0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

新思科技联合台积公司和Ansys升级Multi-Die全方位解决方案,推动系统级创新

新思科技 来源:未知 2023-05-22 22:25 次阅读

c6ac28a8-f8ab-11ed-90ce-dac502259ad0.gif
  • 三家全球领先公司紧密协作,以应对基于台积公司先进技术的设计在芯片、封装和系统等方面的挑战。

新思科技近日宣布,携手台积公司和Ansys持续加强多裸晶芯片系统设计与制造方面的合作,助力加速异构芯片集成以实现下一阶段的系统可扩展性和功能。得益于与台积公司在3DFabric技术和3Dblox标准中的合作,新思科技能够为台积公司先进的7纳米、5纳米和3纳米工艺技术上的多裸晶芯片系统设计,提供业界领先的全方位EDA和IP解决方案。台积公司先进工艺技术集成了新思科技实现和签核解决方案以及Ansys多物理场分析技术,助力开发者从容应对多裸晶芯片系统中从早期探索到架构设计中签核功耗、信号和热完整性分析等严苛挑战。

c6b39502-f8ab-11ed-90ce-dac502259ad0.png

多裸晶芯片系统提供了一种实现更低功耗、更小面积及更高性能的方法,打开了面向系统级创新时代的大门。我们与新思科技、Ansys等开放创新平台(OIP,Open Innovation Platform)生态系统合作伙伴长期密切合作,通过专为台积公司先进技术优化的全方位EDA和IP解决方案,助力共同客户加速实现多裸晶芯片系统的成功。

Dan Kochpatcharin

设计基础架构管理事业部负责人

台积公司

芯片设计向多裸晶芯片系统的发展拐点,在于解决功耗、热完整性和可靠性签核等方面的全新挑战。通过集成的方式和强大的生态系统,我们能够提供全方位解决方案来应对日益复杂的挑战。基于我们与新思科技、台积公司的合作,开发者可以采用业界领先的多裸晶芯片解决方案,并充分利用我们数十年专业技术加速实现芯片成功。

John Lee

副总裁兼总经理

Ansys

向多裸晶芯片系统的演进对半导体产业产生了深远的变革,产业亟需一个整体的解决方案来处理die-to-die连接、多物理场效应和芯片/封装协同设计问题。新思科技与台积公司、Ansys紧密协作,提供了引领行业的全方位、可扩展且值得信赖的解决方案,助力加速异构集成并降低设计风险。

Sanjay Bali

EDA事业部营销和战略副总裁

新思科技

c6ca86e0-f8ab-11ed-90ce-dac502259ad0.png

全方位解决方案助力多裸晶芯片系统成功

与单片片上系统(SoC)不同,多裸晶芯片系统具有高度的相互依赖性,必须从系统级角度来开发。新思科技多裸晶系统解决方案能够实现早期架构探索、快速软件开发和系统验证、高效的芯片/封装协同设计、强大且安全的die-to-die连接,并具有更卓越的制造和可靠性。新思科技与台积公司、Ansys合作的主要亮点包括:

  • 新思科技3DIC Compiler是一个统一的多裸晶芯片封装协同设计与分析平台,与台积公司3Dblox标准和3DFabric技术无缝集成,用于3D系统集成、先进封装以及完整的“探索到签核”实施。
  • 新思科技设计签核解决方案经台积公司技术认证,并与Ansys RedHawk-SC电热多物理场技术集成,可解决多裸晶芯片系统中关键的功耗和热签核问题。
  • 新思科技UCIe PHY IP核已在台积公司N3E工艺中成功流片。UCIe有望成为低延迟和安全的die-to-die连接的事实标准。 点击阅读原文,进一步了解新思科技多裸晶芯片系统解决方案


声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 新思科技
    +关注

    关注

    5

    文章

    736

    浏览量

    50120

原文标题:新思科技联合台积公司和Ansys升级Multi-Die全方位解决方案,推动系统级创新

文章出处:【微信号:Synopsys_CN,微信公众号:新思科技】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    思科技与台积公司深度合作,推动芯片设计创新

     新思科技EDA事业部战略与产品管理副总裁Sanjay Bali表示:“新思科技在可投产的EDA流程和支持3Dblox标准的3DIC Compiler光子集成方面的先进成果,结合我们广泛的IP产品组合,使得我们与台积公司能够助力
    的头像 发表于 05-11 16:25 184次阅读

    是德科技联合思科技、Ansys推出了一个全新的集成射频设计迁移流程

    新设计流程在新思科技的定制化设计系列、是德科技电磁仿真平台以及 Ansys 器件合成软件的基础之上,提供了一个高效、集成的射频电路再设计解决方案
    的头像 发表于 05-10 16:33 267次阅读

    思科技计划收购Ansys,350亿美元!

    思科技和Ansys近日宣布已达成最终协议,新思科技将收购Ansys。该交易预计于2025年上半年完成,并需获得股东和监管部门的批准。
    的头像 发表于 01-17 17:00 736次阅读

    思科技将以350亿美元收购Ansys

    思科技(Synopsys)与Ansys两家业界巨头近日宣布,新思科技将以350亿美元的价格收购Ansys。这一并购计划旨在推动两家
    的头像 发表于 01-17 14:53 499次阅读

    思科技收购Ansys,引领芯片系统设计解决方案

     新思科技总裁Sassine Ghazi称,面对系统复杂性与AI、芯片需求大增以及软件定义系统等趋势的挑战,我们共计天下的EDA与Ansys严谨的仿真分析技术将引领从芯片至
    的头像 发表于 01-17 09:14 305次阅读

    如何轻松搞定高性能Multi-Die系统

    2D芯片设计中通常为二阶或三阶的效应,在Multi-Die系统升级为主要效应。
    的头像 发表于 12-19 17:24 376次阅读

    Multi-Die系统验证很难吗?Multi-Die系统验证的三大挑战

    在当今时代,摩尔定律带来的收益正在不断放缓,而Multi-Die系统提供了一种途径,通过在单个封装中集成多个异构裸片(小芯片),能够为计算密集型应用降低功耗并提高性能。
    的头像 发表于 12-12 17:19 843次阅读

    Multi-Die系统,掀起新一轮技术革命!

    利用Multi-Die系统能实现异构集成,并且利用较小Chiplet实现更高良率,更小的外形尺寸和紧凑的封装,降低系统的功耗和成本。Ansys半导体产品研发主管Murat Becer指
    的头像 发表于 11-29 16:35 447次阅读

    推动创新的汽车解决方案

    电子发烧友网站提供《推动创新的汽车解决方案.pdf》资料免费下载
    发表于 11-10 10:54 0次下载
    <b class='flag-5'>推动</b><b class='flag-5'>创新</b>的汽车<b class='flag-5'>解决方案</b>

    VCS:助力英伟达开启Multi-Die系统仿真二倍速

    但是,Multi-Die系统开发本身也有挑战,验证方面尤其困难重重。验证过程必须非常详尽,才能发现严重错误并实现高性能设计。因此,2.5D或3D芯片技术对验证过程的影响可能超乎人们的想象。
    的头像 发表于 09-26 17:38 891次阅读
    VCS:助力英伟达开启<b class='flag-5'>Multi-Die</b><b class='flag-5'>系统</b>仿真二倍速

    如何成功实现Multi-Die系统的方法学和技术

    Multi-Die系统的基础构建,亦是如此,全部都需要细致入微的架构规划。 对于复杂的Multi-Die系统而言,从最初就将架构设计得尽可能正确尤为关键。
    的头像 发表于 09-22 11:07 471次阅读

    多芯片系统成功的关键:保证可测试性

    近年来,随着摩尔定律的放缓,多芯片系统Multi-die解决方案崭露头角,为芯片功能扩展提供了一条制造良率较高的路径。
    的头像 发表于 08-16 14:43 793次阅读
    多芯片<b class='flag-5'>系统</b>成功的关键:保证可测试性

    设计更简单,运行更稳健,UCIe标准如何“拿捏”Multi-Die系统

    小芯片针对每个功能组件进行了优化。虽然Multi-Die系统具有更高的灵活性并在系统功耗和性能方面表现优异,但也带来了极高的设计复杂性。 通用芯粒互连技术(UCIe)标准于2022年3月发布,旨在
    的头像 发表于 07-14 17:45 805次阅读

    芯片也能“开天眼”?新思科技携手台积公司实现SLM PVT监控IP流片

    开发复杂芯片时,无论是单片SoC还是Multi-Die系统,都需要克服更大的工艺、电压和温度(PVT)挑战,尤其是在采用先进节点时。为了提高性能和可靠性, 片内PVT监控器 已成为这些芯片中必不可少
    的头像 发表于 07-11 17:40 678次阅读

    2023世亚数博会,世亚软博会,全方位展示数字科技创新成果

    2023世亚数博会,世亚软博会,全方位展示数字科技创新成果
    的头像 发表于 07-04 09:41 358次阅读
    2023世亚数博会,世亚软博会,<b class='flag-5'>全方位</b>展示数字科技<b class='flag-5'>创新</b>成果