概述
纳米材料,定义为粒径在1-100纳米之间一类超细材料,具有表面效应、小尺寸效应、宏观量子隧道效应等一些特殊物理化学性能。由于结构有比表面积大,粒径小,表面原子比例高等特点,使得纳米材料在电学、热力学以及催化等多个方面有独特的性能,被称作21世纪最具发展前景的材料。
随着纳米材料在不同领域的广泛应用,新型纳米材料的研发具备了与往不同的特征,如纳米发电材料,纳米温差材料,纳米传感器等。由于纳米材料的种类,以及功能众多,因此,纳米材料的测试面临如下测试挑战:
测试信号微弱,纳米材料测试多为样品研发试验阶段,需要测试样品在单位面积产生的电压或电流微弱信号。尤其是电流信号,可低至nA,甚至pA级。因此,这就要求测试仪表,具有准确的微弱信号检测能力。
外部噪声干扰,由于纳米材料测试信号弱,且部分材料特性易受外部环境变化干扰,这就需要在测试中对与测试无关的外部环境噪声,进行有效屏蔽。比如采用四线制测试,降低线损压降;采用三同轴Guard方式降低线缆漏电流等等方式。
测试方式多样,多数纳米材料在光,热,湿度等外部环境的激励下,具有一定的响应特征。因此,在对纳米材料的研发中,常需要测试样品在不同外界激励源的响应输出能力。多样化的测试,使得测试仪表具备多种测试功能,如进行恒压测试,I-V扫描测试,V-t测试,脉冲测试,多通道测试等。
利用数字源表进行纳米材料电特性表征
实施电性能参数表征分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)。数字源表作为独立的电压源或电流源,可输出恒压、恒流、或者脉冲信号,还可以当作表,进行电压或者电流测量;支持Trig触发,可实现多台仪表联动工作;针对有机OFET类型的三端类型纳米器件以及多样品验证测试,可直接通过2台数字源表或者插卡式源表搭建完整的多通道IV测试系统。
S系列源表打造纳米材料温差器件测试方案
该方案主要针对纳米材料温差器件,在不同温度激励下,测试其输出电压以及输出电流数据。如下图所示,整套测试系统构成包括,1台S系列源表、温度控制器,待测器件、测试连接线以及上位机软件组成测试电路。采用两电极测试方法对器件的输出电压进行测试,将源表的高低电势夹头连接于器件输出端,随着温度的变化,在数字源表中获得开路电压或者输出电流数据。
输出电压测试连接示意图
输出电流与输出电压测试曲线
S系列/CS系列源表打造纳米水伏发电材料测试方案
该方案主要用于,测试纳米水伏发电材料其输出电压以及输出电流随时间变化的曲线,以验证不同结构材料的发电性能。如下图所示,整套测试系统构成包括,1台S系列源表或者CS插卡式多通道源表,待测器件、测试连接线以及上位机软件组成测试电路。采用二线制的测试方法,对样品期间两端的输出电压或者电流进行持续采集,在数字源表中获得I-t或者V-t数据。
纳米水伏发电材料测试连接图
V-T曲线和I-T曲线
S系列/CS系列源表打造纳米有机晶体管器件测试方案
输出特性曲线测试
在施加不同的栅压(VGS)时,源漏电流 ISD随着源漏电压 VDS变化而变化得出的曲线,称之为输出特性曲线。
输出特性测试曲线
转移特性曲线测试
在施加不同的源漏电压VDS下,源漏电流 IDS随着栅压VGS的变化而变化得出的曲线,称之为转移特性曲线
转移特性测试曲线
审核编辑黄宇
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