蚀刻工艺有两个基本类别:湿蚀刻(wet)和干蚀刻(dry)。湿刻蚀是材料浸入化学溶液后会溶解。干燥刻蚀使用反应性离子或气相蚀刻剂来溅射或溶解材料。
湿蚀刻(wet)和干蚀刻(dry)在应用效果中各有利弊。下边这两个表的对比供参考。今天重点聊一下湿刻蚀。
湿刻蚀(wet etching)
湿化学蚀刻通过将基板浸入溶解液,选择性地去除材料。该蚀刻工艺的化学性质提供了良好的选择性,如果精心选择,目标材料的蚀刻速率将大大高于掩模材料。
蚀刻在各个方向上以相同的速度进行(Isotropic etching)。掩模中的长而窄的孔会在硅中产生V形凹槽。如果正确进行蚀刻,则这些凹槽的表面在原子上可以是光滑的,并且尺寸和角度非常精确。
某些单晶材料(例如:硅)将根据基材的晶体学取向而具有不同的蚀刻速率。这被称为各向异性蚀刻(Anisotropic etching),最常见的例子之一是在KOH(氢氧化钾)中蚀刻硅,其中Si <111>平面的蚀刻速度比其他平面(晶体学取向)慢约100倍。因此,在(100)-Si晶片中蚀刻矩形孔会导致金字塔形的蚀刻凹坑具有54.7°的壁,而不是像各向同性蚀刻那样具有侧壁弯曲的孔。
使用氢氟酸(HF etching)腐蚀,一般会采用稀释的水性蚀刻剂,通常以49%的浓缩形式,5:1、10:1或20:1的缓冲氧化物蚀刻剂或稀释的HF(buffered oxide etchant,BOE)。这一技术在中世纪就已经用于玻璃蚀刻。如今被用于集成电路(IC)制造中以构图栅极氧化物,直到该工艺步骤被RIE(reactive ion etching)取代。
氢氟酸(氢氟酸(HF)的腐蚀性 - 用电灯泡做个试验)尽管是一种弱酸,之所以称之为弱酸,是因为开始如果人体接触初期并没有明显的疼痛感觉,发现时已经为时已晚。氢氟酸被认为是洁净室中较危险的酸溶液之一。如果人体接触,会渗透皮肤,并直接扩散到骨骼。
用于选择性地去除硅的掺杂剂的电化学蚀刻(Electro-chemical etching,ECE)是一种较为自主的腐蚀方法,可以有选择地控制蚀刻。需要一个有源的p-n二极管结,一些掺杂剂是用于抗腐蚀速度的(“腐蚀停止”);例如:硼(boron)是常见的蚀刻停止的掺杂剂(etch-stop dopant)。
结合如上所述的湿法各向异性蚀刻,ECE已成功用于控制商用压阻硅压力传感器中的硅膜片厚度。可以通过硅的注入(implantation),扩散(diffusion)或外延沉积(epitaxial deposition of silico)来产生选择性掺杂的区域。 湿刻蚀广泛应用于IC制造业。
审核编辑:刘清
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原文标题:MEMS制造技术 - 刻蚀(etching)
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