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一个基本的共源电路

GReq_mcu168 来源:加油射频工程师 作者:加油射频工程师 2022-07-18 14:34 次阅读

学习razavi的书籍以及视频,给人感觉,就是每一个电路都不是平白无故来的,其产生都是因为有需求。

一个基本的共源电路,如下图所示。共源电路的定义为输入在栅极,输出在漏极。

92b4f78e-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

如果考虑沟道调制效应,并假设其工作在饱和区,则其等效小信号模型如下图所示。

92c9be4e-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

gmV1+Vout/r0+Vout/RD=0

Vout/Vin=-gm(r0//RD)

也就是说,上图中的电压增益为:

Av=-gm(r0//RD)

因为r0//RD

从上面的公式可知,想要提高电压的增益,则可以从三个方面入手:

(1) 增加RD

(2) 增加r0

(3) 增加gm

先说,增加RD。从上面的共源电路可知,如果RD增加,同时保持ID不变的话,那VDS必定下降,则可能会使管子从饱和区进入到线性区。所以想要靠增加RD来提高电压增益的话,空间有限。

但是,有没有办法,让RD趋向于无穷大呢?或者说,在小信号等效模型时,等效于无穷大。

回想一下,恒流源的小信号等效模型,发现其等效模型为开路,即等效于无穷大。

92ed15b0-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

所以,如果用恒流源来替代电阻RD的话,应该就能实现刚才提出的愿望。因为此时:

(1) 直流偏置下,可以提供稳定的偏置电流

(2) 小信号模型下,开路,即等效于RD趋向于无穷大。

此时 ,Av=-gm*r0。

这个电压增益称为MOS管的intrinsic gain,即MOS的固有增益,是管子能达到的最大增益。

但是怎么能实现这个电流源呢?

再回想一下,当MOS管工作在饱和区时,其漏极和源极之间,就是一个受控电流源,而且此受控电流源接近于恒流源。

所以,可以尝试用这个受控电流源来实现上面要求。

92f76f60-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

不过,NMOS和PMOS实现的电流源有一定的局限性,即NMOS实现的电流源只能是从任意结点流向地,而PMOS实现的电流源只能是从电流源流向任意结点。他们都无法实现从任意结点流向另一个任意结点的电流源。

有了电流源的实现方法,就有了下面的电路。

930448f2-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

这个电路有个名称,叫做common-source stage with current source load,翻译过来就是具有电流源负载的共源极电路。因为ro1和ro2一般都比较大,所以放大器的增益肉眼可见的提高了。

由上图可知,其电压增益正比于gm,gm的其中一个表达式,如下图所示。公式中的因素的变化,都会引起gm的变化,进而引起增益的变化。

930f33ac-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

比如说:

(1)电子和空穴的迁移率都和温度相关

(2) 供电电压的变化也会反应到ID上

(3)加工误差,比如不同wafer之间的迁移率和开启电压都会有所差别

(4)信号幅度,小信号模型是基于信号很小的情况下,如果信号幅度比较大,那么不同幅度下对应的ID不一样,会导致gain不一样

设计电路时,需要减弱这些不良影响.

而以下构建的电路,则可以减小这些因素的影响。

这个构建电路的基础,就是diode-connected MOS.

931d037e-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

如果用上述电路来代替负载电阻RD的话,会起到想不到的结果。

932b7c24-0660-11ed-ba43-dac502259ad0.png

可以看到,如果使用diode-connected MOS管来代替负载电阻RD的话,最后得出的增益,只与管子本身的尺寸相关,与电子迁移率啊,电流ID的大小啊,都没有关系了,大大增加了鲁棒性。

一个基本的共源极电路,想提高它的增益,发现如果增加RD的值,会导致管子的工作状态从饱和区进入线性区;

转换思路,用恒流源太替代RD,这样保证偏置和无穷大电阻共存;接着用MOS管来实现恒流源;

发现增益,受环境影响太大,就用diode-connected MOS来替代RD,使得其增益只和管子的尺寸相关。

审核编辑:汤梓红

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原文标题:一切电路,皆有因!

文章出处:【微信号:mcu168,微信公众号:硬件攻城狮】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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