意法半导体推出一款高精度、低功耗的双轴数字测斜仪：IIS2ICLX

据麦姆斯咨询报道，意法半导体（STMicroelectronics）近日推出一款高精度、低功耗的双轴数字测斜仪：IIS2ICLX，主要应用于工业自动化和结构健康监测[注]等领域。IIS2ICLX具有可编程的机器学习内核和16个独立的可编程有限状态机，有助于边缘设备节能省电，减少向云端传输的数据量。

注：结构健康监测：利用传感器技术连续筛查道路、桥梁、隧道等建筑工程和基础设施的结构健康状况。

凭借其先进的嵌入式功能，IIS2ICLX降低了系统功耗，延长了电池供电节点的续航时间。该数字测斜仪的固有特性可简化与高性能产品的集成，同时最大程度地减少传感器校准工作和成本。

IIS2ICLX采用MEMS加速度计技术，具有±0.5 / ±1 / ±2 / ±3g的可选满量程，并通过I2C或SPI数字接口输出数据。嵌入式补偿单元使温度漂移保持在0.075mg/°C以内，即使环境温度发生剧烈波动，传感器的测量精度和重复性也非常出色。15μg/√Hz的超低噪声密度可实现高分辨率倾角监测以及结构健康监测所需的低幅值、低频振动感测。

IIS2ICLX具有高稳定性、可重复性、高精度和高分辨率等优点，特别适合工业应用，例如天线指向监测、云台调平、叉车和建筑机械、调平仪器、设备安装监测、太阳能板安装和光线跟踪，以及“工业4.0”应用，例如机器人和自动导引车（AGV）。

在结构健康监测中，IIS2ICLX可以准确地测量倾斜度和振动，帮助评估人员分析高楼等高耸建筑物、桥梁或隧道等基础设施的结构完整性。与采用早期的较昂贵的结构健康监测传感器相比，基于MEMS技术的IIS2ICLX价格适中，能够满足对更多结构进行安全监测的需求。

许多高精度测斜仪都是单轴测量设备，而基于2轴MEMS加速度计的IIS2ICLX则可以检测两个坐标轴与水平面的倾斜角（俯仰角和翻转角），或者将两个坐标轴合并成单轴，测量物体与水平面单一方向的倾斜角，并且可重复测量精度和分辨率更高，可测量±180°范围内的倾角。IIS2ICLX的数字输出可以节省外部数模转换或滤波器件，简化系统设计，降低物料清单（BOM）成本。

为了简化IIS2ICLX的应用开发，加快产品上市周期，意法半导体还提供了专门的传感器校准和倾斜角实时计算软件库，这些软件库属于STM32Cube的X-CUBE-MEMS1扩展软件包。

IIS2ICLX采用高性能陶瓷腔LGA封装，尺寸为5mm x 5mm x 1.7mm，工作温度范围-40℃至+105℃。该产品现已投入批量生产，网上价格为15美元/个，可提供样片。