X射线光刻(X-ray lithography)技术是电子工业中用于选择性去除一部分薄膜的工艺。使用X射线将几何图形转移光敏光刻胶上。然后进行一系列化学处理,将产生的图案雕刻到光刻胶下方的材料中。
X射线光刻技术最初是半导体工业的新一代光刻技术的候选者,并成功生产了许多微处理器。X射线具有短波长(低于1 nm),克服了光刻的衍射极限,从而可以实现较小的特征尺寸。如果未对X射线源进行准直(collimated),例如使用同步加速器辐射(synchrotron radiation),则使用基本准直镜(elementarycollimating mirrors)或衍射透镜(diffractive lenses)代替光学中使用的折射透镜。
X射线是宽带的(broadband),通常来自紧凑的同步加速器辐射源(compact synchrotron radiation source),可以快速曝光。深X射线光刻(DXRL)使用的波长更短,仅为0.1 nm,并且使用改进的程序(如LIGA工艺)来制造深而均匀的三维结构。 掩膜板通常由金(gold)、钽或钨的化合物(compounds of tantalum or tungsten)构成的X射线吸收剂在对X射线透明的膜上构成,该膜通常由碳化硅或金刚石制成。
通过直接写入电子束光刻(direct-write electron beam lithography,链接:MEMS制造技术 - 电子束刻蚀(e-beam))将掩模上的图案写入到通过常规半导体工艺显影的抗蚀剂上。可以拉伸薄膜以提高覆盖精度(overlay accuracy)。
大多数X射线光刻是通过在模糊对比度线(the line of fuzzy contrast)上以图像保真度(不需要放大)进行复制。然而,随着对高分辨率的日益增长的需求,现在使用局部的“偏置放大率”(demagnification by bias)在所谓的“最佳点”( "sweet spot")上进行X射线光刻。通过多次曝光来开发高密集结构。使用3倍放大倍数具备一些优势:更易于制造研磨板,掩模与晶圆的间隙增加,对比度更高。该技术可扩展到15nm打印。
与极端紫外线光刻(extreme ultraviolet lithography)和电子束光刻(链接:MEMS制造技术 - 电子束刻蚀(e-beam))一样,X射线会产生二次电子(secondary electrons)。定义精细的图案主要是具有短路径长度(short pathlength)的俄歇电子(Auger electrons,一种表面科学和材料科学的分析技术)产生的;而与X射线曝光相比,一次电子在更大的区域范围实现抗蚀剂的敏感。
虽然这不影响由波长和间隙确定的图案间距分辨率,但是由于间距处于初级光电子范围的量级,因此降低了图像曝光对比度(max-min)/(max + min)。侧壁粗糙度(sidewall roughness)和斜率(slopes)受二次电子的影响,因为它们可以在吸收器(absorber)下方的区域中传播几微米,具体取决于曝光的X射线能量。
光电子效应的另一种表现是暴露于用于制作子掩模(daughter masks)的厚金膜的X射线产生的电子。模拟表明从金基底产生光电子可能影响溶解速率(dissolution rates)。
审核编辑:刘清
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原文标题:MEMS制造工艺 - X射线光刻技术(X-ray lithography)
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