如何利用ADE Assembler检查电路中的floating gate？

上一次分享的关于floating gate检查的内容有不少人反映操作步骤很多，有时候按照步骤一步步来可以把流程走通，但是抛开教程就无从下手，所以这里再次分享一个简单一点的版本，希望帮助大家完善设计流程。

实现思路

虽说是简化版本，其实本质还是一样，只是把繁琐的gui步骤换成了文本激励，文本激励可以很容易迁移，基本上只需要针对性地写一次check项所需要的激励就可以在所有项目中重复使用。

了解cadence仿真文件的同学可以动手在gui界面设置一下floating gate检查，然后生成仿真网表，可以看到网表中会多出一部分关于Checks/Asserts的内容，这个就是进行floating gate检查的激励，所以如果不想进行gui设置，可以直接写好floating gate检查的激励，然后添加到仿真网表中即可。

实现方法

首先在gui界面设置好通用的highz check项目，并跑通流程，确认无误之后进行下一步操作。

设置highz check项目

确认仿真没有问题之后，按照下图生成highz check所需要的激励文件，并保存在自己方便的路径下，文件名随意。

保存highz check的激励

获得highz check所需要的激励文件之后，同学们可以打开文件，看到这个激励文件不过是把刚刚在gui界面里面的设置转换成了文本格式。

需要注意：Assembler 直接生成的highz check文件无法被直接使用，需要用户简单修改，在文本文件的中括号前面加上转义符号【】,得到的激励文件应该如下图所示。

编辑highz check的激励文件

最后一步，在需要进行highz check仿真时，用下面的方法将highz check的激励添加给仿真器即可。

添加highz check激励文件

不再需要其它任何设置（不需要手动设置Checks/Asserts项目），按照正常步骤运行仿真，仿真器会自动识别到用户添加了highz check的激励，并按照激励中的设置，进行highz check仿真。

仿真结束，用户在Assembler软件结果输出栏，选择Checks/Asserts一项，即可查看highz check的结果，如下图所示。

以上就是简化后的highz check流程，用文本激励的方式很容易实现激励文本复用，为用户节省大量时间，同时也大大降低了繁琐的gui设置过程中出错的概率，欢迎试用。

优化激励文件

进行过floating gate检查的同学可能都会苦于结果查看，默认状态下highz check会报出所有可能的结果，包括diode接法的MOS管等。

如果仿真中发现有很多floating gate的结果报出来，并且有不少是不必要的结果，那么可以按照下面教程中的方法，给highz check激励加filter, 减少无效的结果，方便快速定位真实的违例。

给激励添加filter

在激励中加入filter之后，可以大大减少无效的结果报出，提高floating gate检查的效率。

审核编辑：汤梓红