0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

MOS管的导通和关断过程

CHANBAEK 来源:开关电源分析 作者:东方竹悠 2023-03-26 16:15 次阅读

最近一直在说MOS管的知识,就有朋友留言说能具体说一下MOS管的导通和关断过程吗,那我们今天来说一下MOS管的导通和关断具体过程。

为了更好的理解MOS管的导通和关断过程,我们一般会将电路中的寄生电感忽略掉,下面我们以一个最简单的钳位感应开关模型来说明。

pYYBAGQf_wCAT-DRAAA8lq80RQ4827.png

对于MOS的导通过程我们可以将其划分为4个阶段:首先第一个阶段为输入电容从0开始充电到Vth,在这个过程中,栅极绝大部分电流都用来给电容CGS充电,也有很小的电流流过电容CGS。当电容CGS的电压增加到门的极限时,它的电压就会有稍微的减小;这个过程称为导通延迟,这是因为此时器件的漏极电流和漏极电压均未发生变化;当栅极电压达到开启电压时,MOSFET处于微导通状态。进入第二个阶段。

在第二个阶段中,栅极电压从Vth上升到Miller平坦区,即VGS。这是器件的线性工作区,电流和栅极电压成正比。在栅极的一侧,电流如第一阶段一样流入电容CGS和CGD,电容VGS的的电压将会不断升高。在器件的输出端,漏极电流也不断变大,但是漏源电压基本不变,保持先前水平(VDS,OFF)。当所有电流都流入MOSFET而且二极管完全截止后,漏极电压必须保持在输出电压水平;这时就进入第三个阶段。

进入第三个阶段后,栅极电压已经足够使漏极电流全部通过,而且整流二极管处于完全截止状态。现在允许漏极电压下降。在器件漏极电压下降过程中,栅源电压保持不变。这就是栅极电压波形的Miller平坦区。从驱动得到的可用的所有栅极电流通过电容CGD放电,这将加快漏源电压变化。而漏极电流几乎不变,这是由于此刻它受外部电路限制。

最后一个阶段是MOS沟道增强,处于完全导通状态,这得益于栅极的电压已经足够高。最终的VGS电压幅度将决定器件最终导通阻抗。

而MOS的关断过程恰好和它的导通过程是相反的:首先是关断延迟,这阶段需要电容CISS从最初值电压放电到Miller平坦区水平。这期间栅极电流由电容CISS提供,而且它流入MOSFET的电容CGS和CGD。器件的漏极电压随着过载电压的减小而略微的增大,然后进入第二个阶段,管子的漏源电压从IDC·RDS(On)增加到最终值(VDS(off)),进而促使二极管导通,进入第三个阶段,二极管给负载电流提供另一通路;栅极电压从VGS,Miller降到Vth;大部分的栅极电流来自于电容CGS,在这个阶段的最后漏极电流几乎达到0;但是由于整流二极管的正向偏置,所以漏极电压将维持在VDS(off)。

截止过程的最后一个阶段是器件的输入电容完全放电:电压VGS进一步减小到0;占栅极电流较大比例部分的电流,和截止过程的第三阶段一样,由电容CGS提供;器件的漏极电流和漏极电压保持不变。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • MOS管
    +关注

    关注

    108

    文章

    2389

    浏览量

    66556
  • 导通
    +关注

    关注

    1

    文章

    35

    浏览量

    11321
  • 寄生电感
    +关注

    关注

    1

    文章

    155

    浏览量

    14583
  • MCGS
    +关注

    关注

    11

    文章

    87

    浏览量

    34877
  • 关断
    +关注

    关注

    0

    文章

    20

    浏览量

    8181
收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    MOS烧坏常见的可能性故障分析

    MOS在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    发表于 05-08 11:09 3143次阅读
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>烧坏常见的可能性故障分析

    MOS损坏的原因及解决方案

    MOS在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    的头像 发表于 02-26 11:40 4866次阅读
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>损坏的原因及解决方案

    MOS通条件 MOS过程

    MOS通与截止由栅源电压来控制,对于增强型MOS来说,N沟道的管子加正向电压即通,P沟
    的头像 发表于 03-14 15:47 5575次阅读
    <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>的<b class='flag-5'>导</b>通条件 <b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>的<b class='flag-5'>导</b>通<b class='flag-5'>过程</b>

    功率MOS烧毁的原因

    Mos在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    发表于 07-05 07:19

    通损耗和关断损耗的相关资料推荐

    和计算开关损耗,并讨论功率MOSFET过程和自然零电压关断过程的实际过程,以便电子工程师了解哪个参数起主导作用并了解MOSFET. 更深入地MOSFET开关损耗1,通过
    发表于 10-29 08:43

    讨论一下IGBT的关断过程

    栅极施加一个为零或负的偏置电压时,器件进入关断过程。首先,随着门极电压的减小,由N+源区经MOS沟道注入到N-基区的电子电流逐渐减少,而此时外部的集电极电流受负载电感影响保持不变,因此IGBT模块内部
    发表于 02-13 16:11

    功率MOS损坏的主要原因

    mos在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    的头像 发表于 07-27 08:08 7709次阅读

    什么是MOSMOS损坏的原因有哪些

    什么是MOS?它有什么特点?在常见的控制器电路中,MOS管有几个工作状态,而MOS 主要损耗也对应这几个状态,本文就来探讨一下MOS的这些
    发表于 08-09 14:15 6548次阅读

    MOS竟然是这样烧坏的

    mos 在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    的头像 发表于 11-17 10:13 2150次阅读

    MOS是如何烧坏的

    MOS在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    发表于 12-14 22:04 18次下载

    功率MOS烧毁的原因(米勒效应)

    Mos在控制器电路中的工作状态:开通过程(由截止到通的过渡过程)、通状态、关断过程(由
    发表于 02-09 11:55 12次下载
    功率<b class='flag-5'>MOS</b><b class='flag-5'>管</b>烧毁的原因(米勒效应)

    关于对IGBT关断过程的分析

    上一篇,我们写了基于感性负载下,IGBT的开通过程,今天,我们就IGBT的关断过程进行一个叙述。对于IGBT关断的可以基于很对方面进行分析,而今 天我们从电压电流对IGBT的关断过程
    发表于 02-22 15:21 14次下载
    关于对IGBT<b class='flag-5'>关断过程</b>的分析

    igbt怎样通和关断?igbt的通和关断条件

    和门极组成。因其高电压和高电流开关能力,广泛应用于电力和电能控制器的控制中。 IGBT的通和关断是通过控制门极电压来实现的。下文详细介绍IGBT的通和关断条件,以及具体的
    的头像 发表于 10-19 17:08 1.8w次阅读

    IGBT关断过程分析

    绝缘栅双极型晶体(IGBT)作为电力电子领域中至关重要的元件,其关断过程的分析对于理解其性能和应用至关重要。IGBT结合了双极型晶体(BJT)和场效应晶体(MOSFET)的优势,
    的头像 发表于 07-26 18:03 1982次阅读
    IGBT<b class='flag-5'>关断过程</b>分析

    功率MOSFET的开通和关断过程原理

    功率MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体)作为现代电力电子领域中的核心器件,其开通和关断过程原理对于理解其工作特性、设计高效电路以及确保系统稳定性至关重要。以下将对功率MOSFET的开通和关断过程原理进行详细阐述,内容涵盖
    的头像 发表于 10-10 09:54 557次阅读