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什么是自动测试设备(ATE)?如何进行自动化测试?

虹科卫星与无线电通信 2022-05-09 16:46 次阅读

在过去,大型生产环境和实验室是进行研发的主要场所,这导致了市场上大多数都是全功能台式设备。然而,如今越来越多的测试和验证团队正在寻找更便携、更经济高效的解决方案,他们不需要复杂的GPIB布线和专用软件。一般来说,如果没有专业技术人员,自动测试设备(ATE)的调试会很困难,而现在,测试工程师可以体验可连接常用软件平台API的编程组件的灵活性。

现状

ATE可以是利用少量设备的简单测试,也可以是大型复杂测试,包括探测站、气动自动化、以及机器人自动化等。与传统的半自动或手动测试相比,PC驱动的有源组件可以提供巨大的优势。

射频领域,矢量网络分析仪(VNA)或频谱分析仪等测试设备的接收端口数量有限,需要增加对设置的物理调整次数,以获得全面测试被测多端口设备(DUT)所需的所有探测排列。所有这些测试设置排列不可避免地增加了成本和时间,例如,测试共有9个端口的8路RF交换机需要大量的测试迭代来收集全部81个S参数。如果没有自动开关,该测试可能会耗费大量人力。通过预先编程的内部开关排列测试DUT的每个单独S参数,标准VNA的2-4个端口足以在一次测试迭代中测试所有参数。

优势

常用的射频组件包括移相器、射频开关和数字衰减器,以及一些更复杂的测试设备,如VNA、信号发生器、脉冲发生器和功率计。通常,射频组件需要对特定输出进行手动控制,测试设备数据需要进行重新格式化,以便用于分析和共享数据。

例如,数字衰减器传统上由晶体管-晶体管逻辑(TTL)控制,其中低电压产生0的逻辑电平,高电压产生1的逻辑电平。这些逻辑电平决定了数字衰减器中用于产生所需衰减的路径。这种方法需要复杂的编程、TTL驱动程序和大量的互连。而类似虹科数字衰减器这样的USB设备,可以消除这种复杂性。它的衰减级别可以直接编程,无需TTL连接,只需一个USB连接即可。

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通常情况下,测试可能需要工程师监控和调整各种各样的输出,以实现要求,跟踪所有旋钮、按钮、适配器和插头有时可能会容易出现人为错误。虹科提供了软件平台和操作指南,可以简化测试流程,更容易在一个控制器、笔记本电脑或计算机上进行跟踪,同时记录和分析数据的能力有助于设计和测试工程师轻松评估DUT性能。

虹科提供可编程USB驱动的射频仪器,它们具有图形用户界面(GUI)、Windows dll文件、LinuxlabVIEW兼容的驱动程序。虹科提供的USB驱动的信号发生器、数字衰减器、RF开关和移相器等设备,几乎可以成为任何自动测试设置的关键一环,小巧的尺寸也可以为那些电缆杂乱的测试环境提供更多的操作空间。

虹科HK-LDA906V-8数字衰减器是一种高精度、双向、8通道阶跃衰减器,它提供从200-6000MHz的校准衰减,步长为0.1dB,在90dB的控制范围内,典型精度<0.25 dB。该数字衰减器是一种易于携带的USB供电设备,其尺寸适合ATE应用的单个机架单元,可以用于WiMAX、3G、4G、5G、LTE、DVB和微波无线电衰落模拟器,以及工程和生产测试实验等领域。

特征

  • 可靠且可重复的固态数字衰减
  • 包括GUI、Windows和Linux SDK、LabVIEW驱动程序
  • 可编程扫描衰减和衰减曲线
  • 直接从PC或自供电集线器操作多台设备
  • 易于携带的USB供电设备
  • 尺寸适合ATE应用的单个机架单元

应用

  • WiMAX、3G、4G5G、LTE、DVB、微波无线电衰落模拟
  • 工程/生产测试
  • 自动测试设备(ATE)

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