0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

基于V93k ATE的SoC芯片输出不稳定的测试方法

集成电路应用杂志 来源:集成电路应用杂志 2020-07-14 11:30 次阅读

基于 V93k ATE 的 SoC 芯片输出不稳定的测试方法

0 引言

波形转换跟踪(Wave Transition Tracking)是基于 V93k ATE 协议引擎的一种测试方法[1-7]。协议引擎主要包含两个部分,一个是 Transition Tracking模块,另一个是 Pattern Compare 模块,Transition Tracking 模块又包含初始同步和 Tracking 两个部分。Transition Tracking 模块首先进行初始同步,找到同步后继续进行 Tracking,抓取出所有接收到的数据,然后将结果以 bit 序列的形式传给 Pattern Compare 模块,Pattern Compare 对 bit 序列和期望值进行比较。这种协议引擎能够解决 ATE 测试中相位变化,波形轻微畸变造成的不稳定的问题。图 1 是整个引擎协议的结构图,后面内容是根据结构图进行介绍。

1 初始同步和后续同步

1.1 初始同步 Initial Synchronization

初始同步的目的是发现接收数据中的起始有效数据,它的原理是在选定的跟踪装置中成功地比较期望数据的起始段,即接收到的数据和同步测试向量(Pattern)的匹配。如果同步 Pattern 长度为 n,一开始接收到的 n 个 bit 如果没有匹配,那么接收到的数据向前移动 1 个 bit 后,继续与同步 n 个 bit Pattern 进行比对,直到接收到的数据与同步 Pattern 匹配为止,同步 Pattern 中不能包含有 X Tokens(X 表示 Mask 或是不关注的状态,Token 表示一定长度连续的 bit 数)。

1.2 后续同步 Subsequent Synchronization

与起始同步原理一样,对于 IO 管脚而言,当信号由输出转为输入再转为输出的时候,对输出必须 Tracking,而对于输入 Tracking 必须被关掉,所以当数据由输出转为输入再转为输出的时候就会再次同步,在这种情况下,Tracking 关闭和再次打开时,要求中间关闭的时间必须不少于 24 个 bit 长度数据来保证 Tracking 的充分复位。

2 Tracking 原理

Tracking测试原理类似于过采样的原理,它将一个 UI,相当于一个 Tracking Window,定义为 Period/X mode(V93k 测试仪转码的一种方式)里面的比较沿拆分为四个比较沿,相当于 4 次采样,采样之间的延迟相同,然后根据 Tracking Window 中波形翻转的类型,选取其中一个采样结果作为本次采样的结果,同时确定下一个 Tracking Window 的位置,以此类推,直到输出波形 Tracking 完成,得到输出波形的 bit 系列,如图 2 所示。

3 Transition 类型

Transition 大致可以分为下面几种类型,如果把上述提到一个 UI 拆分为四个比较沿分别称为 A、B、C、D。

3.1 Transition at A 与 No Transition

传输翻转发生在A比较沿或没有翻转,Tracking 选择 C 比较作为期望的比较沿的位置和下一个Tracking window的位置会紧接着上一个 Window 进行Tracking,如图 3 所示。

3.2 Transition at A and B

传输翻转发生在A和B之间,选择 D 比较作为我们期望比较沿的位置(相对之前第一种情况 Select 位置往后移动 1/4 个 UI),下一个 Tracking Window 的位置会往后跳 1/4 之一个 UI 后继续Tracking,如图 4 所示。

3.3 Transition at C and D

传输翻转发生在 C 和 D 之间,选择 B 比较作为我们期望比较沿的位置(相对之前第一种情况 select 位置往前移动 1/4 个 UI),下一个 Tracking Window 的位置会往前跳 1/4 个 UI 后继续 Tracking,如图 5 所示。

3.4 Transition at B and C

传输翻转发生在 B 和 C 之间,由于这种情况会导致下一个 Tracking Window 移动 1/2 个 UI,因此会导致一种不确定性,到底bit是往前移 1/2 个UI还是往后移 1/2 个 UI。所以 Tracking 测试只允许开始的时候出现一次 Transition at B and C 的情况(第一次可以包容,因为下个 Window 不管往前还是往后都可以继续 Tracking),中间如果再出现,就会出现测试错误。如图 6 所示。

4 Tracking 的适用范围和传输速率

4.1 Tracking 范围

在 5 个 UI 里面偏移小于正负 1/4 个 UI 或是 24 个 UI 里面偏移小于 1 个 UI。

在整个 Tracking 测试里面总的偏移小于 7.5 个 UI。

4.2 Tracking 传输速率

对于不同的 V93k 测试板卡,Tracking 的传输速率不一样。最大的数据传输速率分别为,Pin Scale 1600,不论 X4 mode 还是 X6 mode 最大传输速率都是 1 600 Mbit/s;Pin Scale 9G,X4 mode 最大传输速率为:4 533 Mbit/s,X6 mode 最大传输速率为:6 800 Mbit/s。

5 Tracking 测试 Waveform 和 Equation 的定义

5.1 Tracking 中 Waveform 的定义

由于 Transition tracking pattern 必须是 X4 或是 X6 mode,所以在 waveform(用于定义输入输出的波形)中必须包含关键字 TTMODE X4 或是TTMODE X6。Tracking 测试的管脚必须是输出或是 I/O 类型的管脚。对于输出和 IO 两种类型 Waveform 定义不同。

(1)如果测试的 Pin 为输出 Pin,只需定义比较波形(Compare waveform)和对应的控制 Tracking 行为的 Control window。

(2)如果测试 Pin 为 IO pin,除了定义输出比较波形和对应 Control window 外还需要定义 Drive waveform 和对应的控制 Tracking 行为的 Control Window。图 7、图 8 别是转码后 X4 mode waveform 定义和更改后 Tracking waveform 的定义。

5.2 Tracking 中 Equation 定义

Equation 定义相对简单,Equation 用于定义波形的时序关系,和 Waveform 一样,在 Tracking 测试中必须有关键字 TTMODE X4 或是TTMODE X6。如图 9、图 10 是原 Equation 的定义和 Tracking Equation 的定义所示,而在 Tracking Equation 只需加关键词 TTXMODE4 和定义 d1 和 r1 既可。

6 Tracking 测试代码及测试结果

6.1 Tracking 测试代码

图 11、图 12 Tracking 的测试码。图 11 要是设置 Tracking Test 名为 Basic_Tracking,以及设置所需要 Tracking 的管脚和相应模式的设置。在图 11 设置完成以后,图 12 执行 Function 测试,然后获取 Tracking 测试的状态,然后根据获取状态打印出相应的信息,以便于Debug和分析。

6.2 Tracking 结果与 Timing Diagram 波形

从图 13 以看出波形整体偏移,比对不过所以显示红色,图 14 放大后 Scope 波形,明显看出时序有偏差。通过 Tracking 测试后,从图 15 可以看出经过初始同步 Tracking 找到波形的位置并进行正确 Tracking 测试,Functional 测试结果也是 Pass,而图 16 放大后的波形,可以看到时序偏移问题已经得到解决。

7 结语

本文基于 Advantest 93k ATE测试仪,详细介绍了对于在测试中时序偏移造成测试不稳定的 Transition tracking AT E测试方法。这种方法可以解决部分由于时序偏差或是很小波形畸变造成测试不稳定的问题,为 ATE 测试中遇到类似的问题提供一种可测性的解决方案。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 模块
    +关注

    关注

    7

    文章

    2692

    浏览量

    47425
  • SoC芯片
    +关注

    关注

    1

    文章

    610

    浏览量

    34903

原文标题:基于 V93k ATE 的 SoC 芯片输出不稳定的测试方法

文章出处:【微信号:appic-cn,微信公众号:集成电路应用杂志】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    变频器输出出现不稳定现象原因及维修

          变频器作为现代工业自动化设备中的核心部件,其稳定运行对于生产线的效率和安全至关重要。然而,在实际应用中,变频器输出出现不稳定现象是一个较为常见的问题,这不仅会影响设备的正常运行,还可
    的头像 发表于 12-16 07:44 78次阅读
    变频器<b class='flag-5'>输出</b>出现<b class='flag-5'>不稳定</b>现象原因及维修

    ADS8341E转换输出不稳定的原因?

    我使用ADS8341E 16Bits SAR ADC,layout 完全按照手册要求布线,低通滤波RC也加上了,reference 2.5V,模拟输入稳定,转换输出就是不稳定,哪位大
    发表于 12-04 06:42

    功率贴片电感的电感值不稳定的解决方法

    电子发烧友网站提供《功率贴片电感的电感值不稳定的解决方法.docx》资料免费下载
    发表于 09-19 17:40 0次下载

    LDO输出不稳定的原因

    LDO(Low Dropout Regulator,低压差线性稳压器)输出不稳定可能由多种因素导致。这些因素涉及电路设计、元件选择、工作环境以及外部干扰等多个方面。以下是对LDO输出不稳定
    的头像 发表于 09-11 10:28 1364次阅读

    ths3091输出的波形很不稳定,为什么?

    上面是我的仿真电路图,R1的作用是移相,R3的作用是调幅。 然而在实际电路中,输出的波形很不稳定(有很多高频噪声),芯片发热很严重,并且得到的输出的电流也不高。 求问我的电路应该
    发表于 09-09 06:07

    INA122输出电压不稳定有20MV的波动,怎么回事啊?

    INA122单电源3.3V供电。RG=10K欧,IN-=271.6mv,IN+=297.3mv,REF和-VS接地。 输出电压不稳定输出
    发表于 08-26 07:05

    INA128输出不稳定的原因?

    用仪表放大器放大压力传感器输出mV信号(-15mV-15mV), 放大200倍,现在的问题是: 1.输出AV1不稳定,漂移在0.3V左右。不知何原因? 2.
    发表于 08-21 07:09

    OPA4340电压跟随器输出电压不稳定怎么解决?

    我有一个电路设计是稳压电源+电压跟随器(OPA4340),提供采样调理电路的偏置电压,偏置电压部分的电路如下图1所示。 但测量后发现电压跟随器输出电压不稳定,例如,1.5V处(U1B输出
    发表于 08-16 08:25

    运放输出不稳定是什么原因

    输出可能会出现不稳定的现象,这将严重影响电路的性能和可靠性。 电源问题 电源是运放正常工作的基础,如果电源不稳定或存在问题,将直接影响运放的输出
    的头像 发表于 07-13 11:20 2001次阅读

    伺服电机转速不稳定的因素

    伺服电机转速不稳定的问题,通常涉及多个方面的因素。以下是针对这一问题的详细分析和解决方法: 一、原因分析 (1)电机本身问题: 转子失衡:电机转子不平衡可能导致转速不稳定。 热胀冷缩:电机在运
    的头像 发表于 06-19 11:18 1453次阅读

    电压不稳定对伺服电机有影响吗

    伺服电机是一种高精度、高响应速度的电机,广泛应用于工业自动化、机器人、航空航天等领域。然而,伺服电机在运行过程中,可能会受到电压不稳定的影响,从而影响其性能和寿命。本文将详细分析电压不稳定对伺服电机
    的头像 发表于 06-14 10:06 1603次阅读

    编码器供电电压不稳定怎么办

    ,了解编码器供电电压不稳定的原因,并采取相应的解决方法,对于保障系统的稳定运行具有重要意义。本文将从编码器供电电压不稳定的原因分析入手,详细探讨其解决
    的头像 发表于 05-29 16:02 939次阅读

    示波器波形的观察方法 示波器波形不稳定的原因及处理方法

    不稳定的情况,这可能会影响我们对信号的分析和判断。本文将详细解析示波器波形的观察方法,并针对波形不稳定的问题提出相应的处理方法
    的头像 发表于 05-10 16:05 5018次阅读

    晶振输出频率不稳定是什么原因?

    在电子电路设计中,晶振作为时钟信号源,其输出频率的稳定性至关重要。不稳定的晶振输出频率可能导致电子设备工作不正常或性能下降。晶发电子将探讨晶振输出
    发表于 04-28 11:44

    芯片的出厂测试ATE测试的实施方法

    随着集成电路技术的飞速发展,芯片作为现代电子设备的核心组件,其性能和质量对于整个系统的稳定性和可靠性具有至关重要的影响。因此,在芯片生产过程中,出厂测试
    的头像 发表于 04-19 10:31 1888次阅读
    <b class='flag-5'>芯片</b>的出厂<b class='flag-5'>测试</b>与<b class='flag-5'>ATE</b><b class='flag-5'>测试</b>的实施<b class='flag-5'>方法</b>