0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

MLCC的失效原因分析

wFVr_Hardware_1 来源:硬件十万个为什么 作者:硬件十万个为什么 2022-11-28 15:40 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

MLCC由陶瓷介质、端电极、金属电极三种材料构成。由于陶瓷的特性一般比较脆,所以会因为应力或温度导致破裂或与金属电极错位是MLCC失效的主要原因。陶瓷电容也同样会应为电应力过大导致失效。MLCC的失效原因可能是本身制造方面遗留的问题造成的,也可能是在MLCC被用于制造PCBA,或者电路使用过程中造成的。PCB板弯曲导致陶瓷电容焊接到印刷电路板的部分产生裂纹,并且裂纹会沿45度角向陶瓷电容内部扩展,这是MLCC失效的主要现象,如图18.1所示。

c39468aa-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.1 MLCC失效的主要现象

1)MLCC本身制造方面的因素

介质材料缺陷与生产工艺缺陷可能的原因如下。

(1)介质内的空洞导致耐压强度降低发生过电击穿,与电应力过大导致电极融入形貌相似。

(2)介质分层导致的介质击穿引起短路失效,与电应力过大导致电极融入形貌相似。

(3)电极结瘤导致耐压强度降低发生击穿,与电应力过大导致电极融入形貌相似。

可能引入的环节有以下两个。

MLCC烧结时温控失调,有机物挥发速率不均衡,严重时会出现微裂纹。短时间内不影响电气性能,在生产环节没有被检验出来,但是由于有微裂纹会在运输、加工、使用的过程中进一步裂纹增大。

内电极金属层与陶瓷介质烧结时因热膨胀系数不同,收缩不一致导致瓷体内部产生了微裂。这个MLCC质量隐患,如果不影响性能指标则不会被发现出来。

2)MLCC应用生产工艺方面因素

(1)热应力失效。

热应力裂纹是由于机械结构不能在短时间内消除因温度急剧变化所带来的机械张力而形成,这种张力是由热膨胀系数、导热性及温度变化率间的差异所造成。热应力产生的裂纹主要分布区域为陶瓷体靠近端电极的两侧,常见表现形式为贯穿陶瓷体的裂纹,有的裂纹与内电极呈现90°)。需要注意的是,这些裂纹产生后,不一定在现场就表现出来失效,除非是非常严重的裂纹有可能表现为开路的失效模式,大多数在刚刚使用时均可以使整机正常工作,在使用一段时间后,这些裂纹内部会不断进入水汽或离子,在外加电压的情况下,致使两个端电极间的绝缘电阻降低而导致电容器失效,如图18.2所示。

c3e33e6c-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.2 MLCC热应力失效

焊接是MLCC焊盘承受热冲击比较严重的一个情况,此时会出现焊接导致的热应力失效,如图18.3所示。

c418d040-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.3 MLCC焊接热应力失效

(2)机械应力失效。

机械应力:MLCC的特点是能够承受较大的压应力,但陶瓷介质层的脆性决定了其抗弯曲能力较差,因此在实际使用过程中由于PCB变形引起陶瓷体出现裂纹的情况很多。PCB板组装过程任何可能的弯曲变形操作都可能导致MLCC开裂,常见应力源有贴片过程中吸嘴产生的撞击、单板分割、螺丝安装等。该类裂纹一般起源于元件上下金属化端,沿45°角向器件内部扩展。典型机械应力失效如图18.4所示

c46fd1a6-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.4机械应力形成的45°角裂纹和Y型裂纹

此种失效的可能性很多,以下这些环节可能造成机械应力失效。

①贴装应力,主要是由于真空拾放头或对中夹具引起的损伤。

②上电扩展的裂纹,贴装时表面产生了缺陷,后经多次通电扩展的微裂纹。

③翘曲裂纹,在印制板裁剪、测试、元器件安装、插头座安装、印制版焊接、产品最终组装时引起的弯曲或焊接后有翘曲的印制板主要是印制板的翘曲。

④印制板剪裁,手工分开拼接印制板、剪刀剪切、滚动刀片剪切、冲压或冲模剪切、组合锯切割和水力喷射切割都有可能导致印制板弯曲

⑤焊接后变形的PCB,过度的基材弯曲和元器件的应力。

⑥PCB在安装的过程中,受到应力有可能导致MLCC受力。例如,电路板螺丝固定时,多个固定点应力分布不均引起板变形致使电容器开裂;PCB分板应力、板级测试单手持板、元器件安装、插头座安装、印制版焊接、产品最终组装时引起的弯曲或焊接后有翘曲机械应力,如图18.5所示。

c4b2cf24-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.5 MLCC应力失效

(3)电应力失效。

陶瓷电容也同样会因为电应力过大导致失效,如超规格使用或MLCC本身耐电压不足。MLCC的电应力失效一般表现为短路。失效为过电应力导致电极熔融,如图18.6所示。

c4ef5494-6d9c-11ed-8abf-dac502259ad0.png

图 18.6 MLCC电应力失效电极熔融

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • pcb
    pcb
    +关注

    关注

    4417

    文章

    23965

    浏览量

    426180
  • MLCC
    +关注

    关注

    47

    文章

    830

    浏览量

    48841
  • 焊盘
    +关注

    关注

    6

    文章

    605

    浏览量

    39892

原文标题:MLCC的失效原因都有哪些?

文章出处:【微信号:Hardware_10W,微信公众号:硬件十万个为什么】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    芯片越先进,越离不开失效分析:半导体失效分析是做什么的?

    很多人第一次听到“半导体失效分析”这个词,脑子里可能会浮现一个画面,工程师拿着工具,把坏掉的芯片切开、磨开,然后找出哪里烧了、哪里裂了、哪里短路了。失效分析如何处理问题?一颗芯片
    的头像 发表于 04-08 15:47 178次阅读
    芯片越先进,越离不开<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>:半导体<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>是做什么的?

    对于伺服行星减速机的轴承失效原因分析

    伺服行星减速机作为精密传动设备的核心部件,其轴承的可靠性直接影响整机寿命与性能。然而在实际应用中,轴承失效问题频发,轻则导致设备振动噪声增大,重则引发传动系统崩溃。本文将系统分析轴承失效的六大主因,并结合工程实践提出针对性解决方
    的头像 发表于 03-13 16:55 643次阅读

    MOSFET 失效 Top 原因

    匹配。根据FAE现场统计,80%的MOSFET失效并非器件质量问题,而是设计与应用问题。本文聚焦Top10中的前5项来看看:电气设计相关失效原因。一、TOP1:V
    的头像 发表于 01-20 15:29 417次阅读
    MOSFET <b class='flag-5'>失效</b> Top <b class='flag-5'>原因</b>

    常见的石英晶振失效原因有哪些?

    石英晶振作为电子设备的“时间基准”核心元件,出现故障会直接导致设备的系统时间异常、信号不稳、通讯故障甚至无法启动等问题。当设备出现问题需要排查晶振好坏时,可以从以下失效原因进行验证排查——一、选型
    的头像 发表于 01-12 17:18 372次阅读
    常见的石英晶振<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>原因</b>有哪些?

    LED失效分析方法与应用实践

    发光二极管(LED)作为现代照明和显示技术的核心元件,其可靠性直接关系到最终产品的性能与寿命。与所有半导体器件相似,LED在早期使用阶段可能出现失效现象,对这些失效案例进行科学分析,不仅能够定位
    的头像 发表于 12-24 11:59 705次阅读
    LED<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>方法与应用实践

    LED失效原因分析与改进建议

    LED寿命虽被标称5万小时,但那只是25℃下的理论值。高温、高湿、粉尘、电流冲击等现场条件会迅速放大缺陷,使产品提前失效。统计表明,现场失效多集中在投运前三年,且呈批次性,直接推高售后成本。把常见
    的头像 发表于 09-12 14:36 1357次阅读
    LED<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>原因</b><b class='flag-5'>分析</b>与改进建议

    IGBT短路失效分析

    短路失效网上已经有很多很详细的解释和分类了,但就具体工作中而言,我经常遇到的失效情况主要还是发生在脉冲阶段和关断阶段以及关断完毕之后的,失效的模式主要为热失效和动态雪崩
    的头像 发表于 08-21 11:08 4738次阅读
    IGBT短路<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>

    如何用FIB截面分析技术做失效分析

    在半导体器件研发与制造领域,失效分析已成为不可或缺的环节,FIB(聚焦离子束)截面分析,作为失效分析的利器,在微观世界里大显身手。它运用离子
    的头像 发表于 08-15 14:03 1454次阅读
    如何用FIB截面<b class='flag-5'>分析</b>技术做<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>?

    怎么找出PCB光电元器件失效问题

    限制,PCB在生产和应用中常出现失效,引发质量纠纷。为查明原因、解决问题并明确责任,失效分析成为必不可少的环节。失效
    的头像 发表于 08-15 13:59 875次阅读
    怎么找出PCB光电元器件<b class='flag-5'>失效</b>问题

    芯片失效步骤及其失效难题分析

    芯片失效分析的主要步骤芯片开封:去除IC封胶,同时保持芯片功能的完整无损,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受损伤,为下一步芯片失效分析实验做准
    的头像 发表于 07-11 10:01 3363次阅读
    芯片<b class='flag-5'>失效</b>步骤及其<b class='flag-5'>失效</b>难题<b class='flag-5'>分析</b>!

    浅谈封装材料失效分析

    在电子封装领域,各类材料因特性与应用场景不同,失效模式和分析检测方法也各有差异。
    的头像 发表于 07-09 09:40 1379次阅读

    LED芯片失效和封装失效原因分析

    芯片失效和封装失效原因,并分析其背后的物理机制。金鉴实验室是一家专注于LED产业的科研检测机构,致力于改善LED品质,服务LED产业链中各个环节,使LED产业健康
    的头像 发表于 07-07 15:53 1191次阅读
    LED芯片<b class='flag-5'>失效</b>和封装<b class='flag-5'>失效</b>的<b class='flag-5'>原因</b><b class='flag-5'>分析</b>

    连接器会失效情况分析

    连接器失效可能由电气、机械、环境、材料、设计、使用不当或寿命到期等多种原因引起。通过电气、机械、外观和功能测试,可以判断连接器是否失效。如遇到失效的情况需要及时更新,保证工序的正常进行
    的头像 发表于 06-27 17:00 976次阅读

    浅谈射频同轴连接器的失效原因

    同轴产品在使用中总会碰到问题,可能涉及到连接器也可能涉及到安装的电缆,本期将围绕总结3个大点8种同轴连接的失效原因,并对不同问题分别进行解析。
    的头像 发表于 06-04 10:00 2109次阅读

    元器件失效分析有哪些方法?

    失效分析的定义与目标失效分析是对失效电子元器件进行诊断的过程。其核心目标是确定失效模式和
    的头像 发表于 05-08 14:30 1288次阅读
    元器件<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>分析</b>有哪些方法?