21世纪以来,微电子技术获得了突飞猛进的发展,以HDL语言描述、系统级仿真和综合技术为特点、以自动化设计为目标的EDA工具逐渐出现,并发展为今天这样的面向专用集成电路(ASIC)的设计流程。
我们可以发现:2000年以来EDA的发展,均只是叠加式的改进,从抽象层级、设计方法学角度来看,没有出现很大的改变。5月26日,芯华章产品和业务规划总监杨晔在2021年DVCon中国设计与验证大会作主题为“Next Generation of EDA”的演讲。
“后摩尔时代芯片设计转向由系统应用厂商的创新来驱动,但把垂直应用的需求转化到芯片的流程面临诸多挑战。芯片公司在验证这一环节上花费的时间和成本已高达70%,但依然还是会因项目众多,人手不足、工具及硬件资源限制,导致项目进展被不断延后。”
杨晔在演讲中说道,“芯华章针对后摩尔时代的芯片设计需求,开创性地提出新一代EDA理念——更开放和更智能的EDA,致力于提高芯片设计效率,降低EDA使用门槛。新一代EDA将有望为行业提供从应用系统需求到芯片设计的全新流程。”
此外,在本届大会中,芯华章还带来了两场不同维度的验证技术研讨。芯华章产品和业务规划总监黄武与芯华章资深研发经理高世超,深度解析了PSS的高效表达、约束随机和高级建模等特点,并与参会者共同探讨了如何将PSS解决方案推广至IP、SoC等验证的不同维度,以及如何利用PSS工具进行高效智能验证。
芯华章技术总监孙喆从汽车芯片功能安全设计角度出发,以故障树分析(FTA)的安全方法为例,介绍了在汽车芯片功能安全验证中提高诊断覆盖率的基础方法。
芯华章的3场技术性演讲与研讨得到了众多行业伙伴的高度认可,未来芯华章将全速推进研发进程,锐意创新,开启集成电路设计新纪元。
原文标题:新一代EDA——开启集成电路设计新纪元
文章出处:【微信公众号:芯华章科技】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。
责任编辑:haq
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