鼠标在进行CE,FCC等相关认证测试的时候经常会遇到各种EMC的问题,我们今天主要介绍鼠标产品上的ESD问题定位和解决。
ESD测试实验主要是验证设备在接受外界静电源(如带电设备,带电人体,环境静电等)所产生的直接放电或静电场干扰时的抵抗能力。测试分为空气放电和接触放电,空气放电主要是击穿绝缘层释放到大地和耦合到板子上。接触放电主要是通过测试样机上的金属结构部件直接释放静电影响设备敏感线路和芯片导致系统出现复位或死机。
鼠标ESD测试不过,我们首先要定位问题点在哪,找到问题点才能采取相应的整改措施去解决。
如何进行问题定位?在我们测试的时候要找到ESD电流进入产品的路线,空气放电多数是从产品的缝隙中打进去的,鼠标的滚轮位置,按键,拨动开关,透镜孔,上下盖结合缝隙处,电池槽,结构孔,螺丝孔这些位置都是容易打ESD fail的地方, 接触放电主要是USB口,鼠标金属滚轮,电镀滚轮(图示C处)和外壳电镀件。
所以在做ESD测试的时候就要注意观察是在那个位置出现的问题,再针对性的下对策整改。
ESD解决的主要两种方式:一个是堵,一个是疏。
堵:主要是靠结构解决,增加绝缘厚度,减少缝隙,开孔,增加爬电距离,增加防护器件。鼠标的透镜孔位置通常容易ESD fail,因为这个位置透镜和下盖之间存在着缝隙,且距离sensor的引脚又比较近,我们可以选用有较大裙边的透镜,这样可以增加爬电距离。带凹槽的大裙边透镜实物:鼠标下盖结构设计上增加凸起嵌入透镜的凹槽,可带来更好的防静电效果。
疏:主要是改善接地,减少接地阻抗,保证良好接地,使ESD放电能够尽快释放到地。对于鼠标上的USB或充电接口增加ESD防护器件,鼠标滚轮尽量避免用金属或电镀工艺。如果有用金属或电镀工艺尽量在对应的PCB板位置增加良好的接地,减小对地阻抗引导静电释放。
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