小型DR平板透视仪,是一种X线直接转换技术,它利用硒作为X线检测器是基于技术,它利用影像板作为X线检测器,成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息,灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理主要内容是:闪烁,传感器和电子控制单元,数据读出并传输到工作站。
动态平板探测器设计允许的DFP发展不同探测器尺寸,这取决于应用领域。动态平板探测器最大的好处是一鲁棒控制和设计,读出电路嵌入,直接进入图像传感器芯片。动态平板探测器基于CMOS的DFP,技术包括二极管传感器阵列的像素尺寸50微米。这使极低暗电流和读出噪声值,高二极管参数一致性,动态平板探测器高倍率的X光透视检查高达100帧,在整个活动地方就可以实现。
技术参数:
像素区域:160×130mm
像素分辨率:1280×1024
有效分辨率:1274×1024
像素大小:125×125um
图像1280×1024×2=2.6Mbyte
结构尺寸约250×170mmx厚1.5mm
1. DC插头,5.5×2.5mm,24v电源口
2. 天线外接接口, 图像无线传输(双天线)。
3. RJ45网口,带指示灯
4. 指示灯(电源、WIFI等)
责任编辑:gt
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