许多厂家使用的语音IC遇到了一些非常奇怪的问题,产品发运给客户,甚至在测试包装过程中,测试功能,检查电池(AG13汞和按钮电池)是否鼓起?有无电压;你会发现光形状的电池会出现发热,重新换装电池会得到一切测试值正常;这是一种很奇怪的现象。我们称之为语音IC抗干扰测试。
如何进行语音IC抗干扰测试?
在语音IC正常Reset后,对语音IC的几Input分别输入1-20us的Pulse,检测语音IC是否动作异常,并监测语音IC的Isb变化。测试发现当Pulse过来时,示波器测到语音IC OSC脚电压变低,指示语音IC退出Sleep状态,电流也会增加到2mA,但是不会维持在2mA,会很快降到1uA以下。但是有时语音IC在电流从0uA变为2mA后,会一直维持在2mA,不会降到正常值,语音IC此时不能回到Sleep状态,由于电流一直维持在2mA,电池会慢慢耗尽。
语音IC会被Short pulse唤醒的现象始终存在,与设置Debounce时间的长短无关,Debounce时间长只能让语音IC不响应此Short pulse,做相关动作,不能使语音IC不被唤醒。
我们处理这个问题的经验是将102个电容器和10k电阻并联,加入组件吸收Input的噪声。测试2小时后,输入Pulse后语音IC不工作,电流始终维持在0uA。则表示输入Input的信号全部被电容吸收,抗干扰测试成功。
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原文标题:提高语音IC电路抗干扰能力的若干方法。
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