AEC-Q104是车载应用多芯片模块的可靠性应力测试标准。
电子控制零部件、导航、娱乐、无线多媒体电子部件等越来越多,汽车的系统也变得越来越复杂,芯片模块可靠性的重要性也随之凸显,这直接决定了整车的行驶安全性和产品的可靠性。
AEC-Q104的检测标准依据汽车在实际使用过程中的环境,多样化的 复杂 环境,因此增加了试验的顺序,检测通过的难度随之增加,同时增加了模组特殊测试。
AEC-Q104认证规范中,共分为A-H八大系列。其中,一大原则,在于MCM上使用的所有组件,包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身,在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试,包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、Low Temperature Storage Life(LTSL)、Start Up & Temperature Steps(STEP);以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200,那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中,依据产品应用,决定验证项目,验证项目会变得比较多。
AEC-Q104上,为了依据MCM在汽车上实际使用环境,为复合式的环境,因此增加顺序试验,验证通过的难度变高。例如,必须先执行完High Temp Operating Life(HTOL),才能做Thermal Shock(TS),颠倒过来就不行。AEC-Q104中针对MCM,增加H系列的测项;此外,针对零件本身的可靠性测试(Component Level Reliability),也增加了Thermal Shock(TS)及外观检视离子迁移(VISM)。
产品范围:
1、混合集成放大器(前置、脉冲、高频放大器等)
2、电源组件(DC/DC、AC/DC变换器、EMI滤波器等)
3、功率组件(功率放大器、电动机伺服电路、功率振荡器等)
4、数/模、模/数转换器(A/C、D/A转换器等)
5、轴角-数字转换器(同步机-数字转换器/分解器、双数转换器等)
6、信号处理电路(采样保持电路、调制解调电路等)
测试项目:
华碧实验室依据车规级多芯片模块可靠性测试标准,凭借多年丰富的认证检测经验,指导供应商深入了解产品的可靠性能,优化生产工艺流程与芯片模块性能,助力企业进军汽车供应链市场。
审核编辑黄宇
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