测试DS314x系列DS3/E3成帧器的误码率

本应用笔记展示了如何在无映射时钟模式下使用ITU O.3模式将增强型误码率测试仪（BERT）连接到DS3/E151成帧器。

介绍

本应用笔记演示如何将DS2174增强型误码率测试仪（BERT）的码型生成、同步和位测试功能与DS314x系列DS3/E3成帧器的单端口和多端口版本配合使用。

DS2174与DS2172/DS21372类似，但包含更大的位和误差计数器以及512字节随机码型缓冲器。它是一款 3.3V 器件，具有 1/4/8 位并行总线，允许在位/半字节/字节模式下工作。在位模式下，时钟速率可以达到155MHz（STS-1/EC-1）。在字节模式下，时钟速率可以达到80MHz，净速率为622Mbps（OC-3）。DS3141/2/3/4分别是单通道、双通道、三通道和四通道DS3/E3成帧器，均采用144引脚、13mm x 13mm CSBGA封装。DS3146/8/12分别是6通道、8通道和12通道DS3/E3成帧器，采用349引脚、27mm x 27mm BGA封装。

每个成帧器封装在其自己的系列中保持相同的引脚排列。因此，具有 349 引脚 BGA 封装的印刷电路板 （PC 板） 可以填充到 6、8 或 12 通道成帧器，具体取决于安装的设备。同样，如果 PC 板具有 144 引脚封装，则可以支持 1、2、3 或 4 通道成帧器。

DS3146/8/12与DS3141/2/3/4的一个区别是，每个成帧器的主输入时钟可以配置为6、8或12个独立的时钟，或者所有成帧器上都有一个恒定时钟。如果 TCSEL 输入引脚的接线为低电平，则 TICLKn 引脚需要为每个成帧器提供单独的发送输入时钟。如果要使用一个恒定时钟，则TCSEL应连接高电平，TICLKn有线低电平。

图1所示为DS3146/8/12成帧器上以无电平时钟模式连接至DS2174的片片的单独发送输入时钟的典型配置。成帧器正在发送 223- 1 符合ITU O.151标准的伪随机模式到BERT，并且BERT独立地将相同的模式发回。两个设备都处于 E3 模式。

图1.无间隙时钟模式BERT和成帧器双向同步。

执行图示配置所需的寄存器设置如下：

DS3146/8/12寄存器

将 34.368MHz 时钟施加到 TICLK 引脚。清除 MC1 中的 TUA1 位。清除 MC4 中的 RDATH 位。在 BCR1 中设置 BENA、TINV 和 RINV 位。将LC位切换为高电平，然后切换为低电平。在BCR2中设置PS2。

DS2174寄存器

清除 CR2 中的 TINV 和 RINV 位。在 CR4 中设置 SEED 位。写入0xFF以寄存器 TS0？3。现在清除种子位。将0x42写入 TS2。通过切换CR1中的TL位高电平然后切换低电平来加载发射移位寄存器。然后在CR1中切换LC。

您现在应该看到与成帧器同步的 BERT （SR = 0x01）。接下来，在成帧器上的 BCR1 中切换重新同步，现在应将成帧器同步到 BERT （BSR = 0x01）。

审核编辑：郭婷