提高语音IC电路抗干扰能力的若干方法
许多厂家使用的语音IC遇到了一些非常奇怪的问题，产品发运给客户，甚至在测试包装过程中，测试功能，检查电池（AG13汞和按钮电池）是否鼓起？有无电压；你会发现光形状的电池会出现发热，重新换装电池会得到一切测试值正常；这是一种很奇怪的现象。我们称之为语音IC抗干扰测试。
如何进行语音IC抗干扰测试？
在语音IC正常Reset后，对语音IC的几Input分别输入1-20us的Pulse，检测语音IC是否动作异常，并监测语音IC的Isb变化。测试发现当Pulse过来时，示波器测到语音IC OSC脚电压变低，指示语音IC退出Sleep状态，电流也会增加到2mA，但是不会维持在2mA，会很快降到1uA以下。但是有时语音IC在电流从0uA变为2mA后，会一直维持在2mA，不会降到正常值，语音IC此时不能回到Sleep状态，由于电流一直维持在2mA，电池会慢慢耗尽。
语音IC会被Short pulse唤醒的现象始终存在，与设置Debounce时间的长短无关，Debounce时间长只能让语音IC不响应此Short pulse，做相关动作，不能使语音IC不被唤醒。
我们处理这个问题的经验是将102个电容器和10k电阻并联，加入组件吸收Input的噪声。测试2小时后，输入Pulse后语音IC不工作，电流始终维持在0uA。则表示输入Input的信号全部被电容吸收，抗干扰测试成功。
审核编辑：汤梓红
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