高速电路中串扰引发的损耗问题

编者注：本文内容看似简单，但是简单结果的背后却隐藏着很多深层次的问题，欢迎大家给出你们的答案。此类问题在多个行业产品当中常常会出现。

随着信号速率的提升，以及小型化产品的发展趋势，如何减小串扰变得越来越棘手。众所周知，串扰与很多因素有关系，比如传输线之间的间距，传输线耦合的长度，攻击信号的上升时间，阻抗不连续等等。因为串扰问题比较复杂，要是解决不好，还有可能会影响到其它信号完整性的问题。

今天给大家分享一个串扰引发损耗变大的问题。这类问题经常出现在小型化的产品、连接器、线缆等产品中。

首先在ADS原理图中搭建一个仿真电路，扫描仿真间距为11mil和60mil两种情况。

运行仿真之后查看插入损耗的结果：

Disable电路图上的R1和R2：

仿真如下图所示：

从结果上分析来看，去掉电阻后，距离为60mil时，结果几乎没有变化，但是间距为11mil时，结果却完全不一致，产生了三个非常大的谐振点。这就足以导致产品不满足设计的要求。

从上面仿真结果中，我们可以看到解决这个问题有两个非常便捷常用的方式，要么拉大距离、要么做好端接。大家可以相互讨论下有没有其它的解决方案呢？答案肯定是有的，大家可以多多讨论下。

审核编辑：汤梓红