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利用示波器探头进行开关损耗测试

PRBTEK 来源:PRBTEK 作者:PRBTEK 2022-06-20 10:05 次阅读

如今的开关电源技术很大程度上依托于电源半导体开关器件,如MOSFETIGBT。这些器件提供了快速开关速度,能够耐受没有规律的电压峰值。同时在On或Off状态下小号的功率非常小,实现了很高的转化效率,热损耗极低。

开关设备极大程度上决定了SMPS的整体性能。开关器件的损耗可以说是开关电源中最为重要的一个损耗点,课件开关损耗测试是至关重要的。本文仅就开关损耗测试方案中的探头应用进行介绍。

pYYBAGKv1fGAAa_AAAEt8PcWZFI799.png

上图使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探头。

以上方案中通过示波器专门的开关损耗算法,配合泰克探头,完美补偿探头延迟,减少了开关损耗运算过程中产生的误差。测试结果极为可靠。

TCP0030A及THDP0200参数

poYBAGKv1fGACc7DAABfJqYr-84382.png

探头外观图

pYYBAGKv1fKAFObHAABlXt2PPTc045.png

TCP0030A

poYBAGKv1fKAT8mwAADimcXmcQU522.png

THDP0200

附:常见参数介绍

1、带宽,代表了探头可测到的最大信号频率

2、共模抑制比,代表了探头抑制共模干扰的能力,越大代表抑制能力越强

3、输入电容,代表探头对于被测系统的负载影响,输入电容越低,影响越小测试效果越好。

审核编辑:汤梓红

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