芯片测试座又称:IC Socket 、 IC 测试座、IC插座。
测试插座的主要起着一个连接导通的作用,用于集成电路应用功能验证。它是PCB与IC之间的静态连接器,可以让芯片的更换测试更方便,不用一直重复焊接和取下芯片,从而减少IC与PCB的损伤,以及达到快速高效的测试效果。
也许听起来比较复杂,简而言之它就是一个符合芯片测试要求的精密转接头。
今天凯智通小编就带大家一起了解下,这个小小的转接头到底精密在哪里?
我们将测试插座拆解开来,会发现它大致五个部分组成。
第一部分:芯片和芯片测试座引脚接触的部分;
第二部分:接触介质部分的结构;
第三部分:引脚引出部分;
第四部分:测试座的外部固定结构;
第五部分:材料部分,接触介质和外部结构的材料符合此款芯片的测试要求。
测试探针,是半导体测试中,最常见且十分重要的冶具。
探针结构也是采用铍铜,根据实际的测试要求表面镀层,一般应用于BGA,QFN等,探针直上直下的结构,能在原有测试主板的结构上进行机械结构的组合,在测试芯片的同时,还原测试版的原有功能。
主要用于手机等电子产品中,起连接作用。探针有锡球测试:指测试带有完整锡球的IC芯片,采用爪头探针,直接与锡球接触;无锡球测试:指测试没有锡球的Ic芯片,采用尖头探针,直接与 PAD 接触;
凯智通测试探针
探针的内部具有弹性结构,其针头的仿形使其匹配不同的需求,能够增加接触面与接触稳定性,从而降低接触阻抗,辅助测试更好地进行。
随着我国半导体事业的发展,国产探针需求逐年递增,探针行业处于高速发展阶段!
(凯智通BGA387-1.0手动探针测试座)
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