高分辨率光学链路诊断仪(OCI)基于光频域反射技术(OFDR),能轻松测试出光纤链路损耗情况。OFDR测试插损方式为,依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异,其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。
借助环形器测试大插损光路
测试样品为可调光衰减器,测试链路如图2所示:
图2.借助环形器测试大插损装置示意图
OCI测试整个光链路结果如图3,距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值,对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量,而本链路中借助环形器是透射式测量,因此实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。该位置积分回损为-25.69dB,是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。
图3.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图
使用OCI单独测试光纤环形器,损耗测试装置如图4。
图4.环形器损耗测试装置示意图
图5.OCI测试环形器结果图
测试结果如图5,从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值(实际光纤环形器光链路长度为3.72176m),回损为-2.55dB,是环形器单向累积损耗总和。因此可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。
使用功率计测试可调光衰减器插耗,测试装置如图6,测得可调光衰减器插耗为23.33dB,OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。
图6.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图
改变可调光衰减器插损,按照上述方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值,下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。
表1.OCI和功率计测试插损对比表从表1可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB,且OCI测试值均比功率计测试值大,这是由于功率计测试链路时,比OCI测试链路多一个FC法兰。
借助光纤环形器,OCI可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。
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