高低温测试主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。测试设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
高低温测试是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。
高温试验详细介绍:本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准:GB/T 2423.2,IEC 60068-2-2,IEIA 364,MIL-STD-810F等。
低温试验介绍:本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准:GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364,MIL-STD-810F等。
在我们的大自然环境中,温度和湿度是不可分割的两个自然因素,不同地区由于不同的地理位置,产生的温度、湿度效应也各不相同。本试验是用来确认产品在温湿度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、湿度和曝露持续时间。
产品在生产制造时,因设计不合理、原材料或工艺措施方面的原因引起产品的质量问题概括以下:
是产品的性能参数不达标,生产的产品不符合使用要求;
第二是潜在的缺陷,这类缺陷不能用一般的测试手段发现,而需要在使用过程中逐渐地被暴露,如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空洞、芯片和管壳热阻匹配不良等等。
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