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解决方案|半导体晶体生长测温

上海明策科技 2022-07-24 17:49 次阅读

场景 半导体晶体生长测温

要解决的问题

还原炉应用中,需多点位测温,有的点位位置较高对准目标比较困难。

升温过程中,材料状态可能发生变化,导致发射率随之发生变化导致测温失准。建议使用双色测温仪。

直拉法应用中,一般集成于内部温控系统,安装空间有限。建议使用分体光纤式设备。

需透视窗测量反应物。建议使用近红外短波测温。

场景特点 SCENE FEATURES01

反应温度需维持在高温状态(还原炉约1080℃、直拉法约为1500℃)。

02可能有较强的电磁干扰,需要使用分体式光纤设备。03

熔融石英坩埚内部反应。

04

腔室内填充保护性气体。

0f964e46-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.gif0fb01f60-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.jpg解决方案0fcd72e0-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.png核心优势IGAR 12-LO(分体光纤测温仪)

在高温/高压/电磁场等环境中,只放进一个测温镜头,通过光纤传输光信号,最大程度的减少了环境的干扰项,保证测量的准确无误。

测温范围全覆盖(300~2500℃)。

高精度,最小可精确读数到0.5%+1℃。

极短的响应时间(2ms)。

极小的光斑尺寸(最小为0.45mm)。

光纤探头耐温高达250℃。

诊断功能。

双色/单色、0/4-20mA、RS232/RS485均可切换。

0ff89470-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.pngIGAR 6-TV

具有直观的视频模式,且接线简单。

可记录视频实时图像或视频,多种格式储存。

测温量程全覆盖(100~2000℃)。

高精度,最小可精确到读数的0.4%+2℃。

可变焦镜头,可调节测距(可从210至2000mm内测温)。

设定内可调多种参数,使用多种环境需求。

技术参数

型号IGAR 12-LOIGAR 6-TV
温度范围300...3300℃100...2000℃
测量波段1.52...1.64μm波段1: 1.5...1.6μm;
波段2:2.0...2.5μm
响应时间2ms2ms
测量精度

读数的0.5%±1℃(<1500℃)

读数的0.7%±1℃(>1500℃)

测量值的0.4%±2℃(<1500℃)

测量值的0.8%(>1500℃)

重复性读数的0.3%+1℃测量值的0.2%+1℃
瞄准方式同轴激光瞄准视频瞄准,彩色图像。带有瞄准指示光圈

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