在PCB尺寸测量过程中,您是否有这样的困扰?
1.CNC时只能逐个测量产品;2.批量测量时需要反复定位;3.所需测量的特征越多,时间越长。
针对以上痛点难点,中图仪器VX9000系列光学扫描成像测量机轻松解决。1.测量前无需建立坐标系,支持任意方向摆放产品;2.支持CAD、Gerber文件导入直接用作测量模板;3.测量200个特征和测量10个特征所花时间相差无几!
通过一组对比测试,让我们切身感受VX9000系列光学扫描成像测量机的效率。
取6片板用VX9000系列光学扫描成像测量机和全自动影像仪分别测试,单片板尺寸:180mm*150mm,每片板需测100个尺寸数据。
测量设备 | VX9000光学扫描成像测量机 | 全自动影像仪(二次元) |
测量效率 说明 | 1、无需定位; 2、无需建坐标系便可进入程序自动测量; 3、六片板放在台面上同时进行测量; | 1.六片板需要依次测量,每个数据需要大部分抓取1.3组像素(点、线、弧); 2、每次上板后需在确认坐标系后方可进行程序测量; |
总耗时:扫描时间+数据运算+上下板时间为:72x2(双图层)+10(数据输出)=154秒(2分34秒)。 | 总耗时:(抓点时间+相机移动时间+上下板时间+数据输出时间)×6=(130+50+10+5)×6=1170秒(19.5分钟)。 | |
通过测试速度对比,可以看出一台VX9000光学扫描成像测量机产能相当于7.5台全自动影像仪效率,根据实际经验:板内需测尺寸越多,则相比于全自动影像仪,设备提升的效率越高。 |
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。
举报投诉
-
pcb
+关注
关注
4329文章
23188浏览量
400573
发布评论请先 登录
相关推荐
PCB拼板尺寸知多少?SMT贴片加工全解析
一站式PCBA智造厂家今天为大家讲讲SMT贴片加工对PCB拼板尺寸有什么要求?SMT贴片加工对PCB拼板尺寸的要求。在SMT贴片加工
ADS1258调试过程中,8PIN用示波器测量不到信号,为什么?
目前在使用ADS1258这颗片子,时钟使用的是外部时钟,时钟电路由32.768Khz和12pf匹配电容组成,在调试过程中发现一个问题,时钟引脚8、9脚中,用示波器只能
发表于 12-23 06:46
AFE4403 TX3静态模式,有没有办法实现在一个测量过程中,LED1,LED2,LED3依次点亮并采集数据?
时,都需要重新烧录程序,有没有办法实现在一个测量过程中,LED1,LED2,LED3依次点亮并采集数据。如果不能的话,我想请问一些您这个芯片在技术手册第一页写的”可支持 3 个 LED“的意义在哪?
发表于 11-14 07:58
定华雷达仪表学堂:雷达物位计在测量过程中出现几种干扰源
一下雷达物位计在测量过程中产生干扰的具体因素都有哪些。 一、雷达物位计在测量过程中,常见的干扰可分为两种:直流和交流干扰。 1、直流干扰 在
用OPA857做了跨阻放大器,在测量过程出现了放大波形失真的情况,怎么解决?
本人用OPA857做了跨阻放大器,在测试过程中使用电阻和一个方波信号源(电压除去电阻依旧是电流输入)。
但是在测量过程出现了放大波形失真的情况。
这是我的输入信号,20MHz方波(波
发表于 08-28 06:42
为什么PCB板在smt贴片前必须进行烘烤?
加工中,对PCB进行烘烤具有几个重要的作用: 贴片加工前对PCB进行烘烤的作用 1. 去除湿气: PCB在储存和运输
OPA4192在使用过程中,芯片发烫是什么原因导致的?
OPA4192在使用过程中,芯片发烫,我们的供电电压是正负16V,是因为供电电压太高导致的嘛?有这方面的数据嘛?
发表于 08-05 07:27
使用PSoC5LP的过程中,遇到PSoC5LP在EFT干扰时复位的问题怎么解决?
在我使用 PSoC5LP 的过程中(>8 年),我曾多次在验证测试中遇到 PSoC5LP 在 EFT 干扰时复位的问题。 大多数情况下
发表于 07-05 07:26
定华雷达知识讲堂:雷达物位计在测量过程中的干扰有哪些?
用户介绍一下DHE雷达物位计在测量过程中产生干扰的具体因素都有哪些。 一、DHE雷达物位计在测量过程中,常见的干扰可分为两种:直流干扰和交流干扰。 1、直流干扰
测量过程中如何调节检流计的灵敏度
检流计是一种高灵敏度的电流测量仪器,常用于测量微小电流。在测量过程中,根据需要调节检流计的灵敏度是确保测量准确性的重要步骤。
使用示波器如何测量频率
这两种方法都是示波器测量频率的常用方法,可以根据实际情况选择使用。同时,需要注意在测量过程中,确保示波器的设置和参数选择正确,以获得准确的测量结果。
评估Minitab 中的测量过程研究(EMP研究)
系统中的变化量。 一个类型是电磁脉冲研究(EMP),也称为惠勒方法。EMP代表评估测量过程。EMP研究评估了两种测量偏差来源: ·可重复性:当同一操作员在相同的条件下,使用相同的量具多
评论