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法国Phasics公司高精度红外/近红外波前传感器取得出口豁免,无需出口许可!

上海昊量光电设备有限公司 2023-05-31 16:55 次阅读

法国Phasics成立于2003年,提供最先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性,从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。

近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉,公司提交申请的高精度红外(3-5um &8-14um)/近红外(900-1700nm)波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案。

下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪:

1.SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器


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图1SID4-SWIR波前分析仪

SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器产品特点:

高相位分辨率:160x128 or 80x64

高重复度:<2nm RMS

高测量精度:15nm RMS

工作波段:900-1700nm

高灵敏度:可适用于低功率红外光源测试

瞬时相位测量,对振动不敏感

可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

2.SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪

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图2 SID4-DWIR波前分析仪

SID4-DWIR红外(3-5um & 8-14um)波前分析仪产品特点:

宽工作波段:3-5um & 8-14um

高相位分辨率:160x120

高重复度:25nm RMS

高测量精度:75nm RMS

对振动不敏感

可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

3.近红外 or红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统

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图3 KaleoKit红外测试模组

近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点:

多波长:266nm, 355nm, 405nm,550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm,1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um

大口径:Up to 5.1”(130mm)

高重复度精度:<0.7nm RMS

高测量精度:80nm PV

对震动不敏感

测试案例:

e0cead6c-fb5a-11ed-ba01-dac502259ad0.png图4 非球面测试结果
e1063a0c-fb5a-11ed-ba01-dac502259ad0.png图5 平面测试结果


e139e74e-fb5a-11ed-ba01-dac502259ad0.png图6 镜头透射波前测试结果
e16cb07a-fb5a-11ed-ba01-dac502259ad0.png

图7 镜头MTF测试结果

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