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电子设备本身有不同类型的噪声源,包括热噪声、散粒噪声、白噪声和1/f(闪烁)噪声。1/f噪声是电流(ISD)或功率(PSD)谱密度与频率成反比的低频电子噪声。许多类型的电子元件都表现出1/f噪声,包括半导体器件、某些类型的电阻器、石墨烯等二维材料,甚至化学电池。器件尺寸越来越小,噪声成为限制器件灵敏度的关键因素;除了热噪声外,1/f噪声就成为衡量材料和器件性能的一个关键指标;实际工作中我们会通过尝试不同的工艺或器件结构来降低1/f噪声。
器件的1/f噪声是通过测量电流作为时间的函数,然后将数据转换为频域来确定的。快速傅里叶变换(FFT)是一种将时域数据转换为频域数据的常用方法。
泰克的半导体参数分析仪4200A可以通过SMU或PMU测试电流,主机软件包含FFT功能,可以将时域波形转换为频域波形,让我们方便进行1/f噪声测试。
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直播预告
本期云上大讲堂,泰克高级应用工程师 赵凯将为大家介绍:
■1/f噪声的概念和测试方法
■使用4200A进行1/f噪声测试
•测试系统的底噪
•1/f噪声测试频率范围的设定
•SMU和PMU测试示例
•提升1/f噪声测试精度的方法
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直播日程安排
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时间
2023年7月27日(周四)1430
1410
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1/f噪声测试方案详解
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1520
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互动答疑
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1530
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抢答有奖
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讲师介绍
赵凯
泰克高级应用工程师
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邮箱:china.mktg@tektronix.com
网址:tek.com.cn
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原文标题:7月27日|泰克云上大讲堂—1/f噪声测试方案详解
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