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「复享光学」3D NAND多层薄膜量测的新思路

硬科技星球 来源:硬科技星球 作者:硬科技星球 2022-12-05 17:07 次阅读

知名半导体和微电子情报提供商TechInsights报道,长江存储的232层3D NAND闪存X3-9070已经实现量产,领先于三星、美光、SK海力士等厂商,这也是__中国品牌在半导体领域首次领先于国际竞争者。__

中国半导体在先进制程制造上的持续重大突破,给国产量检测设备的发展提出了同样的要求,只有追求全产业链的整体提升,才能真正保持国际领先。 复享光学作为国内集成电路核心光谱零部件供应商 ,配合设备厂商解决各类芯片制程工艺控制中的量检测核心问题,为实现集成电路产业的全链突破保驾护航。

近期,复享光学下属的上海微纳制程智能检测工程中心__首次提出薄膜神经网络,突破百层3D NAND量测关键技术__,相关成果发表于国际知名光学期刊Light: Advanced Manufacturing。

图片来源:msi.com

业内对3D NAND堆叠层数的不断追求来源于市场对单芯片存储容量需求的不断提升。由于芯片的微缩化已经接近2x nm性价比极限,通过实现存储单元在垂直方向的层层堆叠,就可以大幅度提升NAND芯片的性能和存储密度。业内预测,在2025年左右3D NAND会达到500层,而在2030年左右达到800层。

百层膜厚检测,3D NAND制备的新挑战

多层膜的制备是3D NAND的前道工序。由于层间应力的存在,工艺完成后的实际层厚与设计值相比会存在较大的偏差,因此多层膜的不均匀性对芯片生产的良率构成了严峻的挑战。

3D NAND 制备工艺挑战

图片

图片来源:Lam Research

目前市场上针对薄膜的厚度量测方法,通常使用参数微扰差分获取梯度,并结合Levenberg-Marquardt算法构建映射关系进行在线优化。对于超过20层以上较多参数的多层结构,该方案必须预先假定其为周期性结构才能适用。并且,较多的结构参数会导致优化时间长达几小时,相当于在一次迭代中进行上百次计算,大大增加了等待耗时。

可见,传统厚度量测方法在3D NAND领域存在较大的局限性,亟需开发新的膜厚量测方案,以满足在线实时检测的产线需求。

薄膜神经网络,百层膜厚检测的新路径

深度学习领域,多参数神经网络的优化过程中,常常采用反向传播算法来对神经网络中的大量参数进行优化。__反向传播算法,是适合于多层神经元网络的一种学习算法。__相较于传统的差分求梯度,反向传播算法是一种非常有效的快速获取梯度优化神经网络的手段,可上百倍,甚至上千倍地提升效率。

复享光学将光学逆问题研究主体(多层薄膜)视为神经网络来构建映射关系,并进行优化训练。这是全球首次将反向传播算法引入薄膜优化过程,在__复享深度光谱™ 技术框架下开创性地发展了薄膜神经网络技术,极大地缩短了百层薄膜厚度的优化时间,相比于传统微扰差分的方法,其__单次优化时间缩短为原来的2%

薄膜神经网络技术原理

图片

图片来源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

目前, 复享光学已成功将此技术应用于232层非周期薄膜结构的厚度量测 ,有望解决百层3D NAND量测的痛点。

准确高效,比肩国际量测标准数据

除时间的大幅缩短外,薄膜神经网络技术的另一项优势在于,该技术无需前期准备大量数据集进行神经网络训练学习,直接构建于精确电磁仿真计算的映射关系上,即使在薄膜层数达到232层,依然能保证光谱结果的精确性。

232层薄膜优化案例

图片

图片来源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

经研究验证,复享光学提出的薄膜神经网络的技术方案,不仅可以实现多层薄膜厚度的快速检测,同时还能__判断样品是否异常以及异常层位置。__

图片

图片来源:Light: Advanced Manufacturing 2021 , *2 *(4), 395-402.

在晶圆膜厚量测过程中,基于薄膜神经网络的测量结果__与国际量测标准的数据进行对比__, 误差在万分之一以内(<0.1 nm) 。这一结果证明了该技术在晶圆级薄膜厚度测量场景中的可行性。

薄膜厚度实测结果

图片

赋能微纳制造,微纳光学逆问题求解

3D NAND多层膜厚量测是一个典型的光学逆问题。__对光学逆问题的求解,是指从已知的光学响应反向推测微纳结构的求解过程。__除3D NAND的量测以外,还有一系列存在于微纳光学与半导体制程检测领域的关键问题,都是典型的光学逆问题。

薄膜神经网络技术的提出,得益于复享光学长期以来对微纳光学逆问题的研究工作,并__深度引入神经网络算法实现多维度光谱量检测的复杂应用__,在光学算法上具有坚实的基础和应用经验。光谱量检测技术存在于各类微纳制造与量检测设备之中,是支撑集成电路和光电子芯片产业制造工艺的关键技术之一。

目前,复享光学的多系列光谱模组已在半导体前道工艺之中成功应用,并获得多家半导体头部客户的验证、生产导入及小批量订单。凭借__复享深度光谱™__技术,复享光学希望与国内量检测设备厂商一起,解决先进制程核心工艺问题,以光谱硬科技助力产业发展。

关于复享光学

复享光学是深度光谱技术的创导者 ,历时十年,深耕微纳光电子领域,发展智能化全光谱技术,着力于光子学与人工智能的融合,形成了国际领先的深度光谱技术平台,向市场提供从技术到产品,从模块到系统的全面解决方案。

通过成立对接产业需求的__“上海微纳制程智能检测工程技术研究中心” ,并与复旦大学共建致力于研究微纳制造前沿共性关键技术的 “复旦大学光检测与光集成校企联合研究中心”__,复享光学形成了多层次的研发平台,以深度响应市场需求,持续推出突破性的产品。

复享光学已拥有国内外__超3000家__优质客户,并与__超170家__半导体、高端材料、生物医药企业形成交流与合作,与客户一起,致力于__实现科学技术创新__,推动微纳制造产业发展。

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