我们身处在一个方便的时代,各种消费性电子产品,手机、电脑屏幕、数位点餐机等等。而这些产品的背后,都有看不到的电在驱使着神奇的科技。
而在看不到,摸不着的电力世界中。我们一向需要从碳棒测量、示波器呈现、最终到人眼观察我们想看见的波形信号。这种感觉就像强制玩传声游戏,一个传一个的情况下拿到最后的信息。如果中间有人传错了,我们就会解读到错误的信息,产生错误的行为。这本质上就是一种资源的浪费。
那实际上错误的状况,会是如何呢?
Vgs测量:
图一:Vgs ON spike
图二:Vgs OFF spike
图一、二显示波形于示波器上,但可以看到Vgs都大于30V,等于超过datasheet定义的Vgs电压上限值。理论上来说会MOS应该要损坏,或者用料上并无MOS可以符合这个条件的使用。但此现象其实很多时候都源自于示波器碳棒的设置误判问题。碳棒可能会因为测量点、接触点、准位点、地线长度、靠近磁性元件干扰等各式各样的设置问题而让示波器波无法呈现出真实的样貌。
图三:差动碳棒配置
图四:错误的测量方式:焊接MOS点为PCB版
为避免这样的状况发生,碳棒的接触上需要注意以短、明确接线、不缠绕或者靠近切换信号源为重点。
图五&图六:正确的测量方式:焊接MOS点为外壳点(Housing point)
(图七、图八:MOS正常测量下无splike波形)
(图九:测量点定义)
总结:
1)对于Mosfet,请尝试在外壳点(Housing point)测量波形(外壳和焊点的区别)。
2)对于Probe,请尽量缩短探棒量测量测线回路面积。它可以避免接收到其他的干扰信号。
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