0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

ZnGeP2的本征缺陷计算(非辐射俘获系数计算CDC)

鸿之微 来源:鸿之微 2023-05-11 16:37 次阅读

DASP (Defect and Dopant ab-initio Simulation Package)是一款半导体缺陷和杂质性质的第一性原理计算模拟软件包,该软件包能针对输入的半导体晶体结构,基于材料基因组数据库和第一性原理软件包,自动计算并输出半导体的热力学稳定性,缺陷和杂质形成能及离化能级,半导体样品中缺陷、杂质和载流子浓度及费米能级,关键缺陷和杂质诱导的光致发光谱、载流子辐射和非辐射俘获截面及少子寿命。

针对任一半导体,DASP软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、缺陷的光致发光谱、缺陷对载流子的俘获截面、辐射和非辐射复合速率等。

本期将给大家介绍DASP ZnGeP2的本征缺陷计算 5.4.6-5.4.6.3 的内容。

5.4.6. 非辐射俘获系数计算CDC

5.4.6.1. 运行CDC模块

使用CDC模块计算非辐射俘获系数前,需要确保以下几点:

(1)DEC模块已经计算完成(可以跳过DDC的计算)。

(2)根据形成能关系图,确定深能级的缺陷,并得到相应的转变能级位置。

(3)选定要计算的载流子非辐射俘获过程。

对于ZnGeP2中的����缺陷,我们想要计算 从+1价到0价的电子非辐射俘获过程,首先需要分清缺陷计算中缺陷能级和CBM能级的能带序号(band index)。我们建议:总是在电中性的静态计算EIGENVAL文件来确定能带序号。对于����,其缺陷能级的能带序号是865,CBM的能带序号是866。采用默认的势能面拟合方法,因此在``dasp.in``中写入以下信息

88e9b6da-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

使用命令dasp5执行CDC模块。等待期间无需额外操作。

5.4.6.2. 前期计算

CDC模块将首先根据dasp.in中level的值判断目标缺陷的初态与末态结构是否已完成了HSE泛函下的结构优化。若level为2,CDC会额外对目标缺陷做HSE泛函下的结构优化,若level为3则跳过结构优化步骤,若level为1则会退出该模块的计算。

以下内容来自CDC模块的程序日志5cdc.out:

88fb2b9a-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

5.4.6.3. CDC模块非辐射俘获系数计算流程

完成前期计算得到HSE泛函优化的初态和末态结构后,CDC模块会分析两个结构在广义坐标下的差异��,并沿着该方向线性地产生一系列结构。

在目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/final_state与目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/initial_state中均会出现以下多个静态计算的目录:

89064f48-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

此外,在目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/final_state/el_ph中产生以下多个用于计算电声耦合常数的静态计算目录:

89114754-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

完成上述计算后,CDC模块可以根据产生的结构及对应的缺陷形成能大小得到初态与末态下的有效声子能量、声子波函数以及末态的黄-里斯因子(Huang-Rhys factor)以及用于估算非辐射俘获系数的�函数的高斯展宽(gaussian smearing)和索莫菲因子(sommerfeld factor),还可以获得该缺陷初态与末态的一维位形图,输出为图片ccdiagram.png,如下所示。

8918029c-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

ZnGeP2中缺陷Ge_Zn1从+1价到0价的一维位形图。

最后,CDC模块会根据超胞体积、载流子有效质量等数据结合非辐射俘获系数的公式计算输出室温下该系数的大小,并在目录/cdc下输出nonradiative_rate.dat文件和图片coefficient.png,如下所示,其中给出了非辐射俘获系数以及非辐射俘获截面随温度的变化。

89373df6-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

ZnGeP2中缺陷Ge_Zn1从+1价到0价电子俘获系数随温度的变化关系。

以下内容来自CDC模块的程序日志5cdc.out:

893fdcea-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

根据DDC模块得到缺陷和载流子浓度,以及CDC模块得到的非辐射俘获系数,我们可以根据SRH(Shockley–Read–Hall)公式估算出载流子的非辐射俘获寿命����。

对于非辐射俘获系数的计算,我们也可以采用二阶样条曲线插值的势能面拟合方法(quadratic-spline),修改dasp.in文件如下:

8959ad6e-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

同样使用命令dasp5执行CDC模块。等待期间无需额外操作。

CDC模块会分析HSE泛函优化的初态和末态两个结构在广义坐标下的差异��,并沿着该方向线性地在更大的范围内产生一系列结构。

在目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/final_state与目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/initial_state中均会出现以下多个静态计算的目录:

8962557c-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

此外,在目录/cdc/Ge_Zn1/Nonrad_calc/_q1_to_q0_/final_state/el_ph中产生以下多个用于计算电声耦合常数的静态计算目录:

896d739e-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

完成上述计算后,CDC模块可以根据产生的结构及对应的缺陷形成能大小得到初态与末态下的有效声子能量、声子波函数以及末态的黄-里斯因子(Huang-Rhys factor)以及用于估算非辐射俘获系数的�函数的高斯展宽(gaussian smearing)和索莫菲因子(sommerfeld factor),还可以获得该缺陷初态与末态的一维位形图,输出为图片ccdiagram.png,如下所示。

89738860-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

ZnGeP2中缺陷Ge_Zn1从+1价到0价的一维位形图。

可以看到,相比parabolic方法,采用spline的拟合方法将使得俘获势垒增加将近0.1 eV。我们建议总是优先采用parabolic方法进行势能面拟合。最后,CDC模块会根据超胞体积、载流子有效质量等数据结合非辐射俘获系数的公式计算输出室温下该系数的大小,并在目录/cdc下输出nonradiative_rate.dat文件和图片coefficient.png,如下所示,其中给出了非辐射俘获系数以及非辐射俘获截面随温度的变化。

89886bc2-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

ZnGeP2中缺陷Ge_Zn1从+1价到0价电子俘获系数随温度的变化关系。

以下内容来自CDC模块的程序日志5cdc.out:

8993b70c-efb3-11ed-90ce-dac502259ad0.png

审核编辑 :李倩

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 模块
    +关注

    关注

    7

    文章

    2695

    浏览量

    47431
  • 半导体
    +关注

    关注

    334

    文章

    27286

    浏览量

    218079
  • DASP
    +关注

    关注

    0

    文章

    16

    浏览量

    7254

原文标题:产品教程丨ZnGeP2的本征缺陷计算(非辐射俘获系数计算CDC)

文章出处:【微信号:hzwtech,微信公众号:鸿之微】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    测量标准

    三相点瓶作为热力学温度的测量标准;2、基于约瑟夫森效应的电位差的测量标准;3、基于量子霍尔效应的电阻的
    发表于 07-19 16:23

    辐射换热的计算

    辐射换热的计算:两物体间的辐射换热除与表面温度,表面辐射物性,还与两物体表面的几何形状、大小、相对位置等几何因素有关,这种因素常用角系数来考
    发表于 07-06 07:20 40次下载

    基于F_P原理的型光纤爆炸动压传感器设计_陈显

    基于F_P原理的型光纤爆炸动压传感器设计_陈显
    发表于 03-19 19:07 0次下载

    一文解析DASP CdTe的缺陷计算

    针对任一半导体,DASP软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、
    发表于 04-05 10:16 822次阅读

    DASP HfO2缺陷计算缺陷形成能和转变能级计算DEC)

    根据 dasp.in 中的参数intrinsic = T,DEC模块将产生HfO2缺陷,即生成HfO2/dec/Intrinsic_D
    的头像 发表于 04-18 10:58 2626次阅读

    半导体缺陷原理:DASP HfO2缺陷计算

    DDC模块首先将根据DEC模块的输出结果判断哪些缺陷已经计算完毕,并将这些所有的缺陷全部考虑进DDC的计算。随后自动搜寻各缺陷输出的形成能、
    的头像 发表于 04-24 15:09 1511次阅读
    半导体<b class='flag-5'>缺陷</b>原理:DASP HfO<b class='flag-5'>2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>

    DASP双钙钛矿材料稳定性的快速计算预测

    针对任一半导体,DASP软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、
    的头像 发表于 05-16 10:39 576次阅读
    DASP双钙钛矿材料稳定性的快速<b class='flag-5'>计算</b>预测

    基于DASP ZnGeP2缺陷计算

    针对任一半导体,DASP软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、
    的头像 发表于 05-16 17:22 709次阅读
    基于DASP <b class='flag-5'>ZnGeP2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>

    ZnGeP2缺陷计算之准PREPARE

    ZnGeP2是一种非线性光学材料,但是其带隙内存在的较多光吸收峰限制了其应用,实验上认为这些吸收与点缺陷相关。因此,有必要对ZnGeP2的点缺陷性质开展理论
    的头像 发表于 05-19 10:25 582次阅读
    <b class='flag-5'>ZnGeP2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>之准PREPARE

    ZnGeP2缺陷计算之PREPARE模块运行流程

    新建目录ZnGeP2,在./ZnGeP2/目录内同时准备好以上的POSCAR文件与 dasp.in 文件,执行 dasp 1 ,即可启动PREPARE模块,此后无需额外操作。DASP会输出 1prepare.out 文件记录程序的运行日志。
    的头像 发表于 05-19 10:29 538次阅读
    <b class='flag-5'>ZnGeP2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>之PREPARE模块运行流程

    ZnGeP2缺陷计算之DEC模块运行流程

    确认TSC模块完成后,回到ZnGeP2目录,使用命令 dasp 3 执行DEC模块。DEC模块会在第一步已经生成的dec目录中继续输出相关文件,包括缺陷结构,缺陷计算目录,以及运行日志
    的头像 发表于 05-19 10:32 629次阅读
    <b class='flag-5'>ZnGeP2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>之DEC模块运行流程

    ZnGeP2缺陷计算之TSC模块运行流程

    TSC模块将使用与 Materials Project 数据库提供的输入参数(INCAR,KPOINTS,POTCAR)来对用户给定的原胞做结构优化和静态计算,该计算得到的总能与MP数据库的总能是可比的。此步骤是为了得到影响ZnGeP2
    的头像 发表于 05-19 10:35 680次阅读
    <b class='flag-5'>ZnGeP2</b>的<b class='flag-5'>本</b><b class='flag-5'>征</b><b class='flag-5'>缺陷</b><b class='flag-5'>计算</b>之TSC模块运行流程

    DASP 双钙钛矿材料稳定性的快速计算预测

    针对任一半导体,DASP软件可以计算给出如下性质:热力学稳定性、元素化学势空间的稳定范围、缺陷(含杂质,下同)形成能、缺陷转变能级、各生长条件下的费米能级、载流子和缺陷浓度、
    的头像 发表于 05-24 10:15 634次阅读
    DASP 双钙钛矿材料稳定性的快速<b class='flag-5'>计算</b>预测

    GaN中 (C_N) 缺陷辐射俘获系数计算(上)

    DASP (Defect and Dopant ab-initio Simulation Package)是一款半导体缺陷和杂质性质的第一性原理计算模拟软件包,该软件包能针对输入的半导体晶体结构
    的头像 发表于 05-25 09:17 1210次阅读
    GaN中 (C_N) <b class='flag-5'>缺陷</b>的<b class='flag-5'>非</b><b class='flag-5'>辐射</b><b class='flag-5'>俘获</b><b class='flag-5'>系数</b><b class='flag-5'>计算</b>(上)

    DASP GaN中 (C_N) 缺陷辐射俘获系数计算

    ,基于材料基因组数据库和第一性原理软件包,自动计算并输出半导体的热力学稳定性,缺陷和杂质形成能及离化能级,半导体样品中缺陷、杂质和载流子浓度及费米能级,关键缺陷和杂质诱导的光致发光谱、
    的头像 发表于 05-26 10:49 826次阅读
    DASP GaN中 (C_N) <b class='flag-5'>缺陷</b>的<b class='flag-5'>非</b><b class='flag-5'>辐射</b><b class='flag-5'>俘获</b><b class='flag-5'>系数</b><b class='flag-5'>计算</b>