划片工艺又称切割工艺,是指用不同的方法將单个芯片从圆片上分离出来,是封装中必不可少的工艺。目前,划片工艺主要分为金钢石刀片机械切割、激光切割和等离子切割了3种工艺。
(1) 金钢石刀片机械切割:以高速旋转的超薄金刚石刀片穿过圆片并延伸至 20~30μm 的切割膜中,沿着芯片与芯片之间的切割道,将整片圆片分成一个个单独的芯片。
目前,机械切割用的刀片主要是轮毂刀片,通过电镀的方式在轮毂上形成所需要的厚度。在机械切割过程中,必须使用配备的冷却喷嘴供水一方面使得刀片得到冷却,移除在切割点处产生的热,另一方面清除切割过程中产生的污染物和硅粉颗粒。
(2) 激光切割:主要分为穿透切割和隐形切割两种。穿透切割是指激光直接切穿整个圆片并分离得到芯片。隐形切割的原理是,用传统的 DPSS 激光器(nm 级红外)透过材料表面,并聚焦于内部,当内部激光功率密度超过临界值时,可以在任意深度上形成带状 SD 层(多晶层/高位错密度层和微裂纹/孔洞),然后再通过扩晶得到芯片。
隐形切割技术避免了传统激光切割由于熔化等导致热损伤等缺点,且非常适用于超薄半导体硅片的高速和高质量切割。
(3) 等离子切割:先用光阻覆盖圆片的表面,通过曝光和品影工艺,去除芯片间切割道内的光刻胶,然后在低压的真空腔体内通人特殊的气体,通过高频的直流电或交流电将气体等离子化,使等离子和切割道内的硅反应,形成一个个单独的芯片。
目前,等离子切割更多应用于超小尺寸的芯片切割,一方面可以滅少切割成本,另一方面可以减少切割道的宽度,增加圆片所设计的芯片数量,进一步减少芯片的成本。
随着圆片工艺发展到 90nm 以下,低k材料作为线路之间的绝缘体,由于低k材料的抗热性、化学性、机械延展性及材料稳定性差等原因,对含有低6材料的圆片切割要求也变得更为困难。
目前,行业内通常采用穿透式激光切割去除切割道中的低k介质层,再用机械切割的方式将圆片切成一个个独立的芯片(Die) 。
审核编辑:刘清
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原文标题:划片工艺,晶圓切割製程,Wafer Dicing Process
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