电子发烧友网报道(文/黄晶晶)当前中国芯片设计公司已超过3000家,这庞大的设计公司数量对EDA和测试测量等企业来说是不错的客户群。同时,许多新兴产业包括芯片设计本身正迎来数字化和智能化的发展机遇。那么如何助力中国芯片公司进行创新,卡位新机会呢?在2022中国集成电路设计创新大会暨IC 应用博览会期间,电子发烧友采访了数位EDA和测试测量企业的高管。他们对于当前如何推动中国芯片设计的创新进行了观点分享。
行芯科技董事长兼总经理贺青表示,中国EDA工具的研发需要的芯片设计、晶圆制造和EDA企业共同努力,用数倍于国外的速度加速研发进程。正所谓“天下武功唯快不破”。
图:行芯科技董事长兼总经理贺青
芯行科技专注于芯片物理设计签核与验证领域,提供广泛的、业界领先的产品组合,包括寄生提取、功耗完整性、电迁移、IR压降、可靠性与多物理域等,以解决先进工艺下不断增长的挑战。行芯一站式Signoff平台通过底层架构与算法创新,重构先进工艺建模流程,加速芯片设计签核收敛。
贺青进一步表示,数字EDA全流程需要有更多的企业参与,大家共同推动各环节进展。这其中还离不开客户的参与,只有客户在使用中帮助EDA工具不断迭代,才能让工具更快地成熟。
有观点认为要打造国产数字EDA工具全流程至少需要花费4年时间、用3000技术人员,投入200亿元来完成。现阶段,资金并不是最大的问题,而是不仅技术人员的缺乏,而且EDA产品也会面临重复研发等问题。整体来看国产数字EDA工具全流程至少还有30%-40%的缺口。
英诺达成立于2020年12月,是一家由硅谷海归和国内EDA人才创立的本土EDA公司。通过 EDA工具上云的实践,基于自主知识产权的EDA软件及 IP的研发,为国内IC设计企业、科研院所、高等院校等提供IC设计相关的EDA工具、IP及设计服务和相关技术支持。据悉,英诺达自研的EDA工具聚焦于低功耗数字链路设计领域,已经有两款EDA工具正在开发中,未来则会继续布局数字电路设计中端领域的EDA工具开发。
图:英诺达副总裁熊文
英诺达副总裁熊文表示低功耗对于芯片设计来说是一个痛点,比如超算领域,芯片做得很大、工艺节点先进,但是芯片发热是一个问题,英诺达希望从RTL阶段开始帮助芯片设计降低节耗。另一方面,英诺达的硬件云平台租赁,不是传统意义的卖license,而是帮助客户解决实际问题,客户按需付费。
数据是芯片设计公司的核心,往往担心将设计交由公有云或者私有云平台,这对EDA上云带来一定的压力。不过,熊文认为,当产有芯片设计公司的人力成本、制造流片成本、IP成本都比较高,而很多EDA软件需要很长的运算时间,运算占据大量的基层资源,如果一家公司因为这些特定的应用添置硬件资源,会造成较大的成本压力或者说是一种浪费。即便是租用计算机,也要考虑机房的空间。因此,EDA上云可能是未来行业不得不走的一条道路,客户选择我们的云服务,也是对英诺达保护客户数据的认可。
NI亚太区半导体业务发展经理周文昊认为半导体是一个分工细致的行业,无论是哪一家企业都是要给客户提供价值,这是不同细分领域的企业最终取得成功的关键。
图:NI亚太区半导体业务发展经理周文昊
NI一直倡导软硬件协同,并提出“in China for China”,在中国设立NI创新中心,进一步加深与中国本土企业的合作,包括解决方案的伙伴。
他进一步认为,在半导体产业非常火热的今天,半导体企业面临的一个挑战是人员流动比较频繁,然而无论设计工作还是测试工作都依赖于有能力的工程师。那么对半导体测试而言,每个企业需要构建内部测试架构,有效地标准化相应地IP,并建立一个持续可迭代的流程,这是企业生存和发展的重要组成部分。NI希望与国内企业、合作伙伴一起推动良性的测试系统的构建。
NI注意到多数使用者在自动化软硬件的过程中,须要花费相当的时间熟练使用。因此,NI一方面以模块化仪器让系统更简捷,让用户更容易对设备进行直接操控,另一方面提供针对芯片应用的自动化测试插件于测试框架中,提升设备的利䚲率、成本、测试吞吐,从而提升整休的测试效率。
是德科技运营总监任彦楠表示,是德科技主要提供通用的测议测量设备,包括示波器、万用表、中测仪等等,覆盖比较长的产业链和尽可能多的客户,无论是芯片还是手机再到基站等,是德科技提供上万种通用设备用在各个环节,能够保持良好的测试一致性。对于大部分的电子测试、测量,只要是电子信号基本都可以测。因此,是德科技有一个口号是只要有电子信号的地方就有是德科技。
图:是德科技运营总监任彦楠
在支持国内芯片厂商创新方面,是德做了很多工作。举例来说,5G基带芯片是国内发展比较快的大型芯片,是德科技的测试工作已走得非常前沿,在基带芯片流片之前,仿真机验证阶段就层一到层三的验证。还提供一个U Clock方案,为基带芯片厂商提供做验证,用于早期的性能优化,从而提高芯片的良率。
与Foundry合作方面,是德科技提供测试和EDA工具,在射频前端工艺制程里电磁仿真和射频仿真结合了是德的编译工具,也就是把工艺、建模、仿真集合成一套工具,为芯片制造铺路。
孤波科技 CEO何为认为,中国客户与国外客户很大的不同在于,国外客户的一些技术专家拥有二三十年的经验,他们对测试设备的使用非常专业。而国内客户可能并不熟悉这些设备的使用,同时还要快速地做产品研发创新。从工具角度来说,需要有第三方提供更好更快的解决方案,让国内客户真正地用起来,加速他们的创新步伐。成立孤波科技的初衷正是看到了这样的痛点,希望将中国互联网最先进的软件技术与半导体行业知识,以及NI这样的开放硬件结合起来,打造成能够更好地为客户服务的解决方案。
图:孤波科技 CEO何为
据介绍,孤波科技有三条产品线:一是与NI紧密相关的测试自动化,将软件和硬件解耦,让很多家不同的硬件都可以集合到一个软件平台上,变成一个可以用于量产的实验室机台提供给客户。例如为了加速车规MCU的芯片难证,孤波科技提供基于工具提供一套完整的自动化测试方案,将原先手动操作需要两三个月进行验证的流程,缩短至两周。
二是数据,中国市场对数据工具的深度要求不太高,但对覆盖面要求更多,因此,孤波科技提供测试海量数据的管理和分析的工具。
三是研发系统管理的产品线,对于中型高速发展的中国公司,他们需要把所有管理流程线上化、数字化,需要有工具支撑。
国产EDA唯快不破
当前国产EDA已经完成模拟全流程的工具,走在从有到成熟的道路上。但数字EDA全流程还有不小差距,还走在从无到有的路上。那么,我们如何破局呢?再把国外巨头的成本路径再走一遍的办法,显然行不通。行芯科技董事长兼总经理贺青表示,中国EDA工具的研发需要的芯片设计、晶圆制造和EDA企业共同努力,用数倍于国外的速度加速研发进程。正所谓“天下武功唯快不破”。
图:行芯科技董事长兼总经理贺青
芯行科技专注于芯片物理设计签核与验证领域,提供广泛的、业界领先的产品组合,包括寄生提取、功耗完整性、电迁移、IR压降、可靠性与多物理域等,以解决先进工艺下不断增长的挑战。行芯一站式Signoff平台通过底层架构与算法创新,重构先进工艺建模流程,加速芯片设计签核收敛。
贺青进一步表示,数字EDA全流程需要有更多的企业参与,大家共同推动各环节进展。这其中还离不开客户的参与,只有客户在使用中帮助EDA工具不断迭代,才能让工具更快地成熟。
有观点认为要打造国产数字EDA工具全流程至少需要花费4年时间、用3000技术人员,投入200亿元来完成。现阶段,资金并不是最大的问题,而是不仅技术人员的缺乏,而且EDA产品也会面临重复研发等问题。整体来看国产数字EDA工具全流程至少还有30%-40%的缺口。
英诺达成立于2020年12月,是一家由硅谷海归和国内EDA人才创立的本土EDA公司。通过 EDA工具上云的实践,基于自主知识产权的EDA软件及 IP的研发,为国内IC设计企业、科研院所、高等院校等提供IC设计相关的EDA工具、IP及设计服务和相关技术支持。据悉,英诺达自研的EDA工具聚焦于低功耗数字链路设计领域,已经有两款EDA工具正在开发中,未来则会继续布局数字电路设计中端领域的EDA工具开发。
图:英诺达副总裁熊文
英诺达副总裁熊文表示低功耗对于芯片设计来说是一个痛点,比如超算领域,芯片做得很大、工艺节点先进,但是芯片发热是一个问题,英诺达希望从RTL阶段开始帮助芯片设计降低节耗。另一方面,英诺达的硬件云平台租赁,不是传统意义的卖license,而是帮助客户解决实际问题,客户按需付费。
数据是芯片设计公司的核心,往往担心将设计交由公有云或者私有云平台,这对EDA上云带来一定的压力。不过,熊文认为,当产有芯片设计公司的人力成本、制造流片成本、IP成本都比较高,而很多EDA软件需要很长的运算时间,运算占据大量的基层资源,如果一家公司因为这些特定的应用添置硬件资源,会造成较大的成本压力或者说是一种浪费。即便是租用计算机,也要考虑机房的空间。因此,EDA上云可能是未来行业不得不走的一条道路,客户选择我们的云服务,也是对英诺达保护客户数据的认可。
芯片研发厉兵秣马 测试测量先行
NI致力于开发基于计算机的测试测量与自动化平台,帮助测试、控制、设计领域的工程师解决从设计、原型到发布过程中所遇到的种种挑战。NI亚太区半导体业务发展经理周文昊认为半导体是一个分工细致的行业,无论是哪一家企业都是要给客户提供价值,这是不同细分领域的企业最终取得成功的关键。
图:NI亚太区半导体业务发展经理周文昊
NI一直倡导软硬件协同,并提出“in China for China”,在中国设立NI创新中心,进一步加深与中国本土企业的合作,包括解决方案的伙伴。
他进一步认为,在半导体产业非常火热的今天,半导体企业面临的一个挑战是人员流动比较频繁,然而无论设计工作还是测试工作都依赖于有能力的工程师。那么对半导体测试而言,每个企业需要构建内部测试架构,有效地标准化相应地IP,并建立一个持续可迭代的流程,这是企业生存和发展的重要组成部分。NI希望与国内企业、合作伙伴一起推动良性的测试系统的构建。
NI注意到多数使用者在自动化软硬件的过程中,须要花费相当的时间熟练使用。因此,NI一方面以模块化仪器让系统更简捷,让用户更容易对设备进行直接操控,另一方面提供针对芯片应用的自动化测试插件于测试框架中,提升设备的利䚲率、成本、测试吞吐,从而提升整休的测试效率。
是德科技运营总监任彦楠表示,是德科技主要提供通用的测议测量设备,包括示波器、万用表、中测仪等等,覆盖比较长的产业链和尽可能多的客户,无论是芯片还是手机再到基站等,是德科技提供上万种通用设备用在各个环节,能够保持良好的测试一致性。对于大部分的电子测试、测量,只要是电子信号基本都可以测。因此,是德科技有一个口号是只要有电子信号的地方就有是德科技。
图:是德科技运营总监任彦楠
在支持国内芯片厂商创新方面,是德做了很多工作。举例来说,5G基带芯片是国内发展比较快的大型芯片,是德科技的测试工作已走得非常前沿,在基带芯片流片之前,仿真机验证阶段就层一到层三的验证。还提供一个U Clock方案,为基带芯片厂商提供做验证,用于早期的性能优化,从而提高芯片的良率。
与Foundry合作方面,是德科技提供测试和EDA工具,在射频前端工艺制程里电磁仿真和射频仿真结合了是德的编译工具,也就是把工艺、建模、仿真集合成一套工具,为芯片制造铺路。
孤波科技 CEO何为认为,中国客户与国外客户很大的不同在于,国外客户的一些技术专家拥有二三十年的经验,他们对测试设备的使用非常专业。而国内客户可能并不熟悉这些设备的使用,同时还要快速地做产品研发创新。从工具角度来说,需要有第三方提供更好更快的解决方案,让国内客户真正地用起来,加速他们的创新步伐。成立孤波科技的初衷正是看到了这样的痛点,希望将中国互联网最先进的软件技术与半导体行业知识,以及NI这样的开放硬件结合起来,打造成能够更好地为客户服务的解决方案。
图:孤波科技 CEO何为
据介绍,孤波科技有三条产品线:一是与NI紧密相关的测试自动化,将软件和硬件解耦,让很多家不同的硬件都可以集合到一个软件平台上,变成一个可以用于量产的实验室机台提供给客户。例如为了加速车规MCU的芯片难证,孤波科技提供基于工具提供一套完整的自动化测试方案,将原先手动操作需要两三个月进行验证的流程,缩短至两周。
二是数据,中国市场对数据工具的深度要求不太高,但对覆盖面要求更多,因此,孤波科技提供测试海量数据的管理和分析的工具。
三是研发系统管理的产品线,对于中型高速发展的中国公司,他们需要把所有管理流程线上化、数字化,需要有工具支撑。
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
芯片
+关注
关注
454文章
50502浏览量
422330 -
eda
+关注
关注
71文章
2717浏览量
173010
发布评论请先 登录
相关推荐
中国芯片新锐50强
中国芯片新锐50榜单旨在遴选出国内在芯片设计、制造、封装测试等领域具有突出创新能力和发展潜力的优秀企业,旨在促进中国芯片产业的健康发展,为行业发展提供参考,并为潜在投资者提供有价值的信
什么是AEC-Q102的恒定加速度测试?
于确保电子设备在关键应用中的可靠性和安全性至关重要。测试机制恒定加速度测试模拟了电子元件在实际使用中可能遇到的离心力影响。在受控环境中,对元件施加恒定的加速度,以模
加速度传感器的应用
加速度传感器是一种能够测量加速度的传感器。通常由质量块、阻尼器、弹性元件、敏感元件和适调电路等部分组成。传感器在加速过程中,通过对质量块所受惯性力的测量,利用牛顿第二定律获得加速度值。
物联网系统中加速度测试方案的实现_加速度传感器分析
01 物联网系统中为什么要使用加速度传感器 在物联网系统中,使用加速度传感器的原因主要基于加速度传感器所具备的功能特性及其在物联网应用中的重要作用。以下是对这一问题的详细解析: 加速度
LIS2DE12加速度传感器能否保存数据一次获取?当读取xyz轴加速度时获得的是当前实时加速度吗?
LIS2DE12加速度传感器能否保存数据一次获取,当读取xyz轴加速度时获得的是当前实时加速度吗?
发表于 04-02 06:53
加速度传感器的基本力学模型是什么
加速度传感器的基本力学模型是一个受力物体的运动学和动力学模型的组合。本文将从以下几个方面介绍加速度传感器的基本力学模型。 一、运动学模型 加速度传感器的运动学模型主要描述传感器在空间中的位置、
加速度传感器原理及其应用
常见的加速度传感器工作原理有三种:压电原理、电容原理和微机电系统(MEMS)原理。 1.压电原理:压电加速度传感器通过压电材料的压电效应来测量加速度。当受到力或加速度时,压电材料会产生
ADXL345各轴加速度值有较大波动的原因?
ADXL345各轴加速度值有较大波动
1、如静止不动,其测得的各轴加速度值有近30%-50%的波动
2、芯片转换个位置,静止不动,各轴测的加速度值有十分大的变化,为什么。
难道
发表于 01-02 08:22
ADXL345的x轴测出的加速度是离心加速度吗?
请问当ADXL345安放在一个旋转物体的圆周上,而且ADXL345的x轴指向旋转物体的圆心,ADXL345的x轴测出的加速度是离心加速度么?
发表于 01-01 08:16
ADI362如何得到线性加速度的值?
我看到ST公司的加速度传感器,可以同时输出普通含有重力加速度的值以及滤波过后的线性加速度值。请问使用ADI362可以得到同样的各个轴的线性加速度值吗? 如果要使用外部滤波算法,可否有推
发表于 01-01 06:56
两轴加速度计和三轴加速度计的使用区别?
有个问题请教一下:在静态测量的情况下,两轴的加速度计在测得X、Y轴上的加速度后,是不是就可以根据这两个值和重力加速度g算出Z轴方向的加速度,这样的话XYZ三个方向的角度也可以推导出来。
发表于 12-29 06:06
ADXL345本身支持加速度输出,是否有办法直接把加速度转成速度?
您好,
ADXL345本身支持加速度输出,是否有办法直接把加速度转成速度。
另外ADI是否有直接输出速度的IC方案
发表于 12-27 06:53
mems加速度计的量程是指什么
Mems加速度计(Micro Electro Mechanical Systems Accelerometer)是一种微型化的加速度传感器,可以测量物体在三个轴向上的加速度,并且广泛地应用于许多领域
评论