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2023高速接口发展
与技术论坛
产品从开发到最后的验证,每一个阶段都会面临回溯的要求,从而能够快速发现和解决我们在产品设计中遇到的问题,但在这个过程中,因为这样或那样的原因,往往会忽略测试点的问题,从而无法实现问题的回溯。如何在研发的每个阶段设置测试点,是研发周期的一项重要任务。
同时,在产品的开发周期中会面临不同的场景,包括芯片的测试验证,封装完之后的器件验证,传输通道的验证,接口一致性验证等等,在这些不同的场景中,需要不同的连接方法,如何确保连接的正确性以及去除影响连接的因素,本次论坛讲座将从细节出发,基于常见的测试验证场景,分享测试仪表与被测件无缝触及的经验。
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线上讲座概要
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演讲主题
■ 高速测试场景中的仪表连接挑战
■不同环境测试连接考量 - 芯片、传输线(PCB)、接口等
■ 测试连接中的那些事:共性问题分享
讲座回放
请输入
接口测试的连接
罗森伯格奚斌宏、Tektronix郭峰
(本视频时长27分钟)
传输通道(PCB微带线等)
的测试连接
罗森伯格奚斌宏、安立公司 杨东亮
(本视频时长46分钟)
芯片在板的测试连接
Tektronix郭峰
(本视频时长15分钟)
芯片的测试连接
中科睿华宋新洋
(本视频时长18分钟)
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原文标题:高速论坛讲座回放|无缝触及-高速测量环境中仪器与被测件的正确连接
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