SuperViewW1白光干涉仪分辨率0.1μm,重复性0.1%,应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量要求高的领域中,可以说只有白光干涉仪才能达到微型范围内重点部位的纳米级粗糙度、轮廓等参数的测量。
![pYYBAGJmM96ARG1JAAGH-TGqEog208.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/3F/1D/pYYBAGJmM96ARG1JAAGH-TGqEog208.jpg)
对所测样品的尺寸,SuperViewW1白光干涉仪载物台XY的行程为140*110mm(可扩展),Z向测量范围最大可达10mm,但由于白光干涉仪单次测量区域比较小(以10X镜头为例,在1mm左右),因而在测量大尺寸的样品时,全检的方式需要进行拼接测量,检测效率会比较低,建议寻找样品表面的特征位置或抽取若干区域进行抽点检测,以单点或多点反映整个面的粗糙度参数。
可以测到12mm的尺寸,也可以测到更小的尺寸,XY载物台标准行程为140*110mm,局部位移精度可达亚微米级别,镜头的横向分辨率数值可达0.4um,Z向扫描电机可扫描10mm范围,纵向分辨率可达0.1nm级别,因此可测非常微小尺寸的器件。
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