模拟集成电路测试方法

模拟集成电路包括运算放大器、滤波器、电源管理电路、模拟开关、PLL、射频前端等，其典型参数包括泄漏电流、基准电压、阻抗、增益、灵敏度、纹波抑制、频率或相位响应、谐波、互调失真、串扰、信噪比、噪声系数等。

与数字集成电路相比，模拟集成电路中的晶体管较少，其参数范圃是连续的，缺之良好的故障模型，不存在可拆分的子电路，测试仪器仪表的引脚负载、接口阻抗、噪声等均会导致测量误差，因此模拟集成电路的测试更加困难。

下图所示的是基于功能的模拟集成电路测试方法，该方法不需要故障模型，便于处理。由于模拟集成电路缺三良好的故障模型，且结构模拟故障与功能映射并不理想，因此模拟集成电路结构测试方法尚未得到广泛应用。

传统的模拟集成电路测试方法存在参数多，测试时间长，激励与响应很难同步，噪声处理复杂等问题。随着技术的进步和软硬件成本的降低，基于数宇信号处理器（DSP）的功能测试方法得以广泛应用。下图所示的是基于DSP 的模拟集成电路测试架构图，其校心部件是任意波形发生器、波形数字化仪和 DSP。

基于DSP 的测试方法将模拟信号数字化，使得仪器串扰、噪声、漂移大大减少；同时，利用多次数字化采样，提高了测试精度，重复性更好，是一种更佳的测试方案。但是，如果测试参数单一，其测试成本比传统的高。

模拟集成电路的 DFT 和内建自测试（BIST）设计比较滞后。IEEE 1149.4提出了一种针对模拟集成电路扩充的边界扫描方法，但目前尚无业界认可的模拟信号性能测试的可行的方案。在模拟信号 BIST 领域，需要投人更多的精力进行研究，以降低对高性能复杂模拟自动测试系统（ATE）的需求。

审核编辑：汤梓红