的评估方法。
2011-06-17 11:16:0119 本文主要分析了射频电缆组件的电性能参数及其失效模式, 并对其设计和改进进行研究, 对如何提高电缆组件的可靠性也进行了较详细的探讨。
2011-12-29 16:41:3125 有数据显示,78% 的硬件失效是由于焊接问题导致,该文章主要分析主要由于焊接问题所导致的硬件失效及分析方法!
2012-03-06 23:50:081257 判断失效的模式, 查找失效原因和机理, 提出预防再失效的对策的技术活动和管理活动称为失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 高压IGBT关断状态失效的机理研究,IGBT原理,PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 基于HFCT局放测试技术的高压电缆终端失效检测方法研究_韩宇泽
2016-12-31 14:45:091 基于演化硬件的多目标进化算法的研究
2017-01-08 14:47:530 大功率白光LED的可靠性研究及失效机理分析
2017-02-07 21:04:011 IT硬件能耗测试方法应用研究_黄植勤
2017-03-19 11:27:342 元器件长期储存的失效模式和失效机理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的长期储存的失效模式和失效机理
2017-10-19 08:37:3432 MCU和DSP的运动控制研究硬件平台设计
2017-10-19 13:20:096 已有研究表明,键合线老化脱落失效是影响绝缘栅双极型晶体管( IGBT)可靠性的主要因素之一。以此为研究背景,首先根据IGBT模块内部键合线的结构布局与物理特性,分析键合线等效电阻与关断暂态波形的关系
2018-01-02 11:18:145 对电子元器件的失效分析技术进行研究并加以总结。方法 通过对电信器类、电阻器类等电子元器件的失效原因、失效机理等故障现象进行分析。
2018-01-30 11:33:4110912 电容器的常见失效模式有:――击穿短路;致命失效――开路;致命失效――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等;部分功能失效――漏液;部分功能失效――引线腐蚀或断裂;致命失效――绝缘子破裂;致命失效――绝缘子表面飞弧;
2018-03-15 11:00:1026173 本文通过大量的历史资料调研和失效信息收集等方法,针对不同环境应力条件下的MEMS惯性器件典型失效模式及失效机理进行了深入探讨和分析。
2018-05-21 16:23:456951 随着微机电系统 (MEMS) 在信息通信、航空航天、医疗生物、国防安全等领域的广泛应用,与其性能和寿命相关的失效研究显得越来越重要。
2018-05-22 15:46:344872 电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效
2018-06-07 15:18:137239 LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。 从发光芯片到LED灯珠,失效模式有将近三十种,如表1,LED灯珠的失效模式表所示。这里将LED从组成结构上分为芯片和外部封装两部分。 那么, LED失效的模式和物理机制也分为芯片失效和封装失效两种来进行讨论。
2018-07-12 14:34:007820 电子器件是一个非常复杂的系统,其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此,研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解,这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。
2018-07-05 15:17:543836 1:雪崩失效(电压失效),也就是我们常说的漏源间的BVdss电压超越MOSFET的额定电压,并且超越到达了一定的才能从而招致MOSFET失效。 2:SOA失效(电流失效),既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37231 LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。
2020-03-22 23:13:001910 电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效
2020-06-29 11:15:216642 再说维护问题吧,电池的失效分正常失效(电池寿命终结)和非正常因素失效。正常失效就购买新电池更换! 电瓶修复, 非正常因素失效都是电池使用不当造成的,比如充电、放电、保存等,对用户而言有可控和不可
2020-09-08 15:35:501998 注1在分析中可以省略没有显著增加违反安全目标概率的失效元素,其失效模式可归类为安全失效,例如。硬件元件,其失效只导致多点失效的顺序n,与n>2,被认为是安全失效,除非显示与技术安全概念相关。
2020-08-25 15:35:552885 你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设计?也许许多硬件工程师都有过类似的心理对话。有数据显示,78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和错误的物料贴片造成的。
2020-10-17 11:00:232124 简介:电子器件是一个非常复杂的系统,其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此,研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解,这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。 1. 封装缺陷与失效
2021-01-12 11:36:083657 电子发烧友网为你提供封装缺陷与失效的研究方法论资料下载的电子资料下载,更有其他相关的电路图、源代码、课件教程、中文资料、英文资料、参考设计、用户指南、解决方案等资料,希望可以帮助到广大的电子工程师们。
2021-03-29 16:47:0111 电容器的常见失效模式有: ――击穿短路;致命失效 ――开路;致命失效 ――电参数变化(包括电容量超差、损耗角正切值增大、绝缘性能下降或漏电流上升等;部分功能失效 ――漏液;部分功能失效 ――引线腐蚀
2021-12-11 10:13:532688 失效模式:各种失效的现象及其表现的形式。
失效机理:是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。
2022-02-10 09:49:0618 电子器件是一个非常复杂的系统,其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此,研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解,这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。
2022-02-10 11:09:3713 摘要:常用电路保护器件的主要失效模式为短路,瞬变电压抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦发生短路失效,释放出的高能量常常会将保护的电子设备损坏.这是 TvS 生产厂家和使用方都想极力减少或避免
2022-10-11 10:05:014603 失效分析是根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。失效分析是确定芯片失效机理的必要手段。失效分析为有效的故障诊断提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 PCB失效的机理,必须遵守基本的原则及分析流程。一般的基本流程是,首先必须基于失效现象,通过信息收集、功能测试、电性能测试以及简单的外观检查,确定失效部位与失效模式,即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691 失去原有的效力。在各种工程中,部件失去原有设计所规定的功能称为失效。失效简单地说就是“坏了”,但是“坏了”也有很多种情况。
2022-11-30 10:47:53268 MOSFET的失效机理本文的关键要点・dV/dt失效是MOSFET关断时流经寄生电容Cds的充电电流流过基极电阻RB,使寄生双极晶体管导通而引起短路从而造成失效的现象。
2023-02-13 09:30:08829 、线路短路等,但最终的失效都可归结为电击穿和热击穿两种,其中电击穿失效的本质也是温度过高的热击穿失效。目前对IGBT芯片失效的研究主要集中在对引起失效的各种外部因素,如过电压、过电流、过温等进行分析上,
2023-02-22 15:05:4319 失效率是可靠性最重要的评价标准,所以研究IGBT的失效模式和机理对提高IGBT的可靠性有指导作用。
2023-04-20 10:27:041119 失效包括硬件失效和软件失效。硬件失效是由于电路板需要长时间运行而导致的,而软件失效是由于软件设计的缺陷或者系统运行的安装过程中的问题引起的。 硬件失效是由于多种原因引起的。这些原因包括质量问题、环境变化、基础材料
2023-08-29 16:29:112805 ,极易出现失效问题。因此,深入研究SBD失效机理,对于促进SBD的性能和寿命提高,具有重要的意义。 SBD失效机理可以从电学和物理两个方面讨论。首先,SBD失效机理包括电学性失效和物理性失效。 电学性失效: 1.反向击穿失效 SBD在反向电场下受到电子渗出现象(即逆向电子穿透
2023-08-29 16:35:08971 IC。然而,IC在使用过程中也可能出现失效的情况,从而影响到整个设备的使用效果。因此,对IC失效分析的研究变得越来越重要。 IC失效的原因有很多,例如因为工艺过程中的不良导致芯片内部有缺陷,或者长时间使用导致老化而出现失效等。为了找出IC失效的原因,在
2023-08-29 16:35:13628 晶振失效了?怎么解决?
2023-12-05 17:22:26230 保护器件过电应力失效机理和失效现象浅析
2023-12-14 17:06:45267 ▼关注公众号:工程师看海▼ 失效分析一直伴随着整个芯片产业链,复杂的产业链中任意一环出现问题都会带来芯片的失效问题。芯片从工艺到应用都会面临各种失效风险,笔者平时也会参与到失效分析中,这一期就对失效
2023-12-20 08:41:04531 ESD失效和EOS失效的区别 ESD(电静电放电)失效和EOS(电压过冲)失效是在电子设备和电路中经常遇到的两种失效问题。尽管它们都涉及电气问题,但其具体产生的原因、影响、预防方法以及解决方法
2023-12-20 11:37:023071 常见的齿轮失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施来减缓失效的发生? 齿轮是机械传动中常用的一种传动方式,它能够将动力从一个轴传递到另一个轴上。然而,在长时间使用过程中,齿轮也会出现各种失效
2023-12-20 11:37:151057
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