优秀的产品离不开完善的测试,即使一个简单的USB接口也要确保稳定性及兼容性。不同的U盘在ARM+Linux板卡下的兼容性、速率怎么样呢?本文将为大家提供测试参考数据及详细测试步骤!
1. 测试准备
主控选用最近发布的64位Cortex-A55核心板,搭载16 bit高速DDR4 内存,最高配置为1G内存+8G存储,工作温度满足-40~85℃等级。该系列核心板外设资源丰富,支持千兆网x 2、USB2.0 x 2、UART x 5、CAN-FD x 2、SPI x 3、I2C x 2、I2S x 4、ADC x 2 等。
![1.png](https://file.elecfans.com/web2/M00/7F/35/pYYBAGOGvX2AFENcAARxuiBJuYE692.png)
图1 HD-G2UL系列核心板
U盘选用市面上常见的海康、闪迪、爱国者、金士顿品牌,部分U盘支持USB3.0模式,但受制于ARM处理器的USB2.0,其均只能工作在USB2.0模式。
![2.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX2APkN5AAB8BYgtWHI282.jpg)
2. 测试原理
2.1dd命令
1.Linux dd 命令用于读取、转换并输出数据。
2.dd 可从标准输入或文件中读取数据,根据指定的格式来转换数据,再输出到文件、设备或标准输出。
3.测试指令如下:
![3.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7F/35/pYYBAGOGvX2AZMy0AAAnNcBd6vU906.jpg)
2.2dd的相关解释
![4.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX2AXPp_AAAsz1uzHzQ979.jpg)
2.3开始测试
将U盘插入USB口后开发板会打印插入U盘时的调试信息,并自动挂载到/run/media/sda1目录下。按照测试原理中的测试方法逐个测试U盘,并记录数据。
![5.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX2AG3JOAABvZgv03Us249.jpg)
![6.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7F/35/pYYBAGOGvX2ANWqYAAA-u52e4Os390.jpg)
2.3.2闪迪USB3.0 16GB
![7.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7F/35/pYYBAGOGvX6AUvCdAABADQXInZw076.jpg)
2.3.3爱国者USB3.0 64GB
![8.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX6Ab4XQAAA_0tpwh6c450.jpg)
2.3.4金士顿USB3.0 32GB
![9.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX6ARcIfAAA_Y4R7zEM385.jpg)
2.3.5闪迪 USB2.0 1GB
![10.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX6ATT5LAAA_-n4igPw921.jpg)
2.3.6爱国者USB2.0 32GB
![11.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7F/35/pYYBAGOGvX-AWwhXAAA88HS-AIc103.jpg)
3. 测试结果
![12.jpg](https://file.elecfans.com/web2/M00/7E/A9/poYBAGOGvX-AS0qrAABP_1MoiC0593.jpg)
注:受测试环境影响,本数据可能存在偏差,仅供开发者参考。
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