现在介绍该模型的几个元素,如下所示。首先,我们讨论关键通道区域。这里我们使用著名的伯克利BSIM 3v3模型。只要有可能,我们就尽力不做重复工作。在本例中,我们尝试建模一个适合BSIM模型的MOSFET通道。该模型以物理为基础,通过亚阈值、弱反和强反准确地捕捉转换过程。此外,它具有很好的速度和收敛性,广泛适用于多个仿真平台。
图1显示典型的碳化硅MOSFET器件的横截面。图2展示我们精简版本的子电路模型。
接下来,我们需要包含由EPI区域的多晶硅重叠形成的门极到漏极的临界电容CGD。该电容器基本上是高度非线性金属氧化物半导体(MOS)电容器。该电容的耗尽区域依赖于复杂的工艺参数,包括掺杂分布、p阱dpw之间的距离和外延层的厚度。基于物理的模型考虑到所有这些影响,采用SPICE不可知论的行为方法实现。稍后,我们将谈谈什么是SPICE不可知论方法。
从横截面开始,我们将介绍芯片布局可扩展性的一些概念和构造,如图3所示,灰色区域是有源区。蓝色无源区与裸芯边缘、门极焊盘(gate pad)和门极流道(gate runners)相关联。基于物理几何的导子决定了无源区和有源区之间的分布,这是实现可扩展性所必需的。我们非常关注在有源和无源区边界区域形成的寄生电容。一旦您开始忽略布局中的寄生电容,什么时候停止?所有可忽略的电容最终加起来就成了一个问题。在这种情况下无法实现扩展。我们的理念是使寄生电容为0。
碳化硅MOSFET支持非常快的dV/dts,约每纳秒50 V至100 V,而dI/dts则支持每纳秒3 A至6 A。本征器件门极电阻很重要,可用来抗电磁干扰(EMI)。在图3中右边的设计有较少的门极流道,因此RG较高;很好地限制振铃。图3左边的设计有许多门极流道,因此RG较低。左边的设计适用于快速开关,但每个区域有更高的RDSon,因为门极流道吞噬了有源区。
审核编辑:郭婷
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