【前言】
在现代工业的各种应用中,经常使用带有功率元器件(MOFET、IGBT……) 当作输出的驱动电路,其中最常见、也最容易造成问题的不外乎就是会上、下交替导通的拓朴—可以是全桥也可以是半桥。
这样的拓朴在上下交替导通的期间,可能会因为各种延迟的关系而产生极为短暂的短路现象,轻则损耗变高、元件发热、效率降低,重则整个装置烧毁。
本文旨在针对IGBT 在高端(HS)与低端(LS)串联的拓朴应用中,计算出适当的开关缓冲区、也就是死区(deadtime)。
本篇借由模组内的单体元件来说明死区的计算:
【死区对逆变器(Inverter)的影响】
为了说明死区时间的影响,如下图所示:
假设输出电流先沿图中蓝字所示的方向流动,则 IGBT T1 从ON切换到OFF,而 IGBT 在短暂的死区时间后,T2 从 OFF 切换到 ON。
在有效死区时间内,两个器件都OFF,续流二极管 D2 传导输出电流、继续向输出施加负直流母线电压。
此时需要考虑另一种情况:
T1 从 OFF 切换到 ON,T2 从 ON 切换到 OFF,由于输出电流同向流动,D2 在死区时间内仍导通电流。
此时会造成T1 与T2 有短路的现象,在有效死区时间内,输出电压由输出电流的方向决定,而不是由控制信号决定。
考虑到输出电流流向与图相反的方向,电压将在T1从ON切换到OFF,T2从OFF切换到ON时出现。
对于电感性的负载(马达),选择过大的死区时间会导致系统不稳定和灾难性后果,因此,决定适当死区时间的过程是有其必要的。
死区的计算(Dead-time calculation)
死区的计算公式如下:
td_off_max is the maximum turn-off delay time
td_on_min, minimum turn-on delay time
tpdd_max, maximum propagation delay of driver
tpdd_min, minimum propagation delay of driver
1.2 safety margin value to be multiplied(1.2倍的安全馀裕值)
开关和延迟时间的定义:
td(on): from 10% of VGE to 10% of IC
tr: from 10% of IC to 90% of IC
td(off): from 90% of VGE to 90% of IC
tf: from 90% of IC to 10% of IC
栅极电阻的选择对开关延迟时间有重大影响,一般来说,电阻越高,延迟时间越长。
建议在应用中使用专用栅极电阻来测量延迟时间。
下图分别显示了开关时间与栅极电阻在不同温度下的典型曲线图。
其他参数对延迟时间的影响
除栅极电阻值外,以下参数对延迟时间也有显著影响:
集电极电流
导通延时Turn on delay time
导通延时与集电极电流之间的关系:
关断延时Turn off delay time
死区时间计算中最重要的因素是最大关断延迟时间,该值决定了最终计算出的死区时间的完整长度。
要获得最大关断延迟时间,应考虑以下条件:
步骤1:
IGBT器件本身引起的导通延迟时间持续多长时间?
测试是基于实验室的理想驱动板进行的,这意味着它不会导致延迟(最有可能是超大驱动器)。
因此,整个延迟时间都归因于IGBT器件本身,如下图所示:
步骤2
当IGBT的临界值于数据表中的最小值时,最大关断延迟时间是多少?
(这反映了模块之间的 Vth 误差)
连接一个额外的二极管来模拟 Vth 压降,二极管的压降约为 0.7–0.8 V,这与 FP40R12KT3 模块的 Vth 非常相似,如下图所示:
步骤3
驱动器输出级如何影响开关时间?
市场上的驱动器分为两类:MOSFET输出和双极晶体管(BJT)输出。
连接一个附加电阻器(Rg)以模拟具有 MOSFET 输出级的驱动器,该电阻被认为是 MOSFET 晶体管的导通电阻 Rds(on)、还有用于模拟 Vth 变化的二极管。
如下图所示:
步骤4
具有双极晶体管输出级的驱动器有何影响?
连接一个额外的二极管来模拟输出级中双极晶体管(BJT)的压降,如下图所示:
死区时间减少
要精确计算控制死区时间,请考虑以下驱动条件:
施加到 IGBT 的栅极电压是多少?
选择的栅极电阻值是多少?
驱动器有什么类型的输出级?
由于死区时间会影响逆变器性能,因此应将其保持在最低限度。有几种方法可用,下面列出了其中一些:
选择足够强大的驱动器来降低或产生峰值 IGBT 栅极电流
使用负电源加速关断
优先采用基于高速信号传输技术的驱动器,例如磁藕合无线传导技术,而不是传统光耦合器技术的驱动器
将单独的 Rgon/Rgoff 电阻器用于栅极驱动器
如下图所示:
本文仅举出了有关于计算死区的几个重要事项与说明,更详细的理论与验证法请参考下列所引用的应用笔记。
<本篇完>
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