光敏电阻光线（可见光）的强弱变化实验案例

突然发现上个月买的单片机盒子里有个光敏电阻，这个没玩过，所以赶紧试试。光敏电阻器的阻值随入射光线（可见光）的强弱变化而变化，在黑暗条件下，它的阻值（暗阻）可达1~10M欧,在强光条件（100LX）下，它阻值（亮阻）仅有几百至数千欧姆。

下面看一下电路图:（我们把光敏电阻接入AIN0通道的J2插针处）

如何操作AD还是按照前篇文章的三步走战略，但是光敏电阻组值变动范围太大，很难严格的说出量程范围，我们只需要大体估计个就行，反正有比例关系。

我们知道当没有光照射的时候，光敏电阻阻值最大，AD将获得最大值(全1)，我们索性规定当没有光照射的时候，输入的电压就是5V，这样对应的系数就有了，255 / 5 = 51 。（有些朋友可能会乱，哪里来这么多的规定！？要明白我要要检测AD转换的数字值，8位AD最大只能显示255，所以你模拟量再怎么变，AD最大到255就不动了，也许AD达到255的时候，我们估计的电阻值距离实际电阻值相差甚远，不过没关系，大体的比例关系有了），确定了系数就好了(51),没有光照情况下，将输出5.0V，其他的值就类推就OK了。

那怎么用呢，在程序中，我们可以检测测量到的值，当>4.5可粗略认为没有光照，当>3.0V且<4.5V代表有弱光照射，当<3.0V可代表有强光照射，进而我们可以进行其他的控制。我这里做实验只是简单的用LCD显示一下：

（上图为光敏电阻有弱光照）

（上图为光敏电阻有稍强光照）

代码非常简单：

#include "1602.h"
#include "iic.h"
#include 

uchar temp,AIN0,TempData[2];

int main()
{
    INIT_1602();
    IIC_INIT();    

    while(1)
    {
        temp = read_byte(0x91,0x40);
        AIN0 = read_byte(0x91,0x40);
        TempData[0] = AIN0 / 51;
        TempData[1]=(((uchar)(((float)AIN0 / 51) * 10)) % 10); 
    
        write_byte_lcd(0,7,0x30 + TempData[0]);
        write_byte_lcd(0,8,'.');
        write_byte_lcd(0,9,0x30 + TempData[1]);
    }
}

工程文件：