0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

DC SCAN与AC SCAN的异同 常用的OCC电路结构分析

西西 来源:博客园 作者:lelin 2020-08-11 10:53 次阅读

SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:

产生ATPG使用MentorTestKompress和synopsys TetraMAX;

插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。

通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M

AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率是一样的。

70年代到1995年这段时间里,由于芯片的工作频率很低只有20-100M,scan测试只有DC SCAN,我们就能捕捉到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后,测试科学家和工程师发现通过DC SCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有问题。其根本原因是随着制造工艺向深亚微米迈进,芯片的工作频率也提高到200M-1G,原来的SCAN测试方法和模型不再能捕捉到所有的std-logic的制造缺陷。大家的一致想法就是-“奔跑吧,SCAN” ,把SCAN的频率增加到与芯片的真实工作频率一致,同时使用新的Transition atpg model来产生测试pattern.

下面我们介绍DC SCAN与AC SCAN的异同

DC SCAN与AC SCAN的异同 常用的OCC电路结构分析

现在的工业量产的高速芯片都会要求能做DC SCAN测试和AC SCAN测试,所以DFT工程师也要同时插入两种测试电路,产生两套测试patterns。

具体实现流程如下

1 读入没有插入scan的网表

2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时插入mux, fix DRC

3 使用Testcompress 实现EDT压缩scan chain

4 使用Testcompress 产生测试DC/ACpattern,同时产生测试验证的Testbench

5 验证DC/AC patterns的正确性和电路的正确性

6 使用SDF,验证DC/ACpatterns相关电路的时序是否满足要求

7 使用DC/AC patterns (wgl文件)转换成ATE所需格式,在ATE上调试和使用

所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的功能。有两种方式可以插入OCC电路:

1. DFT Compiler自动插入。2. 手动编写OCC 的verilog 电路,在dft_insert阶段。

ATPG工具使用的Transition faultmodel如下图

OCC :On Chip Clock

OPCG :On-Product Clock Gating

SCM:scan clock mux

上面三种是同一东西的不同叫法,就是为了at-speed ATPG测试时在function clock和shift clock之间切换的控制逻辑。不同人设计的电路不一样,它就是一个2选一的clock mux,设计时注意处理一下cdc的path,不要产生glitch就行了。

何为全速测试(at speed test):在工艺节点在130nm以下的时候,很多情形下的物理缺陷都是由于延时来引起的。因此在对这种类型的chip做dft的时候,需要建立一个新的故障模型,业内称之为延时故障模型(time delay model)。解决的方法就是全速测试,所谓的全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上,这个频率往往是要高过ATE的时钟的。这样对扫描模型的建立就提出了新的要求。即至少要保证芯片的latch clock和capture clock为芯片内部的高倍时钟。synopsys对此种问题的解决方法就是OCC(on chip clocking)。OCC/OPCG的基本原理是在 scan shift 模式下, 选通慢速的ATE 时钟,load 或 unload 扫描链; 在 capture 模式下,对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试

常用的OCC电路结构如下

在做SCAN的时候,由于ATE时钟速度和芯片port的传输速度的限制,导致ATE无法向片传输高速时钟。但是,芯片内部需要 进行At Speed 测试的时候,用到和system mode一致的时钟频率进行测试。此时,需要由芯片内部自己产生测试时钟。在capture的时候,对于内部寄存器来说,到达clock pin上的时钟波形如intclk 所示。Launche clock和capture clock为PLL产生的脉冲。Shift clock为ATE产生的时钟。PLL时钟和ATE时钟的切换电路是由OCC (On-Chip Clocking) 电路实现的。

我们典型的插入OCC以后的电路如下图

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 制造工艺
    +关注

    关注

    2

    文章

    175

    浏览量

    19730
  • 控制逻辑
    +关注

    关注

    0

    文章

    14

    浏览量

    2307
收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    示波器ac耦合和dc耦合的区别

    示波器是电子测量领域中常用的一种仪器,用于观察和测量电信号的波形。在示波器的使用过程中,AC耦合和DC耦合是两种常见的耦合方式。 AC耦合和DC
    的头像 发表于 08-09 14:57 2859次阅读

    如何不用wifi_station_scan() 取得当前已经连线AP的BSSID?

    请问如何不用 wifi_station_scan() 取得当前已经连线 AP 的 BSSID? 使用 wifi_station_scan() 会造成当前连线出现断线等问题,是否有其他不影响连线的取得方式?
    发表于 07-12 15:25

    Curl命令来scan没有结果的原因?

    E:ProgramTCPTools>curl -X GET \"http://192.168.4.1/client?command=scan { \"
    发表于 07-12 14:34

    SCAN90004 4通道LVDS缓冲器/中继器数据表

    电子发烧友网站提供《SCAN90004 4通道LVDS缓冲器/中继器数据表.pdf》资料免费下载
    发表于 07-09 10:35 0次下载
    <b class='flag-5'>SCAN</b>90004 4通道LVDS缓冲器/中继器数据表

    使用psoc62+CYW43012扫描信标时,wiced_bt_ble_scan返回WICED_BT_NO_RESOURCES如何解决?

    当我使用 psoc62 + CYW43012 扫描信标时。 在某些情况下,wiced_bt_ble_scan 会返回 WICED_BT_NO_RESOURCES(8102)。 那么如何才能解决这个
    发表于 07-03 06:58

    SCAN15MB200双通道1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS多路复用器/缓冲器数据表

    电子发烧友网站提供《SCAN15MB200双通道1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS多路复用器/缓冲器数据表.pdf》资料免费下载
    发表于 06-28 09:40 0次下载
    <b class='flag-5'>SCAN</b>15MB200双通道1.5 Gbps 2:1/1:2 LVDS多路复用器/缓冲器数据表

    esp_ble_scan_dupilcate_list_flush函数报错的原因?

    硬件:安信ESP32-C3-13 C3FN4 软件:ESP-IDF工具,v4.4 例程:ble_spp_client 扫描参数配置如下 static esp_ble_scan
    发表于 06-17 06:17

    wifi scan定时扫描多次后wifi列表变成空列表怎么解决?

    如标题,环境为idf V4.4.1,参考wifi的scan例程。我目的是创建一个任务定时扫描wifi获取四个参考节点(ESP_AP)的rssi值,wifi模式为ap/sta共存模式,wifi扫描通道
    发表于 06-13 07:10

    ESP32蓝牙主机都无法收到Scan response data的原因?

    蓝牙主机无法收到SCAN_RSP 主动扫描和被动扫描模式,ESP32 蓝牙主机都无法收到Scan response data Code: Select all static
    发表于 06-05 07:20

    如何通过调用WHD中名为\"whd_wifi_scan\" 的函数来设置多个SSID?

    大家好, 请告知如何通过调用 WHD 中名为\"whd_wifi_scan\" 的函数来设置多个 SSID? 目前的源代码描述为\"
    发表于 05-21 06:09

    AC/DC电源模块的市场发展与前景分析

    BOSHIDA AC/DC电源模块的市场发展与前景分析 AC/DC电源模块是一种将交流电转化为直流电的电子设备,广泛应用于各种电子设备和系统
    的头像 发表于 05-10 13:28 311次阅读
    <b class='flag-5'>AC</b>/<b class='flag-5'>DC</b>电源模块的市场发展与前景<b class='flag-5'>分析</b>

    AC/DC电源模块的设计与实现技巧

    BOSHIDA AC/DC电源模块的设计与实现技巧 AC/DC电源模块是一种常用的电源模块,用于将交流电转换为直流电,为各种电子设备提供电力
    的头像 发表于 05-07 11:25 762次阅读
    <b class='flag-5'>AC</b>/<b class='flag-5'>DC</b>电源模块的设计与实现技巧

    AC/DC电源模块的电磁兼容性分析与方案设计

    BOSHIDA AC/DC电源模块的电磁兼容性分析与方案设计 BOSHIDA AC/DC电源模块是一种将交流电转换为直流电的电源模块,
    的头像 发表于 04-30 13:57 347次阅读
    <b class='flag-5'>AC</b>/<b class='flag-5'>DC</b>电源模块的电磁兼容性<b class='flag-5'>分析</b>与方案设计

    cybt343026-01最多能scan到多少个?

    我想问一下cybt343026-01的模块,scan的话,最多能scan到多少个?
    发表于 03-01 06:44

    数模混合芯片scan chain问题解析

    模拟到数字的信号不可控,需要和数字registered outputs mux一下提高test coverage。关键词是registered output! 这个技巧俗称scan loopback。
    的头像 发表于 12-08 11:24 1691次阅读
    数模混合芯片<b class='flag-5'>scan</b> chain问题解析