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PCBA焊接润湿不良分析

新阳检测中心 来源:新阳检测中心 作者:新阳检测中心 2023-05-23 09:08 次阅读

No.1 案例概述

wKgaomRsEfeAED_mAABcxPamYnI605.jpg

PCBA出现焊接润湿不良,分析剥离的器件与PCB板,推测虚焊发生原因与助焊剂(警惕!电子产品的“隐形杀手”——助焊剂残留)相关性较大。详细分析方案,请浏览文章获知。

No.2 分析过程

# 1 X-ray 检测

wKgZomRsEfeAXKpsAAB0msiJefk422.jpg

wKgaomRsEfiAZ2VTAAEPzDRT51g821.jpg

wKgZomRsEfmAZ5hdAADID4gz76g127.jpg

说明:

器件左下角底部焊盘几乎没有或仅少量锡膏焊接,该现象具有方向性。

# 2 外观观察

wKgaomRsEfmAYVWYAACKiMArohA227.jpg

【异常外观】

wKgZomRsEfmAOq96AAA5_DIkQbA175.jpg

【正常外观】

wKgaomRsEfqAIJJdAAA3Q32h2Ag435.jpg

说明:

器件左侧焊点呈现堆积球形状。

# 3 剥离器件位置分析

1.剥离器件未进行处理时分析

PCB板侧外观观察

wKgZomRsEfqABOiEAABaFofqIWE520.jpg

wKgaomRsEfuAKmG4AAC8qTppZeQ390.jpg

器件侧外观观察

wKgZomRsEfuAeDjpAABXpyPEesE968.jpg

wKgaomRsEfyATtYqAABTRGh_sdE522.jpg

wKgZomRsEfyAAaZwAABQIvQDjfY601.jpg

wKgaomRsEf2AV7qGAABL9Zqh8e0012.jpg

说明:

剥离器件PCB板侧焊盘未被完全润湿,器件侧焊盘仅沾少量锡膏,且两侧较多松香存留。

SEM分析

wKgZomRsEf2Aa77ZAADx2p_7oAQ089.jpg

wKgaomRsEf6AcxUuAADM-F1vSPc651.jpg

EDS分析

wKgZomRsEf-AfeO6AABxn5jw0cY318.jpg

说明:

焊盘表面被松香所覆盖,检出Au、Ni元素,表明该未润湿位置镀层Au未溶蚀。

2.异丙醇清洗去除表面松香后分析

/ 测量方法 /

对剥离的器件使用异丙醇超声清洗后,去除表面松香,对底部焊接不良的两个焊盘进行分析。

金相观察

wKgaomRsEf-AEQiUAADwI9gk8Fw422.jpg

wKgZomRsEgCAW4JAAADbuZcyD7E243.jpg

wKgaomRsEgCADsMTAAC96g4XaLo510.jpg

说明:

焊盘未润湿位置局部颜色发暗。

SEM分析

wKgZomRsEgGADHDbAACvicoWxkY144.jpg

wKgaomRsEgGAI7-XAADUs63kHxE709.jpg

说明:

器件焊盘未润湿位置表面存在密密麻麻微小凸起,晶格形貌无异常。

EDS分析

wKgZomRsEgKACVdGAACHgjd0R1E880.jpg

说明:

对焊盘未润湿位置进行EDS分析,检出Ni、Au、Sn、Pd、O、P元素,表明未润湿位置曾有少量Sn附着,但焊盘表面的金镀层仍存在,即该位置在焊接过程中Au层未能熔融。

# 4 钢网开口分析

wKgaomRsEgKAMSKuAABGvsHYXcw903.jpg

说明:

1.未润湿不良点主要集中于上图所示位置(对向有少部分),该位置是助焊剂挥发气体排出的主要通道;

2.开口隔断仅0.25mm,助焊剂受热后溢出且锡膏熔化汇集,进一步导致该通道的“排气”作用减弱,造成内部气流主要引向图示不良点位,形成“抬起”效应。

No.3分析结果

未润湿失效点位置具有倾向性,基本集中在左下角位置,如下图所示:

wKgZomRsEgOAa_AgAABb5quHkWo875.jpg

未润湿的焊盘表面金层未溶蚀,说明锡膏熔化之后,该焊盘未与液态锡充分接触,进而芯片引脚部位发生翘起,锡膏与焊盘分离;

PCB板材为铝材质,器件封装主要为玻璃材质,二者都不容易发生形变,排除因形变引发的翘起;

通过对钢网开口的分析判断,目前失效点位置是受助焊剂挥发气流影响最大的位置。大量挥发的气体,会将芯片“抬起”,造成图示位置的轻微起翘。

综合以上分析:

推测该焊接不良是由于大量助焊剂气体挥发,其产生的气泡集中由排气孔散出,造成芯片起翘,使芯片焊盘与锡不能充分接触造成虚焊。

No.4 改善方案

建议改善钢网开口方式

1.内部九宫格开口;

2.增加隔断,所有的隔断宽度增加为0.4mm。

wKgaomRsEgOAIs0pAAA2T-SlsQI190.jpg

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审核编辑黄宇

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